Gebraucht SOPRA GES-5E #9299487 zu verkaufen
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SOPRA GES-5E ist ein Ellipsometer, ein Gerät, das die Veränderung der Polarisation von Licht misst, nachdem es mit einer Probe interagiert hat. Es wurde entwickelt, um die optischen Eigenschaften dünner Filme mit einer Genauigkeit von 5 Angström in der Dicke und 0,01 Prozent im Brechungsindex zu messen und kann für eine Vielzahl von Anwendungen in der Materialwissenschaft und -prüfung wie Dünnschichtabscheidung, Filmwachstum, Fehleranalyse, Kontaminationsüberwachung und Filmspannungsmessung verwendet werden. GES-5E verfügt über eine zirkular polarisierbare Laserquelle und einen Detektor, der sowohl für Polarisation als auch Wellenlänge empfindlich ist, wodurch Messungen schnell und präzise erzielt werden können. Das Gerät ist auf einem Nanopositionierungssystem montiert, das präzise Scanbewegungen in x-, y- und z-Richtung ermöglicht, und das System kann für eine schnelle Datenerfassung computergesteuert werden. SOPRA GES-5E verwendet sowohl spektrale Domänen- als auch räumliche Domänentechniken, um Daten aus der Probe zu sammeln. Die spektrale Domänenellipsometrie dient zur Messung der spektralen Eigenschaften der Probe, wie ihrer optischen Konstanten und ihrer optischen Dünnschichtparameter, während die räumliche Domänenellipsometrie Informationen über ihre Morphologie und Zusammensetzung erhält. Durch den Einsatz beider Techniken liefert GES-5E detaillierte Charakterisierungen der optischen Eigenschaften der Probe. SOPRA GES-5E verfügt auch über fortschrittliche Software zur Manipulation der gesammelten Daten und zur Datenanalyse. Die Software bietet mehrere erweiterte Tools, wie eine leistungsstarke Importfunktion, die die Verarbeitung von Daten aller Art von Drittanbietern ermöglicht, die Möglichkeit, Oberflächenmodelle zu simulieren, interaktives Graphing zum Plotten von Daten und die Generierung von Bibliotheksspektralscans zum Vergleich und Modellieren. GES-5E ist unglaublich vielseitig und kann in einer Vielzahl von Umgebungen wie einem Labor, einer Produktionslinie, einer Forschungseinrichtung oder einer Bildungseinrichtung eingesetzt werden. Seine hohe Genauigkeit, Vielseitigkeit und Portabilität machen es ideal für Dünnschichtcharakteristiken.
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