Gebraucht ADVANTEST T 5593 #9123617 zu verkaufen

Die ADVANTEST T 5593 ist eine von ADVANTEST, einem führenden Hersteller von Halbleitertestsystemen, entwickelte und hergestellte Prüf- und Messeinrichtung. Dieses endgültige Testsystem ist die umfassendste Lösung, die auf dem Markt für die Prüfung integrierter Schaltungen zur Verfügung steht. Es wurde entwickelt, um höchste Leistung und Genauigkeit zu bieten und gleichzeitig die Anpassung an die Anwendungsanforderungen zu ermöglichen. ADVANTAGE T5593 bietet Flexibilität und Skalierbarkeit für eine breite Palette integrierter Schaltungen. Diese hochmodulare Einheit unterstützt bis zu 128 E/A-Pins und 4 Teststandorte. Der Testkopf unterstützt bis zu 256 DC- und AC-Signale mit einer Vielzahl von analogen, logischen und Beschleunigungsmessern. Um die Maschinenfunktionen zu erweitern, können mehrere Messmaschinen wie DFT, parametrisch, jitter und andere verwendet und integriert werden. Das Werkzeug ist extrem schnell und präzise, verkürzt die Testzeit und sorgt für Konsistenz. Seine Mehrkanal-Scan-Konvertierungstechnologie ermöglicht die gleichzeitige Speicheraktion auf jedem Pin während eines Scan-Zyklus. Darüber hinaus verfügt das Asset über Funktionen wie standortübergreifende Auslösung, fehlerregulierte Prescan, erweiterte Ertragsstatistiken, Insequenzbetrieb, Hochgeschwindigkeitsumschaltung und programmierbare Schwellen. T 5593 umfasst eine benutzerfreundliche, menügesteuerte Einrichtung und eine erweiterte STK-Benutzeroberfläche. Dies ermöglicht es, die komplexesten Anforderungen leicht zu erfüllen. Darüber hinaus umfasst das Modell eine Reihe von Netzwerkoptionen, z. B. integrierten Ethernet-Port, der Remote-Operationen aus verschiedenen Netzwerken ermöglicht. Das Gerät bietet auch erweiterte Reparaturoptionen wie Chip-Nacharbeit, Teileersatz und IP-Nacharbeit. Die vielfältigen Fehlermodellmerkmale ermöglichen die Produktion sowohl fehlertoleranter als auch fehlerunverträglicher Konstruktionen. In der Zusammenfassung ist T5593 ein zuverlässiges und starkes Testsystem für Hochleistungs-, Großserienprobeanwendungen.