Gebraucht ADVANTEST T 5581 P #293636059 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293636059
Memory test system
(2) Test head (Stations)
960 DR Channels
578 IO Channels
TG Unit:
Description / Part number
BGR-022117 / CBOX I/F
BIR-021588 / TG CORE
BIR-021587 / TG SUB
BIR-021718 / TG DIST 1
BIR-021718 / TG DIST 2
BGR-015554 / TG I/F
WBL-0175758MB / TP4 CPU/MEM
BGR-021321 / TP4A CH IF
ALPG/FM Unit:
Description / Part number / Qty
Qty / Part number / Description
(8) / BIR-021768 / AFM
(1) / BIR-021764 / PG Control
(2) / BIR-021765 / ALPG
(2) / BGR-021766 / DBM
(1) / BGR-022707 / FM CONT
(1) / BIR-021769 / BGR-021770 / PM / FM TERM
TGFC Unit:
Qty / Part number / Description
(1) / BGR-021938 / TGFC I/F
(18) / BGR-021939 / TGFC
(2) / BGR-021800 / PDS
SC/VIO Unit:
Qty / Part number / Description
(1) / BGR-021618 / VIO I/F
(2) / BGR-021619 / VIO CONT
(2) / BGR-021615 / STRB GEN
(8) / BGR-022681 / SC
(1) / BGR-021617 / PCPE
(1) / BGR-021616 / SCDIST
(1) / BGR-021941 / FTDIST
(1) / BGR-021940 / PPAT
(1) / BGR-021613 / SC I/F
DPU Unit:
Qty / Part number / Description
(2) / BGR-016793 / DPU I/F LOGI
(2) / BGR-016794 / DPU I/F ANA
(8) / BGR-016797 / DC CONT
(8) / BGR-019486 / DC
(2) / BGR-021964 / 10 V PPS CONT
(8) / BGR-021926 / BGR-016796 / 10 V PPS
TH Unit:
Qty / Part number / Description
(2) / BGM-021555 / TH CONT
(4) / BGM-021558 / DC MUX
(2) / BGM-021556 / CLAMP
(8) / BGM-021557 / CAL and SIG
(96) / BGM-021633 / PE.
ADVANTEST T 5581 P ist eine leistungsstarke Endprüfeinrichtung, die zum Testen und Verifizieren von Geräten und Systemen entwickelt wurde. Dieses System ist in der Lage, Fehler in Testgeräten (DUTs) schnell zu erkennen, was eine verbesserte Ausbeute, einen erhöhten Durchsatz und geringere Kosten bei gleichzeitig hoher Genauigkeit ermöglicht. ADVANTAGE T5581P verwendet eine einzigartige Kombination aus automatisierter Testausführung, Testdatenanalyse und Echtzeit-Fehlererkennung, um DUTs schnell zu verifizieren. Seine parallelen Hochgeschwindigkeits-Testbusse sind in der Lage, eine Vielzahl von Datenpunkten im Zusammenhang mit der DUT-Leistung in Echtzeit zu verarbeiten, wodurch der Zeitaufwand für einen umfassenden Test reduziert wird. Darüber hinaus verwendet das Gerät eine ausgeklügelte Test-Parameter-Optimierungssoftware, um die Genauigkeit und Geschwindigkeit jedes Tests zu maximieren. Dadurch wird die Zeit für eine Testentscheidung minimiert, was zu einem höheren Durchsatz führt. Die Maschine ist in der Lage, externe Instrumente zu steuern und Daten von ihnen während der Prüfung zu erhalten. Diese Daten können dann zur Test-Parameter-Optimierung verwendet werden, so dass das Werkzeug die Testparameter entsprechend den Device-under-Test-Parametern anpassen kann, um die Genauigkeit zu maximieren und zusätzliche Informationen zu gewinnen, die die Gesamtprüfausbeute verbessern könnten. Es verfügt auch über eine vielseitige Boundary-Scan-Architektur, mit der T 5581P eine Schnittstelle mit externen Boundary-Scan-Geräten herstellen kann und eine effiziente Möglichkeit bietet, Gerätegrenzen zu testen. Das Asset ist in der Lage, digital-logische Geräte wie Mikroprozessoren, Speichergeräte, Speichergeräte und Analog-ICs zu testen. Darüber hinaus unterstützt das Modell eine breite Palette von Flussdiagrammen und Tests auf algorithmischer Ebene, einschließlich Tests auf Protokollebene und Selbstdiagnosetests. T5581P ist sowohl für manuelle als auch automatisierte Tests konzipiert und bietet eine integrierte Benutzeroberfläche für effiziente Testprogrammierung. Diese Benutzeroberfläche unterstützt automatische Routingregeln und intelligente Test-Parameter-Anpassungsstrategien. T 5581 P hat einen weiten Betriebstemperaturbereich von -40 ° F bis 70 ° F (-40 ° C bis + 21 ° C). Es verfügt auch über eine Auswahl an SmartPower-Funktionen, so dass es automatisch die Leistungsstufen je nach Gerätetyp angepasst werden. ADVANTEST T 5581P ist eine zuverlässige, leistungsstarke und kostengünstige Endprüfanlage mit einer Vielzahl von Funktionen und Funktionen, die es zu einer idealen Wahl für jedes Testlabor macht. Es ist einfach zu bedienende Benutzeroberfläche, Test-Parameter-Optimierung und Kombination von automatisierten und manuellen Testfunktionen machen es zu einer idealen Lösung für umfassende Geräte- und Systemtests.
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