Gebraucht ADVANTEST T 5588 #9172819 zu verkaufen

ADVANTEST T 5588 Final Test ist ein automatisiertes Wafer-Testgerät, das entwickelt wurde, um die Aufgabe zu optimieren, Hunderte bis Tausende von Wafern gleichzeitig in einem einzigen Arbeitsgang zu testen. Es besteht aus drei Hauptkomponenten: einem bordeigenen automatisierten elektrischen Messsystem (AMEMS), einer automatisierten Be- und Entladestation und einer Entpanelisierungseinheit nach dem Test. Die AMEMS-Einheit umfasst einen leistungsstarken Controller, Spracherkennungssensor, 3D-Vision-Sensor und eine Datenerfassungsmaschine. Die Steuerung ist für die Erzeugung und Ansteuerung der elektrischen Prüfsignale durch den Wafer und die Auswertung der Ergebnisse verantwortlich. Der Spracherkennungssensor stellt sicher, dass das Werkzeug die Anweisungen des Bedieners genau verstehen kann, während der 3D-Sehsensor das Positionsbewusstsein des Geräts bereitstellt, um eine vollkommen genaue Testpositionierung sicherzustellen. Das Datenerfassungsmodell sammelt und organisiert Daten aus den Tests in elektronische Dateien zur späteren Überprüfung. Die automatisierte Be- und Entladestation ist die Schnittstelle zwischen den Wafern und ADVANTEST T5588 Final Test. Sie verfügt über eine Roboterarm- und Fördereinrichtung, mit der das System Wafer schnell und sicher von den beladenen Schalen zum AMEMS und zurück bewegen kann. Das Gerät verfügt zudem über eine Schnellwechselfunktion, die sicherstellt, dass der Roboter schnell und reibungslos Tabletts austauschen kann, ohne den Testprozess zu verlangsamen. Die Entpanelisierungseinheit nach dem Test ist der letzte Schritt im Testprozess. Es ist dafür verantwortlich, die Wafer in einzelne Späne zu zerlegen und in Behälter zu sortieren. Dieser Schritt stellt sicher, dass die Chips nach Abschluss des Tests einfach ausgeliefert oder gespeichert werden können. T 5588 Final Test wurde entwickelt, um einen schnellen, genauen und zuverlässigen Wafer-Testprozess bereitzustellen. Die Maschine ist hochflexibel und kann problemlos für verschiedene Arten von Wafern und Testszenarien angepasst werden. Die automatisierte Be- und Entladestation und die Deverkleidungseinheit nach dem Test sorgen für schnelle Umlaufzeiten, während der 3D-Vision-Sensor und das Datenerfassungswerkzeug hochgenaue Ergebnisse liefern. All diese Eigenschaften machen T5588 Final Test zu einer idealen Wahl für die Prüfung von Wafern mit hohem Volumen.