Gebraucht SENTECH Senduro 300 #293644159 zu verkaufen

SENTECH Senduro 300 ist ein hochmodernes Ellipsometer für die Dünnschichtmesstechnik. Es wurde entwickelt, um Schichtdicke, Zusammensetzung, Dichte und andere Materialparameter mit außergewöhnlicher Genauigkeit und Präzision zu messen. Das Gerät verwendet mehrere fortgeschrittene optische Prinzipien, um den Polarisationszustand einer Probe im infraroten und sichtbaren Bereich des Spektrums zu messen. Die optische Konfiguration von Senduro 300 enthält sowohl ein hochpräzises piezoelektrisches Goniometer als auch ein interferometrisches Polarimeter. Mit dem Goniometer wird die Probe präzise gedreht und eine winkelabhängige Analyse der externen Ellipsometrieparameter durchgeführt. Entsprechend dem untersuchten Material wird der entsprechende Einfallswinkel gewählt und aus dem Zweiwinkelpolarimeter die optischen Konstanten wie Brechungsindex, Extinktionskoeffizient und komplexe dielektrische Funktion abgeleitet. SENTECH Senduro 300 ist in der Lage, eine sehr hohe Genauigkeit zu realisieren und zeichnet sich zudem durch schnelle, berührungslose Messungen aus. Die Einstellung der Probenpositionen erfolgt über eine integrierte manuelle Stufe und eine eingebaute motorisierte Stufe. Letzteres ist mit einem Regler und einem Laserpointer ausgestattet, der eine präzise Ausrichtung der Probenoberfläche ermöglicht. Neben überlegener Genauigkeit und Messgeschwindigkeit ist Senduro 300 auch mit mehreren erweiterten Softwarefunktionen ausgestattet. Beispielsweise umfasst das Ellipsometer ein automatisches Temperaturregel- und Temperaturkompensationssystem, das über einen weiten Temperaturbereich gleichbleibende Ergebnisse gewährleistet. Darüber hinaus umfasst SENTECH Senduro 300 anspruchsvolle Multi-Layer-Analysetools und eine Vielzahl von Reportbildern sowie grafische Darstellungen. Dank seiner fortschrittlichen Optik, der präzise beweglichen Stufen und der leistungsstarken Software ist Senduro 300 ein unschätzbares Charakterisierungswerkzeug für Dünnschichtmaterialien. Es ermöglicht hochgenaue und wiederholbare Messungen der Schichtdicke, Zusammensetzung und Dichte sowie eine Vielzahl anderer Parameter. Damit ist es ein wertvolles Instrument zur Qualitätssicherung in der Halbleiter- und optischen Geräteherstellung.