Gebraucht ADVANTEST T 5380 #293642670 zu verkaufen

ADVANTEST T 5380
Hersteller
ADVANTEST
Modell
T 5380
ID: 293642670
Weinlese: 2010
Memory tester 2010 vintage.
ADVANTEST T 5380 ist eine Endprüfanlage, die den anspruchsvollen Anforderungen der modernen Halbleiterherstellung gerecht wird. T 5380 ist eine vollautomatische Testlösung, die auf Anwender ausgerichtet ist, die eine kostengünstige und zuverlässige abschließende Testprozesskontrolle suchen. ADVANTEST T 5380 verwendet einen einzigartigen modularen Aufbau, der schnelle Produktumstellungen ermöglicht, ohne dass Hardware- oder Software-Updates erforderlich sind. Eine einzige Kontrollstation kann bis zu vier Teststationen in Serie verwalten, was einen effizienteren Test- und Testdurchsatz ermöglicht. Darüber hinaus unterstützt das System eine Vielzahl von Testmustern und komplexe Testanforderungen wie produktspezifische und kundenspezifische Muster. T 5380 verfügt über eine Vielzahl fortschrittlicher Signalüberwachungs- und Analysefunktionen, um eine optimale Prüfung von Halbleiterprodukten sicherzustellen. Daten wie Boundary Scan, Fehlerinjektion und Echtzeit-Überwachung können verwendet werden, um erweiterte Testprogrammfunktionen zu unterstützen. Eine integrierte Messeinheit mit hochgenauer Datenerfassung sorgt für eine effiziente Analyse und Berichterstattung. Die Maschine verfügt über eine benutzerfreundliche Bedienoberfläche, die eine schnelle Einrichtung und Diagnose ermöglicht. Eine breite Palette von I/O-Optionen, einschließlich Gigabit-Ethernet, ermöglichen eine einfache Verbindung mit den gängigsten PC-basierten Steuerungen. Das Tool unterstützt alle neuesten Testtechnologien für Hochgeschwindigkeits-Produktionslinien und wird auch von einer Vielzahl von Schnittstellen unterstützt, darunter GPIB, LPT, TCP/IP, CAN und CANbus. Die Leistung und Flexibilität von ADVANTEST T 5380 machen es zu einer attraktiven Wahl für Produktionslinien, die ein effektives und zuverlässiges Testergebnis suchen. Hochgenaue Messung und erweiterte Testfunktionen helfen Anwendern, die Testzeit zu optimieren und die Prozesserträge zu maximieren. Das Modell bietet eine effiziente, kostengünstige Lösung für die nahtlose Prüfung moderner Halbleiterprodukte.
Es liegen noch keine Bewertungen vor