Gebraucht HITACHI M 8170 XT #9137307 zu verkaufen

HITACHI M8170 XT Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Hochleistungs-Elektronenmikroskop für fortgeschrittene Forschung und Bildgebung. Es verwendet eine Dual-Strahl-Technologie, um die Manipulation von dreidimensionalen Strukturen bei nanometrischen Auflösungen zu ermöglichen. Dieses hochmoderne Elektronenmikroskop verfügt über eine Hochleistungssäule, die mit einer Vielzahl von High-End-Detektoren kombiniert wird. M8170 XT verfügt über eine integrierte hochauflösende Feldemissionselektronenkanone (EGE), die bis zu 5kV betrieben werden kann, so dass sie für vielseitige Anwendungen eingesetzt werden kann. Das Mikroskop verfügt außerdem über eine 10kV Elektronenkanone zur präzisen Probenbildgebung und eine Nullneigungsmikroskopstufe zur hochauflösenden Bildgebung. Die chrombeschichtete EGE kann zur Mikrostrukturbeobachtung und Artanalyse von Lichtelementen wie Kohlenstoff und Sauerstoff eingesetzt werden. Durch den Einsatz des Hochleistungsobjektivsystems und der EGE kann HITACHI M8170 XT eine erstaunlich hohe räumliche Auflösung von < 1 nm erreichen. Die hochauflösende Abbildung des Objektivsystems bietet eine Auflösung von 0,7 nm in der Rückstreuung und 0,25 nm in Sekundärelektronen. Dadurch wird sichergestellt, dass Sie detaillierte Informationen über Proben erfassen können, ohne die Auflösung in der Bildgebung zu beeinträchtigen. Darüber hinaus unterstützt M8170 XT den Einsatz photothermischer Anregung, bei der ein ultraschneller Laserpulsimpuls verwendet wird, um nanoskalige Abbildungsfähigkeiten zu erhalten. Es kann auch verwendet werden, um die Verteilung von Elementelementen in der Probe mit hoher Präzision abzubilden. HITACHI M8170 XT ist auch sehr anpassungsfähig für komplexe Probencharakterisierung. Seine Rasterplattform bietet multimodales Scannen mit elektronenstrahlinduzierter Abscheidung (EBID), Energy Dispersive Röntgenanalyse (EDXA) und Energy Filtering Transmission Electron Microscopy (EFTEM). Dadurch kann sich der Anwender für den besten Ansatz für seine Proben entscheiden. Die erweiterte Steuerung von M8170 XT hat mehrere Funktionen wie automatische Fokus, automatische SEM-Bilderfassung und Auto-Scan-Größe Option. Dies bietet eine qualitativ hochwertige Bildgebung jedes Mal, wenn Sie Nanostrukturen im Detail betrachten möchten. HITACHI M8170 XT Rasterelektronenmikroskop ist ein vielseitiges Werkzeug für fortgeschrittene Forschung und Bildgebung. Es verfügt über ein Hochleistungslinsensystem, eine hochauflösende Feldemissionselektronenkanone und eine Reihe von High-End-Detektoren. Dieses Elektronenmikroskop bietet eine erstaunliche räumliche Auflösung von < 1 nm und ermöglicht das multimodale Scannen von Probenoberflächen mit EBID, EDXA und EFTEM. Darüber hinaus kann es auch zur photothermischen Anregung verwendet werden, um nanoskalige Abbildungsfähigkeiten bereitzustellen. Schließlich ist es auch sehr benutzerfreundlich mit automatischem Fokus, automatische SEM-Bilderfassung und Auto-Scan-Größe Option macht es zu einem hervorragenden Werkzeug für fortgeschrittene Bildgebung.