Gebraucht ADVANTEST T 2000 #9165412 zu verkaufen

Hersteller
ADVANTEST
Modell
T 2000
ID: 9165412
Weinlese: 2013
Tester Configuration: Board Module (8) DPS 500mA (22) 800Mbps DM (2) LCDPS (2) BBWGD (4) PMU32 (2) AAWGD (1) RC5V Module information: [MODULE] [SLOT] [BUS] [CHANNEL] LCDPS 5 5 1 - 8 LCDPS 48 28 9 - 16 AnalogSync 26 17 EXIST DPS500mA 6 6 1 - 32 DPS500mA 32 12 33 - 64 DPS500mA 33 13 65 - 96 DPS500mA 20 23 97 - 128 DPS500mA 9 35 129 - 160 DPS500mA 19 49 161 - 192 DPS500mA 46 55 193 - 224 DPS500mA 43 58 225 - 256 SyncGen36 1 1 EXIST JMM 52 24 1 - 8 BBWGD 35 41 1 - 32 BBWGD 17 51 33 - 64 DM800MBPS 2 2 1 - 128 DM800MBPS 3 3 129 - 256 DM800MBPS 4 4 257 - 384 DM800MBPS 28 8 385 - 512 DM800MBPS 29 9 513 - 640 DM800MBPS 30 10 641 - 768 DM800MBPS 31 11 769 - 896 DM800MBPS 25 18 897 - 1024 DM800MBPS 24 19 1025 - 1152 DM800MBPS 23 20 1153 - 1280 DM800MBPS 22 21 1281 - 1408 DM800MBPS 51 25 1409 - 1536 DM800MBPS 50 26 1537 - 1664 DM800MBPS 49 27 1665 - 1792 DM800MBPS 12 38 1793 - 1920 DM800MBPS 13 39 1921 - 2048 DM800MBPS 38 44 2049 - 2176 DM800MBPS 39 45 2177 - 2304 DM800MBPS 15 53 2305 - 2432 DM800MBPS 14 54 2433 - 2560 DM800MBPS 41 60 2561 - 2688 DM800MBPS 40 61 2689 - 2816 AAWGD 36 42 1 - 32 AAWGD 16 52 33 - 64 PMU32 7 33 1 - 32 PMU32 10 36 33 - 64 PMU32 45 56 65 - 96 PMU32 42 59 97 - 128 SyncMtx36 56 - EXIST SyncMtx36 54 - EXIST 2013 vintage.
ADVANTEST T 2000 ist ein Final Test-Gerät, das zur Durchführung abschließender Tests an integrierten Schaltungen (IC) und System on Chips (SOC) verwendet wird. Es ist eine modulare Plattform, die die neueste Testtechnologie und Testdienste verwendet, um qualitativ hochwertige Tests zu gewährleisten. Das Gerät wurde entwickelt, um die Bedürfnisse der großen und kleinen IC- und SOC-Hersteller und Testhäuser zu erfüllen. ADVANTEST T2000 bietet eine breite Palette von Funktionen, um die Qualität zu maximieren und gleichzeitig schnellen Durchsatz und Kosteneffizienz zu erhalten. Es verfügt über einen Hochgeschwindigkeits-Maschinenbus und eine Testarchitektur, die Tests an mehreren Standorten, hohe Durchsatzraten und Zuverlässigkeit ermöglicht. Das Werkzeug verfügt über ein analoges Hochgeschwindigkeits-Messmodul, eine High-Density-Sondenkarte und kann für mehrere DUTs konfiguriert werden. Das Asset steuert eine breite Palette von Teststrategien, die die Prüfung parametrischer Eigenschaften, Stromzuführungen und Verbindungsdrähte sowie Isolationstests umfassen. Es hat auch eingebaute Unterstützung für verschiedene Test-Algorithmen und Teststrukturen, was zu einer besseren Genauigkeit und Umfassbarkeit der Tests. Dies bietet eine höhere Produktionsqualität. Das Modell bietet auch erweiterte Fehlerinspektionsmöglichkeiten. Sein optischer Defektdetektor kann Schwachsignalschalter und Fehlbedienungen von DUTs schnell identifizieren. Das Gerät bietet auch eine Inline-Messtechnik für umfassende Tests, die auch kleinere Mängel erkennen kann. T 2000 ist auf Flexibilität optimiert und ermöglicht die gleichzeitige Prüfung mehrerer Produktkategorien. Es ist auch in der Lage, Automatic Test Program Generation (ATPG), die den Aufwand für die Programmierung und Wartung von Testprogrammen minimiert. Das System verfügt auch über eine Test Flexibility Architecture (TFA). Diese Architektur basiert auf einem Virtualization Overlay, das es dem Gerät ermöglicht, sich dynamisch an Änderungen in Logik, Paket, Testanforderungen und Testmethoden anzupassen. Das Overlay ermöglicht auch die Prüfung und Synthese von Datenverbindungsschnittstellen. Schließlich lässt sich die Maschine problemlos in die Testlaborautomatisierung integrieren, was eine globale Test- und Werkzeugüberwachung ermöglicht. Dadurch lassen sich Testergebnisse von verschiedenen Standorten schnell messen, analysieren und vergleichen sowie Berichte und generierte Daten verwalten. Zusammenfassend ist T2000 Final Test Asset ein umfassendes und flexibles Modell, das IC- und SOC-Herstellern eine breite Palette von Testdiensten und -fähigkeiten bietet. Es bietet hohe Durchsatzraten, Zuverlässigkeit und Genauigkeit sowie erweiterte Fehlerinspektionsmöglichkeiten. Darüber hinaus ermöglicht die Test Flexibility Architecture eine einfache Anpassung an sich ändernde Logik- und Testanforderungen und lässt sich problemlos in Testlabor-Automatisierungssysteme integrieren.
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