Gebraucht ADVANTEST T 6372 #9360943 zu verkaufen
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ID: 9360943
LCD Tester
Test station
Digital pin: 128 Channels
LCD Pin: 512 Channels
RVS (24 V) Pin: 32 Channels
Timing generator (6 TE / Pin: 32 TS)
SQPG
Data Fail Memory (DFM): 256 W x 2 Bits/Pins
Device power supply: 400 mA x 8-Channels
UNIVERSAL DC Parametric measurement unit (4-Channels)
Multi DC parametric measuring unit (8 MDC / 128-Channels)
(7) Tester Controller (TC7) with 2 GB memory
(2) Hard Disk Drives (HDD): 73 GB
(3) CD-RW Drive units
(4) GP-IB I/F (2-Ports)
Smoke sensor
STN Control panel
EMO Switch
Lock ring assy
LCD Monitor, 19"
ND2 Hi-fix
Diag PB
Test head shipping cart
Inter lock cable
Calibration performance board
GPIB I/F Cable
Cable duct A
CE Marked.
ADVANTEST T 6372 ist eine Final Test Equipment (FTM), die es Halbleiterherstellern ermöglicht, Wafer-Level-Tests auf einzelnen Chips mit außergewöhnlicher Genauigkeit und hohem Durchsatz durchzuführen. ADVANTEST T6372 ist ein vollautomatisiertes System, mit dem Benutzer eine Vielzahl von Schaltungen mit größerer Effizienz testen können. Das Gerät bietet maximale Geräteprüfgeschwindigkeiten, was die Kosten für die Testzeit verkürzt. Es bietet eine hohe Testauflösung, während seine leistungsstarken Datenverarbeitungsfunktionen Zuverlässigkeit und Genauigkeit bieten. Um die Genauigkeit der Maschine aufrechtzuerhalten, vereinigt T 6372 ein einheitliches Hochleistungsdatenerfassungswerkzeug, das schnell Testdaten seinem Hauptkontrolleur übersendet. Diese Steuerung speichert die Testergebnisse und erstellt detaillierte Berichte zur Analyse der Waferqualität. T6372 unterstützt auch mehrere Testformate wie Fremdtest, Zelltest, DFT-Test, Hochgeschwindigkeitstest, Schnelltest und unterstützt auch Prozessüberwachung, statistische Prozesskontrollanwendungen (SPC) und TTR-Protokollierung. Sein integrierter Testkopf kann schnell von einem Wafer zum nächsten wechseln und ermöglicht eine kontinuierliche Chipprüfung. Das fortschrittliche Design des Asset ermöglicht auch parallele Tests verschiedener Arten von Schaltungen gleichzeitig. Es ermöglicht anpassbare Teststufen in einer Reihe von Technologien, so dass Benutzer das Modell genau auf ihre Anforderungen konfigurieren können. Es stehen auch Antennentestfunktionen zur Verfügung, die sowohl eine 2D- als auch eine 3D-Abbildung der Testchips ermöglichen, während die Datenrückverfolgbarkeit eine detaillierte Fehleranalyse ermöglicht. Die Geräte ermöglichen auch Echtzeit-Zelltests, wodurch die Markteinführungszeit neuer Produkte beschleunigt wird. Die ADVANTEST T 6372 verfügt zudem über umfassende Sicherheitsmerkmale, die den Anwender und das Prüfsystem vor elektrischen oder mechanischen Fehlern schützen. Die fortschrittliche Temperaturkontrolleinheit ermöglicht die Durchführung von Tests bei sicher kontrollierten Temperaturen, während die Softwarearchitektur der Maschine so konzipiert ist, dass sie die Markteinführungszeit reduziert, indem sie automatisch detaillierte Testergebnisse liefert. Das Tool wird von einem gut ausgebildeten Serviceteam unterstützt, das allen Anwendern technischen Support bietet. Die Kombination daraus macht ADVANTEST T6372 eine zuverlässige Lösung für den kompletten Wafer-Level-Chip-Test.
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