Gebraucht ADVANTEST T 5335P #9311753 zu verkaufen
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ID: 9311753
Weinlese: 1996
Memory tester
Temperature range: 150°C
Tester processor: TP4
OS Rev:
ASX/U-50: 6.04-1
SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02
DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G
TH1: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
TH2: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
DPU: TH1
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
TH2:
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
FM: 144 M
(2) FM Boards
Size of FM module: 1 M
Memory bank
(4) Memory blocks
No patten memory
BGR-020816 FM Board
MRA:
MRA Option: MRA2
Type of CBU board: BGR-019267
(2) CBU Boards
Type of FBM board: 2 M, 72 Bit
(4) FBM Boards
No compression function
FCDC:
Flash option
BGR-020774 SC Board
1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P Final Test Equipment ist ein leistungsstarkes Werkzeug, das den anspruchsvollen Anforderungen für die Prüfung von High-End-elektronischen Geräten gerecht wird. Das System ist in der Lage, umfassende elektrische Tests an einer Vielzahl von Halbleiter-, HF- und digitalen Geräten durchzuführen. Das Gerät eignet sich besonders für den großvolumigen Endtest von CAMs (Computer-aided Manufacturing) und allen anderen Arten von IC-Geräten, die vor dem Versand abschließend getestet werden müssen. ADVANTEST T5335P macht von einer schnelllaufenden, parallelenbearbeitenden Architektur Gebrauch und schließt einen Gastgeberkontrolleur, eine Reihe von Kartengestellen, Prüfermodul, und globale Kontrolle und Monitor ein. Die Maschine umfasst auch eine Auswahl von benutzerprogrammierbaren Multi-Hardware- und Software-Testfunktionen. T 5335 P bietet eine breite Palette von Testfunktionen, einschließlich logischer Tests, analoger/digitaler Messungen und Fehlererkennung. Das Tool verwendet einen einzigartigen MemoryFlex-Controller, der es ermöglicht, sich schnell an komplexe Testanforderungen anzupassen. Der MemoryFlex Controller erkennt auch Testfehler, bevor der Testablauf ausgeführt wird, so dass Tests bei Fehlern unterbrochen werden können. Die Anlage verfügt über acht Teststandorte (sechs instrumentierte Teststandorte und zwei allgemeine Teststandorte) und kann mit einer Vielzahl von spezialisierten Funktionen konfiguriert werden. Diese Funktionen umfassen digitale Stimulus, elektronische Kalibrierung, Übersprechen Erkennung Fähigkeit, und Versorgung und Geschwindigkeit Optimierung. Das Modell ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Test-Utilities, wie logische Rauschanalyse, Knoten-Scan-Analyse und Muster kombinieren. Darüber hinaus beinhaltet die ADVANTAGE T 5335 P eine globale Steuerung und einen Monitor, der Testergebnisse und Analysedaten auf seinem großen Farbdisplay anzeigt. Das Gerät bietet auch die Erstellung von Berichten, automatische Datenerfassung und Echtzeit-Schnittstelle zu Datenbanken. T 5335P Final Test System ist ideal für die Volumentests von CAMs und anderen IC-Geräten. Seine Hochgeschwindigkeits-, Parallelverarbeitungsfunktionen, flexiblen Testfunktionen und umfassenden Berichtsfunktionen machen es zu einer optimalen Wahl für Halbleiter-, HF- und digitale Gerätetestanwendungen.
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