Gebraucht ADVANTEST T 5372 #9011379 zu verkaufen

ADVANTEST T 5372
Hersteller
ADVANTEST
Modell
T 5372
ID: 9011379
Testers Configuration: SYSTEM CONFIGURATION GENERATE CONFIGURATION OF TEST HEAD PIN CONFIGURATION 1. 512DR+320I/O(HALF) 2.1024DR+640I/O(FULL) [1-2] ...> 2 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE BOARD 0.NOT EXIST 1. EXIST DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CONFIGURATION OF TEST HEAD 2 PE BOARD 0.NOT EXIST 1. EXIST DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CONFIGURATION OF DPU TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] ...........> 1-32 PPS CONFIGURATION [1-128] ..........> 1-64,97-118 TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] ...........> 1-32 PPS CONFIGURATION [1-128] ..........> 1-64,97-118 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50 CONFIGURATION OF FTU FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8 SIZE OF FMRA BOARD [1:8G,2:16G] ....................> 2 PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G] .....................> 2 CONFIGURATION OF MRA MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> YES RCPU STN1 A-D EXIST [Y,N] .......................> YES RCPU STN2 A-D EXIST [Y,N] .......................> YES END SAVE.
ADVANTEST T 5372 ist eine vielseitige Endprüfanlage, die den hohen Anforderungen der zeitgenössischen Halbleiterproduktion gerecht wird. Dieses System ist in der Lage, sowohl sehr schnelle als auch sehr empfindliche Geräte zu testen, die in Anwendungen wie Automobil, Kommunikation, Unterhaltungselektronik und anderen neuen Anwendungen verwendet werden. Es ermöglicht höchste Qualitätsprüfung mit seiner renommierten Leistung, Flexibilität und Zuverlässigkeit. ADVANTEST T5372 ist mit einer leistungsstarken Prüfkopfsteuerung und einer verteilten Armarchitektur ausgestattet. Der Testkopf-Controller verwendet einen Windows-basierten PC, um Funktionen zur Steuerung der Einheit auszuführen, und die Architektur des Distributed Arm unterstützt bis zu fünf Testheads. Dieses Setup ermöglicht es Benutzern, ihren Computer so zu konfigurieren, dass er spezifische und sich ändernde Testanforderungen erfüllt. Benutzer können beispielsweise mehrere Testkopf-Controller mit Signal-Routing und Multiplexern konfigurieren, wodurch eine effiziente hohe Auslastung der Testressourcen erreicht wird. T 5372 bietet auch die Möglichkeit für automatisierte Tests. Es kann die Testsequenzierung, die Auswahl der Testparameter und das Management der Testergebnisse automatisieren. Es ist in der Lage, mehrere Standorte mit mehreren Testkopfkonfigurationen zu steuern, und es kann in manuellen, halbautonomen oder vollständig autonomen Testmodi ausgeführt werden. Darüber hinaus ist das Tool mit einem Barcode-Lesegerät zur Verfolgung von Informationen auf Waferebene ausgestattet, so dass Benutzer mehrere Geräte, die getestet werden, problemlos verfolgen können. Es ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Testinstrumenten zu steuern, wie Oszilloskope, Netzteile und Scan-Tester. Die Anlage wurde entwickelt, um qualitativ hochwertige Tests anzubieten, die zuverlässig und wiederholbar sind. Es unterstützt die beiden am häufigsten verwendeten Schnittstellenprotokolle SPI und JTAG, die eine verbesserte Testabdeckung für Halbleiterbauelemente ermöglichen. Darüber hinaus kann es physikalischen Gerätezustand erkennen, was eine verbesserte Fehlerdiagnose ermöglicht. Es bietet auch mehrere Testtechniken, um alle Testanforderungen des Benutzers zu decken, wie HiPot, In-Circuit-Funktionstest und externer Geräteschutz/Schaltkreistester. T5372 ist eine hervorragende Lösung für abschließende Testzwecke. Es wurde entwickelt, um die höchste Qualität der Tests in modernen Produktionsumgebungen mit seiner zuverlässigen Leistung, flexiblen Architektur und anspruchsvollen Testfunktionen zu bieten.
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