Gebraucht SOPRA GES-5E #9401838 zu verkaufen

SOPRA GES-5E ist ein Ellipsometer, ein Instrument zur Analyse dünner Filme und Schichten durch Messung und Analyse der Polarisationsänderung eines Lichtstrahls. Dieses Modell gilt als vielseitig, intuitiv und zuverlässig und wird verwendet, um Probendicken zwischen 20 Nanometern und 2000 Nanometern zu messen und gegebene Filme mit einer hohen Genauigkeit zu untersuchen. Die Vorrichtung arbeitet nach den Prinzipien der Ellipsometrie, wo Veränderungen in der Polarisation eines Lichtstrahls durch unterschiedliche Materialschichten und deren jeweilige optische Eigenschaften interpretiert werden, um genaue Daten zu liefern. Es wird ein bekannter Einfallswinkel angestrebt, dann wird die Polarisation des Strahls mit einer Doppeldetektoranordnung gemessen. Die Detektoren erfassen die Intensität der Streustrahlung, die dann von einem leistungsstarken ARM-Prozessor verarbeitet wird, zusammen mit ausgeklügelten Algorithmen und Software, was zur Bildung eines Graphen führt. Dieser Graph zeigt den Messwert der Polarisationsänderung für das vorgegebene Material und seine Dicke an. GES-5E ist ein benutzerfreundliches All-in-One-Design mit einem integrierten Datenanalyse-Computer und Touch-Panel-Benutzeroberfläche, bestehend aus einer einfach zu bedienenden grafischen Oberfläche und Satz von Anwendungssoftware. Neben der Anzeige, Datenanalyse und Berichterstattung ermöglicht diese Schnittstelle auch den Zugriff auf alle Einstellungen und Parameter. Die Einheit weist einen mechanischen Tragarm auf, der es dem Benutzer ermöglicht, den Strahlfleck in eine beliebige Fläche auf der Probenstufe zu positionieren und den gleichen Einfallswinkel innerhalb eines Grades einzuhalten. Dadurch wird eine hohe Genauigkeit des Geräts bei der Messung der optischen Konstanten der Probenoberfläche gewährleistet. SOPRA GES-5E ist mit Quarzhalogenlampe für hohe Intensität einfallende Wellenlänge und einem Dual-Detektor Spektralbereich von 350nm bis 1000nm ausgestattet. Es bietet auch eine breite Palette von Messfunktionen, einschließlich Rohdatenanzeige, dynamisches Mapping und Vollbereichsparametermessungen. Seine intuitive Bedienung macht es zu einer idealen Wahl für Forscher, Ingenieure und Anwender in verschiedenen Bereichen wie Materialforschung, Halbleiter und Optik.