Gebraucht ADVANTEST T 5586 #9075036 zu verkaufen

ADVANTEST T 5586 ist ein anspruchsvolles und effizientes Endprüfsystem, das entwickelt wurde, um eine höhere Qualität und Zuverlässigkeit bei der Herstellung elektronischer Halbleiterprodukte zu gewährleisten. Das System ist vielseitig einsetzbar und umfasst mehrere Testoptionen, darunter das ATPG-Modul (Automatic Test Program Generator), das Core Test Module (CTM), das Transistor-Mixer-Shift Comparator (TMSC) -Modul, das Environmental Stress Test (EST) -Modul. Das ATPG-Modul wurde entwickelt, um Tests zu erzeugen, die die verschiedenen Arbeitsabläufe eines hergestellten Geräts genau beanspruchen. Es ist in der Lage, komplexe Testmuster zu erzeugen, die realistische Bedingungen für die Prüfung des zuverlässigen Betriebs von Geräten darstellen. Darüber hinaus enthält dieses Modul auch eine umfassende Analyse von Parametermessungen, die während der Tests gesammelt wurden. Das CTM-Modul ist eine hochautomatisierte Testressource für Halbleiterprodukte. Es verfügt über ein offenes Architekturdesign, das es für Benutzer verschiedener Programmiersprachen und Logikdesigns zugänglich macht. Das Modul wurde entwickelt, um Tests von Board zu Board zu automatisieren, einen eingebetteten Prozessor zu verwenden, um die Testmuster zu interpretieren und einen Satz von Kerntestbefehlen bereitzustellen. Das CTM-Modul bietet darüber hinaus eine breite Palette von Tests wie Design-for-Testability (DFT) -Tests sowie spezialisierte Tests, die für ein Produkt erforderlich sein können. Das TMSC-Modul ist ein kombiniertes TMS-Bauelement (Transistor-Mixer-Shift) und Komparatormodul. Es wurde entwickelt, um ein zuverlässiges, genaues und robustes Verfahren zur Messung von logischen Signalen und Komponenten in Hochgeschwindigkeitsanwendungen bereitzustellen. Das Modul wird mit einer dreifachen DIO (Digital Input Output) -Architektur betrieben, die eine gleichzeitige Prüfung von bis zu drei Geräten ermöglicht. Dieses Modul verfügt auch über ein Fehlererkennungs- und -korrektursystem, um genaue Testmuster zu gewährleisten. Das EST-Modul soll es Anwendern ermöglichen, Halbleiterbauelemente unter extremen Temperatur-, Druck- und Feuchtigkeitsbedingungen zu testen. Dieses Modul ist in der Lage, Komponenten unter Umgebungsbedingungen zwischen -40C und + 120C bei Drücken bis zu 180 MPa (Millibar) zu testen. Darüber hinaus kann das EST-Modul innerhalb von 30 Minuten + 99% RH erreichen und kann mit einem einzigen Befehl zwischen Umgebungsbewertungen wechseln. Schließlich überwacht das Modul Advanced Monitor Mode (AMM) den Produktionsprozess der Geräteherstellung und stellt sicher, dass Qualitätsgeräte nach festgelegten Standards hergestellt werden. Dieses Modul kann Fehler und Abweichungen vom Produktionsprozess erkennen und Bedienungspersonen auf das Problem hinweisen. Diese Informationen können verwendet werden, um den Qualitätskontrollprozess zu verbessern und die Effizienz und Zuverlässigkeit des Herstellungsprozesses zu verbessern.