Gebraucht ADVANTEST T 5592 #163116 zu verkaufen

ADVANTEST T 5592
Hersteller
ADVANTEST
Modell
T 5592
ID: 163116
Memory tester CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration) SYSTEM CONFIGURATION GENERATE CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration) SYSTEM CONFIGURATION GENERATE PIN CONFIGURATION 1. 144DR+192I/O 2. 288DR+384I/O 3. 576DR+768I/O [1,2,3] ...........> 3 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ......................................> 1 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE1 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D ..........> YES PE2 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD A/B/C/D ..........> YES PE3 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56) CHILD A/B/C/D .........> YES PE4 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD A/B/C/D ......> YES PE5 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118) CHILD A/B/C/D .....> YES PE6 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD A/B/C/D .....> YES PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD A/B/C/D ..> YES PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD A/B/C/D? .> YES PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD A/B/C/D? .> YES PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD A/B/C/D .> YES PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D.> YES PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD A/B/C/D .> YES PE13 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52) CHILD E/F/G/H .............. YES PE14 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD E/F/G/H? ..........> YES PE15 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .......> YES PE16 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD E/F/G/H ......> YES PE17 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H......> YES PE18 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD E/F/G/H ......> YES PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD E/F/G/H ..> YES PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD E/F/G/H ..> YES PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD E/F/G/H ..> YES PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD E/F/G/H ..> YES PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246) CHILD E/F/G/H .> YES PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD E/F/G/H ..> YES CONFIGURATION OF DPU TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 10V PPS CONFIGURATION [1-128]......> 1-128 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ..................................> 50 CONFIGURATION OF ALPG NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..........................................> 4 ONFIGURATION OF PDS NUMBER OF CYCLE PALETTE [8,16] ...........................> 8 CONFIGURATION OF DBM DBM OPTION EXIST[Y,N] ..........................................> YES SIZE OF DBM BOARD [1-2] [1:256K? 2:1M] ..................> 2 CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FM BOARD [0,4,8] ...................................> 4 NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..................................> 8 SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M] 2:16M] .....................> 1.
Die VORTEILHAFTE T 5592 ist eine Endprüfeinrichtung für Halbleiterchips. Es ist für Wafer- und Geräte-Level-Tests von High-Pin-Count (HPC) Mikroprozessoren, Speicher und anderen Geräten konzipiert, die eine große Anzahl von Daten und elektrische Test-Pins erfordern. Das T 5592-System ist eine großartige Lösung für Gerätehersteller, die einen schnellen und effizienten Testprozess benötigen. ADVANTEST T 5592 bietet umfassende Testfunktionen durch integrierte Architektur. Dieses Gerät verfügt über eine Kombination aus Maximus-Software und VectorStar-Hardware, die Gerätetests, Schnittstellen, Steuerungs- und Ergebnisanalysen steuern können. Die Maximus-Software bietet parallele Tests von bis zu 32x, so dass Benutzer Testzeit und -kosten reduzieren können. Eines der Hauptmerkmale der T 5592-Maschine ist ihr skalierbares Design, das bis zu 512 Pins testen kann. Das Tool ermöglicht volle parametrische und funktionale Tests mit Hochgeschwindigkeits-E/A und hochauflösenden ADC-Funktionen. Es bietet auch mehrere Testmodi, einschließlich Vortestmodi für Wafer-Level-Tests und Geräteaustausch, Reparatur und Charakterisierung, um den Testdurchsatz zu maximieren. Die ADVANTEST T 5592 bietet eine möglichst hohe Sensorauflösung für den Gerätetest und unterstützt maximale Genauigkeit und Qualitätssicherung. Data Platform Asset-on-Chip-Tests sind auch mit seinen Hochgeschwindigkeitstests ausgestattet. Es bietet auch eingebaute Hochleistungstestalgorithmusbibliotheken an, die hohen Parallelismus und schnelle Testdurchführung der Macht, des Scheinwiderstands und der anderen Hochleistungstests berücksichtigen. Der Hauptvorteil von T 5592 ist, dass es qualitativ hochwertige Testergebnisse bietet, die wiederholbar und konsistent sind. Dies bedeutet, dass Gerätehersteller den Ergebnissen ihrer Gerätetests vertrauen können. Das Modell ist auch in der Lage, Änderungen in Design und Fertigung anzupassen, so dass es eine gute Wahl für High-End-Tester. Mit seiner integrierten Architektur und dem skalierbaren Design bietet ADVANTEST T 5592 schnelle und effiziente Tests und hilft Geräteherstellern, auf dem hart umkämpften Halbleitertestmarkt voranzukommen. Diese Ausrüstung ist die perfekte Lösung für die qualitativ hochwertige und hochpräzise Prüfung von Halbleiterbauelementen.
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