Gebraucht ADVANTEST T 5371 #9209763 zu verkaufen
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ID: 9209763
Memory tester
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 1
NUMBER OF AFM BOARD [0-8] ............................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1
END SAVE.
ADVANTEST T 5371 ist ein Endprüfgerät, das für eine Vielzahl systemspezifischer Testfunktionen für eine Reihe von Endprodukten entwickelt wurde. Diese vielseitige Einheit eignet sich für alle Teststufen, von der Gerätekennzeichnung und Validierung bis hin zur funktionalen und funktionalen Verifizierung auf Board-Ebene. Das vielseitige ADVANTEST T5371 bietet eine einfache Installation, so dass Endprodukte mit mehreren Testanwendungen getestet werden können. Es basiert auf einer modularen, offenen Hardwareplattform und bietet eine einzigartige Kombination von Hardware- und Softwaretechnologien, die eine flexible Rekonfigurierbarkeit ermöglichen. Es bietet eine Vielzahl von Testanwendungsfunktionen, darunter parametrische und funktionale Tests, statische und dynamische Tests, Multiplexing und gezielte Tests und Engineering-Testkonfigurationen. Die Testmanagementsoftware des Geräts soll die Programmierung und die Entwicklung kundenspezifischer Tests vereinfachen. Es verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, mit der Benutzer das Gerät schnell anpassen und Testmodule starten können. T 5371 kommt auch mit einer umfangreichen Bibliothek von nativen Testprogrammen und erweiterten Test- und Analysetools. T5371 ist mit leistungsstarken Mustererzeugungs-/Inspektionsmöglichkeiten ausgestattet und kann mehrkanalige Testabdeckung aufweisen. Es bietet Kommunikationsprotokolle, einschließlich CAN und Ethernet, sowie Datenübertragung zwischen Testcontroller und Instrumenten. Die erweiterte eingebaute Buck/Boost-Funktion sowie die Stromversorgung sorgen für eine effiziente und optimale Stromversorgung für Endprodukte. ADVANTEST T 5371 bietet auch erweiterte Diagnose und Datenprotokollierung, die eine schnelle und einfache Überprüfung auf Maschinenebene ermöglicht. Die einzigartige Diagnosebibliothek verwendet einfach zu navigierende Menüs und basiert auf einem branchenüblichen Format, das die Anpassung von Fehlercodes an bestimmte Hardwarekomponenten ermöglicht. Schließlich ist das Gerät auch mit einer Vielzahl von Testanwendungen kompatibel und umfasst Diagnose- und Reporting-Software. Das Tool beinhaltet auch eine umfassende Dokumentation, die es zu einer leicht umsetzbaren und umfassenden Lösung für endgültige Testfunktionen macht.
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