Gebraucht ADVANTEST T 5371 #9123475 zu verkaufen
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ID: 9123475
Tester
Pogo tower M/B
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES.
ADVANTEST T 5371 Final Test Equipment ist ein Fertigungstester, der für die Prüfung von Geräten auf möglichst zuverlässige und kosteneffiziente Weise ausgelegt ist. Das System wurde mit der Idee entworfen, Anwendern die Geräteleistung in einer Vielzahl von Szenarien schnell und präzise zu bewerten und eignet sich gut zur Maximierung von Qualität und Ertrag von Produktionsprozessen. VORTEILHAFTES T5371 verfügt über einen modularen Aufbau und ist leicht auf die Bedürfnisse jedes Kunden zugeschnitten. Der anpassbare Testkanalsatz ermöglicht die Optimierung der Tests mit hochflexiblen 3 oder 4 Drahtkonfigurationen. Programmierbare Set-ups ermöglichen auch eine schnelle und einfache Prüfung einer Vielzahl von Geräten und minimieren gleichzeitig den Bedarf an zusätzlichen Testvorrichtungen oder kundenspezifischen Teilen. Das Testgerät ist außerdem mit einem Hochgeschwindigkeitstestbus ausgestattet, der Testprozesse beschleunigen soll. Diese Maschine kann Betriebskontrollen, Tests und Messungen mit Geschwindigkeiten bis zu 8 μ s/Punkt schnell vorformen. Darüber hinaus unterstützt das Tool eine Reihe von Gerätetypen, darunter analoge ICs, MOS, Transistoren und interdigitale Entwickler. Weitere Funktionen von T 5371 umfassen eine umfassende Bibliothek mit Standardtests, Testprogrammen und Programmbibliotheken, eine Vielzahl von Optionen für verteilte Tests und eine All-in-One-Benutzeroberfläche, die speziell für eine einfache Bedienung und Validierung entwickelt wurde. Außerdem werden Fehlererkennungs- und Diagnosefunktionen bereitgestellt, mit denen Benutzer Testfehler schnell erkennen und beheben können. T5371 ist eine zuverlässige und leistungsstarke Testanlage, die Anwendern ein umfassendes Tool zur schnellen und genauen Bewertung der Geräteleistung bietet. Der effiziente modulare Aufbau, der Hochgeschwindigkeits-Testbus und die Fehlererkennung machen ihn zur idealen Lösung, um Produktivität und Ertrag zu maximieren und gleichzeitig die Qualität der Geräteproduktion sicherzustellen.
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