Gebraucht ADVANTEST T 5592 / M 6541AD #104207 zu verkaufen

ADVANTEST T 5592 / M 6541AD
ID: 104207
test cell system, single testhead.
ADVANTEST T 5592 und m 6541AD ist Final Test Systems automatisierte Halbleitertestlösungen, die das beste in der parallelen Industriestandardprüfertechnologie mit den starken Eigenschaften der VLSI-Stromkreisprüfung verbinden. Mit der PTD-Technologie (Parallel Test Drive), einer hocheffizienten Methode zum Testen von Multi-Chip-Geräten, bietet dieses Gerät eine schnelle und zuverlässige Lösung für Gerätetests und -diagnosen. Das System ermöglicht die gleichzeitige Erfassung mehrerer Testdatentypen in einem einzigen Testzyklus, wie Logik, Analog oder Timing, und bietet eine umfassende Prüfung aller Aspekte der Einheitenfunktionalität in einem Durchgang. Der T 5592 ist ein voll ausgestatteter automatischer Tester, der eine Vielzahl von Funktionen und Konfigurationsoptionen bietet. Seine Testprogrammarchitektur auf Maschinenebene, kombiniert mit Diagnosefunktionen, bietet maximale Geschwindigkeit und Genauigkeit für Produktionstestanwendungen. Es enthält einen mehrprozessorgesteuerten 8-Bit-Kern für den schnellen Ablauf des Testprogramms, wobei jeder Prozessor im Werkzeug 16 oder 32 DUT-Kanäle aufweist. Das Asset ist mit einer Dual-Laser-Schnittstelle ausgestattet, die komplette Steuerung, Status und Konfiguration von bis zu 1008 Geräten bietet. Eine integrierte grafische Benutzeroberfläche (GUI) erleichtert die Identifizierung und Steuerung der Modellparameter. Das M 6541AD-Modell verfügt über einen VLSI-Mikroprozessorkern mit einem 16-Bit-RISC-Prozessor zur Ausführung der Standard-Suite von VLSI-Treibern mit erhöhter Testabdeckung und Testgeschwindigkeit. Der gestapelte Wafer-Bonder bietet einen kompakteren Formfaktor, während die Dual-Lifecycle-Test-Schnittstellen zusätzliche Benutzerfreundlichkeit in mehreren Produktionsumgebungen bieten. Das Gerät ist mit einem optionalen 40/60GHz Frequenzsprungsystem kompatibel, um sowohl Hochgeschwindigkeits- als auch Ultrahochgeschwindigkeits-Speichergeräte zu testen. Für einen effizienten Testdurchsatz unterstützt das Gerät mehrere Tests pro DUT mit bis zu 10 dedizierten Testköpfen für jede Matrize. Darüber hinaus ermöglicht die FIS-Unterstützung (Fault Isolation Tool) der Maschine eine schnelle Fehlerisolierung und schnelle Fehlerbehebung bis zur Waferebene. Die Systeme T 5592 und M 6541AD bieten eine effiziente und kostengünstige Lösung für Gerätetests und -diagnosen in erstklassigen Produktionsumgebungen. Diese automatisierte Testanlage bietet hohe Leistung, hohe Flexibilität und Robustheit für hochkomplexe VLSI-Anwendungen. Die T 5592 und M 6541AD kombinieren leistungsstarke Funktionen, erweiterte Testfunktionen und vielseitige Konfigurationsoptionen und bieten unübertroffene Leistung und Zuverlässigkeit.
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