Gebraucht TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 with K2IND/Nikon #9126174 zu verkaufen

TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 with K2IND/Nikon
ID: 9126174
Wafer inspection system.
TECHNICAL INSTRUMENT Unternehmen KMS 300 mit K2IND/Nikon ist ein Ellipsometer, das für die Analyse von Oberflächen und dünnen Schichten verwendet wird. Es misst die Reflexion und Brechung von Licht an einer Grenzfläche, um den Brechungswinkel, die Dicke und die optischen Konstanten des untersuchten Materials zu bestimmen. Die KMS 300 ist ein integriertes, automatisiertes Instrument, das eine ganze Reihe von Analysefunktionen und Funktionen bietet, einschließlich der Messung von In-situ-Filmen mit der K2IND Software. Der KMS 300 nutzt die proprietäre K2IND-Technologie von Nikon, die die ausgeklügelte optische Technologie eines Mikroskops mit einem ausgeklügelten Datenerfassungsgerät kombiniert, um Anwendern hochgenaue und detaillierte Analysen zu ermöglichen. Der KMS 300 ist für den Einsatz in Forschung, Entwicklung und Produktion konzipiert. Die KMS 300 verfügt über ein Autofokusobjektiv und ein automatisiertes Kalibriersystem, mit dem Anwender ihr Experiment schnell und effizient einrichten können. Das Gerät enthält einen Scanhead, der eine Vielzahl von Probengrößen und Materialien scannen kann. Mit dem Scanhead können auch mehrere Wellenbänder, von UV bis IR, gleichzeitig gesammelt werden. Die Maschine bietet auch manuelle Muster Ebenheit Korrektur und automatisierte Foliendicke Karten für mehr Genauigkeit. Das KMS 300 verwendet eine Probenbeleuchtungsquelle, die mit einem bildgebenden Werkzeug gekoppelt ist, um das reflektierte Licht von der Probenoberfläche zu erfassen. Das gewonnene Licht wird dann mit dem schnelllaufenden Digitalsignalverarbeiter (DSP) bearbeitet, um den Winkel der Brechung und die optischen Eigenschaften des Beispielmaterials zu bestimmen. Die Anlage nutzt einen hochempfindlichen Detektor, um Daten über eine breite Palette von Probendicken zu sammeln und kann sowohl transmissive als auch reflektierende dünne Filme bis zu einer Dicke von 50 nm messen. Die KMS 300 ist in der Lage, Messungen unter einem breiten Spektrum von Umgebungstemperaturen und Feuchtigkeitseinstellungen durchzuführen, bis zu 85 ° C und 95% relative Luftfeuchtigkeit, so dass es ideal für Forschung und Entwicklung Anwendungen. Das Modell ist auch benutzerfreundlich gestaltet und enthält eine farbige grafische Benutzeroberfläche und selbstführende Tutorials für minimale Benutzerführung, um die Benutzererfahrung zu verbessern. Die KMS 300 ist ein fortschrittliches Forschungsinstrument, das sich ideal für Forscher und Ingenieure eignet, die eine hochgenaue und zuverlässige Analyse von Dünnschichten benötigen. Es ist robust, präzise und in der Lage, zuverlässige Ergebnisse zu liefern, ohne dass eine umfangreiche Kalibrierung und Wartung erforderlich ist.
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