Gebraucht ADVANTEST T 5335P #9178728 zu verkaufen
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ID: 9178728
Wafergröße: 12"
Weinlese: 1996
Memory tester, 12"
System configuration generate
Configuration of test head
Number of test head [1,2] ...........................>[2]
Configuration of test head 1
Test head type
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> [1]
Pin configuration Slot no. [33,97,41,105]
Child A ....> [33,41,97,105˙]
Child B ....> [33,41,97,105˙]
Child C ....> [33,41,97,105˙]
Child D ....> [33,41,97,105˙]
Pin configuration Option1 PIN CARD [Y,N]
Child A ....> [Yes]
Child B ....> [Yes]
Child C ....> [Yes]
Child D ....> [Yes]
Pin configuration Option2 Pin card [Y,N]
Child AB ...> [Yes]
Child CD ...> [Yes]
Bypass capacitor to 10V/16V PPS (PCON)
1. Non existent
2. Existent [1,2] ..............> [1]
Bypass capacitor to HV PPS (PCON)
1. Non existent
2. Existent [1,2] ..............> [1]
Configuration of test head 2
Test head type
1.650CH
2.1300CH [1,2] [1]
Pin configuration Slot no. [33,97,41,105]
Child A: [33,41,97,105]
Child B: [33,41,97,105]
Child C: [33,41,97,105]
Child D: [33,41,97,105]
Pin configuration Option1 pin card [Y,N]
Child A [Yes]
Child B [Yes]
Child C [Yes]
Child D [Yes]
Pin configuration Option2 pin card [Y,N]
Child AB [Yes]
Child CD [Yes]
Bypass capacitor to 10V/16V PPS (PCON)
1. Non-existent
2. Existent [1,2] [1]
Bypass capacitor to HV PPS (PCON)
1. Non-existent
2. Existent [1,2] [1]
Configuration of DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] [Yes]
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] [Yes]
Test head 1
DC Configuration [1-16] [1-16]
10V PPS Configuration [1-32] [1-32]
16V PPS Configuration [17-32] [˙]
HV PPS Configuration [1-4] [1-4]
Test head 2
DC Configuration [1-16] [1-16]
10V PPS Configuration [1-32] [1-32]
16V PPS Configuration [17-32] [˙]
HV PPS Configuration [1-4] [1-4]
1'ST GPIB I/F Board 0.No
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] [0]
2'ND GPIB I/F Board 0.No
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] [1]
DMM Type
1. TR6861
2. R6871E
3. R6551
4. R6552T [1-4] [3]
AC Frequency (Hertz) [50,60] [60]
Configuration of FM
Number of FM board [0-4] [2]
Size of FM module
1. 1M
2. 4M
3. 8M [1-3] [1]
Number of memory bank [1-2] [2]
Number of memory bank [1-4] [4]
Pattern memory [Y,N] [No]
FM Board kind
1. BGR-020816
2. BGR-020816X02 [1-2] [2]
Configuration of MRA
MRA2/3 Option [Y,N] [Yes]
MRA Option type [2,3] (2=MRA2,3=MRA3) [2]
Type of CBU Board [1,2]
(1: BGR-019267)
(2: BGR-019267X02) ....> [1]
Number of CBU Board [1,2] [2]
Type of FBM Board [1,2,3,4] (1= 2M*72BIT)
(2= 4M*72BIT)
(3= 8M*72BIT)
(4=16M*72BIT) .........> [1]
Number of FBM Board [1-4] [4]
Compression function [Y,N] [No]
Configuration of FCDC
Flash option [Y,N] [No]
SC Board kind
1. BGR-020774
2. BGR-020774X02 [1-2] [1]
End save
1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P ist eine umfassende Final Test-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um die Leistungsfähigkeit der heutigen hochdichten und komplexen integrierten Schaltungen (ICs) schnell zu beurteilen. Das System besteht aus einer Instrumentenplattform mit einem IC-Tester, Handlern und verschiedenen Testköpfen. Der Tester ist mit einer breiten Palette universeller und benutzerprogrammierbarer Testprogramme ausgestattet, so dass Benutzer eine Vielzahl von ICs einfach und sicher testen können. VORTEILHAFTER T5335P-Tester ist zur Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung in der Lage und kann Daten während der Testeinstellung genau analysieren. Sein wartungsfreies, langlebiges Design hilft, eine zuverlässige Leistung auch bei hohen Temperaturen und rauen Umgebungsbedingungen zu gewährleisten. Seine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche ermöglicht eine einfache Bedienung und Programmierung und enthält verschiedene Funktionen, um eine sichere Durchführung von Tests zu ermöglichen. T 5335 P IC-Tester ist hochgenau und kann auch die kleinsten Fehler in ICs erkennen. Die hochdichten Testfunktionen ermöglichen es, ICs mit bis zu 1608 Pins zu handhaben. Die automatische Testgenerierung baut schnell Tests für verschiedene ICs auf und spart so Zeit und Geld. Darüber hinaus verfügt die Prüfeinheit über eine integrierte Sicherheitssteuerungsmaschine, um die ICs während der Prüfung vor Beschädigungen zu schützen. T5335P Tool wurde entwickelt, um eine Vielzahl von ICs zu testen, darunter analoge ICs, digitale logische ICs, MCM-ICs, Mikrocontroller, Prozessoren und anwendungsspezifische ICs. Darüber hinaus umfasst die Anlage mehrere Testköpfe, die elektrische Informationen erfassen und elektrische Signale an jedem Pin der ICs analysieren sollen. Das Modell bietet zudem eine Echtzeit-Fehlerdiagnose und ermöglicht es Anwendern, Probleme bei Tests schnell zu erkennen. Darüber hinaus bietet ADVANTEST T 5335 P eine breite Palette von zusätzlichen Funktionen, um die Effizienz und Genauigkeit der IC-Tests zu erhöhen. Dazu gehören Fehlersimulation und analoge parametrische Tests sowie Datenanalysefunktionen wie Sortieren, Vergleichen, Drucken und Anzeigen. Schließlich wird das System durch VORTEILHAFTER zuverlässiger Kundenservice unterstützt, wodurch T 5335P eine ideale Wahl für die Prüfung von hochdichten und komplexen ICs ist.
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