Gebraucht ADVANTEST T 5592 #163116 zu verkaufen
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ID: 163116
Memory tester
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
PIN CONFIGURATION 1. 144DR+192I/O
2. 288DR+384I/O
3. 576DR+768I/O [1,2,3] ...........> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ......................................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE1 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE2 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE3 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56) CHILD A/B/C/D .........> YES
PE4 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD A/B/C/D ......> YES
PE5 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD A/B/C/D ..> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD A/B/C/D .> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D.> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD A/B/C/D .> YES
PE13 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52) CHILD E/F/G/H .............. YES
PE14 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD E/F/G/H? ..........> YES
PE15 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .......> YES
PE16 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE17 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H......> YES
PE18 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246) CHILD E/F/G/H .> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD E/F/G/H ..> YES
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128]......> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ..................................> 50
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..........................................> 4
ONFIGURATION OF PDS
NUMBER OF CYCLE PALETTE [8,16] ...........................> 8
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST[Y,N] ..........................................> YES
SIZE OF DBM BOARD [1-2] [1:256K? 2:1M] ..................> 2
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,4,8] ...................................> 4
NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..................................> 8
SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M] 2:16M] .....................> 1.
Die VORTEILHAFTE T 5592 ist eine Endprüfeinrichtung für Halbleiterchips. Es ist für Wafer- und Geräte-Level-Tests von High-Pin-Count (HPC) Mikroprozessoren, Speicher und anderen Geräten konzipiert, die eine große Anzahl von Daten und elektrische Test-Pins erfordern. Das T 5592-System ist eine großartige Lösung für Gerätehersteller, die einen schnellen und effizienten Testprozess benötigen. ADVANTEST T 5592 bietet umfassende Testfunktionen durch integrierte Architektur. Dieses Gerät verfügt über eine Kombination aus Maximus-Software und VectorStar-Hardware, die Gerätetests, Schnittstellen, Steuerungs- und Ergebnisanalysen steuern können. Die Maximus-Software bietet parallele Tests von bis zu 32x, so dass Benutzer Testzeit und -kosten reduzieren können. Eines der Hauptmerkmale der T 5592-Maschine ist ihr skalierbares Design, das bis zu 512 Pins testen kann. Das Tool ermöglicht volle parametrische und funktionale Tests mit Hochgeschwindigkeits-E/A und hochauflösenden ADC-Funktionen. Es bietet auch mehrere Testmodi, einschließlich Vortestmodi für Wafer-Level-Tests und Geräteaustausch, Reparatur und Charakterisierung, um den Testdurchsatz zu maximieren. Die ADVANTEST T 5592 bietet eine möglichst hohe Sensorauflösung für den Gerätetest und unterstützt maximale Genauigkeit und Qualitätssicherung. Data Platform Asset-on-Chip-Tests sind auch mit seinen Hochgeschwindigkeitstests ausgestattet. Es bietet auch eingebaute Hochleistungstestalgorithmusbibliotheken an, die hohen Parallelismus und schnelle Testdurchführung der Macht, des Scheinwiderstands und der anderen Hochleistungstests berücksichtigen. Der Hauptvorteil von T 5592 ist, dass es qualitativ hochwertige Testergebnisse bietet, die wiederholbar und konsistent sind. Dies bedeutet, dass Gerätehersteller den Ergebnissen ihrer Gerätetests vertrauen können. Das Modell ist auch in der Lage, Änderungen in Design und Fertigung anzupassen, so dass es eine gute Wahl für High-End-Tester. Mit seiner integrierten Architektur und dem skalierbaren Design bietet ADVANTEST T 5592 schnelle und effiziente Tests und hilft Geräteherstellern, auf dem hart umkämpften Halbleitertestmarkt voranzukommen. Diese Ausrüstung ist die perfekte Lösung für die qualitativ hochwertige und hochpräzise Prüfung von Halbleiterbauelementen.
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