Gebraucht SOPRA GES-5E #293822754 zu verkaufen

SOPRA GES-5E ist ein fortschrittliches und vielseitiges Ellipsometer zur Charakterisierung optischer Eigenschaften von Dünnschichtmaterialien. Es ist die ideale Lösung für eine Vielzahl von Industrie- und Forschungsanwendungen wie Dünnschichtabscheidung, Oberflächenanalyse und Prüfung optischer Komponenten. GES-5E Ellipsometer verwendet eine Kombination aus Mikrowellen und Licht, um optische Parameter wie Brechungsindex, Extinktionskoeffizient, Filmdicke und einen oder mehrere Brechungsindizes zu messen. Es ermöglicht auch die Bestimmung von Schichtdicken und Schichtanzahl auf Substraten. Es ist hochpräzise und bietet Subnano-Genauigkeit im Bereich von 6-1000nm und ist in der Lage, einen Bereich von Wellenlängenmessungen von 0,6-1000 µm. Die fortschrittlichen optischen Eigenschaften von SOPRA GES-5E es ermöglichen, in einer Vielzahl von industriellen, technologischen und Forschungsanwendungen verwendet werden. Es kann verwendet werden, um die Eigenschaften optischer Komponenten wie Wellenleiter, Linsen, Spiegel und Prismen zu testen. Es wird auch zur Prüfung auf Verunreinigungen auf Oberflächen, zur Charakterisierung von Oberflächenrauhigkeit, Porosität und anderen Oberflächenparametern sowie zur Messung der Filmabscheidung in Vakuumanwendungen und Durch-den-Film-Brechungsindexmessungen verwendet. GES-5E Design macht es schnell und einfach zu bedienen, mit einem automatisierten Ausrichtungsprozess, einer optimierten Benutzeroberfläche und der Flexibilität, Einstellungen für bestimmte Anwendungen anzupassen. Es ist auch hochmodular mit einer Reihe von Zubehörteilen, die es für das Labor oder für das Feld geeignet machen, einschließlich einer optionalen Temperaturkontrolleinheit für die thermische Probenbehandlung und einem Stromversorgungsmodul für den Fernbetrieb. Abschließend ist SOPRA GES-5E Ellipsometer ein fortschrittliches und vielseitiges Ellipsometer, das sich ideal für eine Reihe von industriellen, technologischen und Forschungsanwendungen eignet. Es bietet beispiellose Präzision und Genauigkeit, ist benutzerfreundlich und hoch modular und ist ein wesentlicher Bestandteil für die Charakterisierung optischer Eigenschaften von Dünnschichtmaterialien.