Gebraucht SENTECH SE 400ADV #9359635 zu verkaufen

SENTECH SE 400ADV ist ein fortschrittliches, hochpräzises Scanellipsometer zur Messung der Dicke und optischen Konstanten dünner Filme. Es bietet ausgezeichnete Genauigkeit und Wiederholbarkeit, so dass Benutzer Oberflächenqualität und Prozessvariation im Laufe der Zeit verfolgen können. Das Instrument verfügt über eine 2-Achsen-Drehmontageplattform, um eine breite Palette von Proben zu scannen, während seine große aktive Fläche Messungen bis zu 20 mm Durchmesser bietet. SENTECH SE400ADV verwendet eine monochromatorgesteuerte Lichtquelle, gepaart mit einem Hochleistungsspektrometer. Mit dieser Kombination werden die Veränderungen der Lichtpolarisation gemessen, die auftreten, wenn Licht von einer Probe reflektiert wird. Mit einer Vielzahl von Messwerten und Messungen kann das Gerät Probendicke, Zusammensetzung und auf der Probe vorhandene Schichten bestimmen. Das System umfasst auch eine integrierte beispielspezifische Software, die einfach zu bedienende grafische Benutzeroberflächen bietet, um eine effiziente Datenerfassung und -analyse zu gewährleisten. SE 400ADV bietet eine breite Palette von anwendbaren Materialien, wie Halbleiter, Dünnschichtschichten, Polymere und viele andere Materialien. Es ist sowohl mit transparenten als auch mit opaken Probenmaterialien kompatibel, sodass Benutzer eine Vielzahl von Filmstrukturen und Schichtdicken analysieren können. Die exakte optische Weglängenausrichtung ermöglicht eine genaue Analyse kleiner Proben mit hervorragenden Messungen kritischer Abmessungen und Dicken. Darüber hinaus verfügt das System über eine datengetriebene FilmSmart™-Technologie, die eine automatisierte Optimierung der Messhardware für jedes Muster ermöglicht, um eine maximale Genauigkeit zu gewährleisten. Darüber hinaus hat es eine schnelle und einfache Einrichtung für mehrere Proben, so dass es ideal für den Einsatz in Produktionsanlagen. Insgesamt ist SE400ADV ein zuverlässiges, präzises Scanellipsometer, das eine Reihe von Funktionen und Genauigkeiten für genaue und detaillierte Messungen von Dünnschichtschichten, Materialien und optischen Konstanten bietet.