Gebraucht ADVANTEST T 5383 #9278359 zu verkaufen
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ID: 9278359
Weinlese: 2007
Tester
Timing accuracy: ± 300 ps
Head: 1ST
Pin configuration:
DR: 3,456 / ST
IO: 2,304 / ST
Level DR: 384 / ST
PPS: 384 / ST
PMU: 192 CH / ST
Parallelism and pin assignment (Pin mode):
32 DUT / ST: 108 DR+72 IO
64 DUT / ST: 54 DR+36 IO
96 DUT / ST: 36 DR+24 IO
128 DUT / ST: 27 DR+18 IO
192 DUT / ST: 18 DR+12 IO
256 DUT / ST: 13 DR+9 IO
288 DUT / ST: 12 DR+8 IO
384 DUT / ST: 9 DR+6 IO
No pattern memory
No flash option
Frequency: 286 MHz / 572 Mbps
2007 vintage.
ADVANTEST T 5383 Test Equipment ist ein abschließendes Testsystem, das entwickelt wurde, um Testabdeckung und Ertragsoptimierung für die heutigen Hochleistungs-Integrierten Schaltungen (ICs) bereitzustellen. Es ist mit hoher Signalintegrität, langen Testzeiten und hoher Durchsatzgenauigkeit ausgestattet. Es unterstützt eine Vielzahl von Testanwendungen wie Funktionstests, HF-Tests, Halleffekttests und Verzögerungstests. Die Einheit besteht aus vier Hauptmodulen, darunter einem Prüfkopf, einer Steuerung, einer Leistungseinheit und einer Prüfmaschinensteuerung. Der Prüfkopf beherbergt die Prüfköpfe, mit denen während der Prüfung auf die IO-Stifte der Geräte zugegriffen wird. Es enthält auch Hochgeschwindigkeits-Magnetmesswerkzeuge, die spezifische elektromagnetische Eigenschaften eines Geräts messen. Der Controller enthält die High-End-Datenerfassungsmodule, die zur Erfassung umfassender und genauer Daten über das zu prüfende Gerät beitragen. Das Stromaggregat ist für die Bereitstellung von Impulsleistung verantwortlich, die zur Ansteuerung der Geräte während der Prüfung verwendet wird. Schließlich fungiert der Testwerkzeugregler als Brücke zwischen den anderen Modulen, um sicherzustellen, dass der Testprozess integriert und systematisch ist. ADVANTEST T5383 Test Asset bietet Modularität und Flexibilität mit Optionen für erweiterte Testfunktionen sowie Mess- und Überwachungsfunktionen. Es ist mit einer leistungsstarken Embedded-Prozessorarchitektur ausgestattet, die Signale schnell erfassen und gleichzeitig hohe Signalintegrität bieten kann. Darüber hinaus ermöglicht es das erweiterte Condition Based Analyzing Tool (CBA-Tool) Benutzern, Ertrags- und Berichtsfunktionen flexibel zu optimieren. Schließlich bietet es eine dynamische und adaptive Scanning (DAS) -Technik, die die Testabdeckung weiter verbessert und Genauigkeit ergibt. Es ist in der Lage, Signalbedingungen on-the-fly zu erfassen und gleichzeitig ein einfaches Setup bereitzustellen, um eine höhere Skalierbarkeit zu ermöglichen. Die DAS-Funktion umfasst auch ein erweitertes Fehleranalysemodell und Identitätserkennungsfunktion, die verwendet werden können, um die Funktionen des Geräts zu analysieren. Abschließend ist T 5383 Test Equipment eine integrale Testlösung für die heutigen anspruchsvollen ICs. Mit seinen robusten Testfunktionen, Zuverlässigkeit und Skalierbarkeit bietet es Anwendern maximales Ertragsoptimierungspotenzial und umfassende Testfunktionen.
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