Gebraucht ADVANTEST T 6671E #9179759 zu verkaufen

ADVANTEST T 6671E ist ein High-End, Advanced Automated Test Equipment (ATE), das für den Einsatz in einer Vielzahl von Halbleiterbaugruppen und Endtestanwendungen entwickelt wurde. T 6671E wurde mit Blick auf Flexibilität und Zuverlässigkeit entwickelt und nutzt fortschrittliche Technologien, um eine effiziente, genaue und benutzerfreundliche Testplattform bereitzustellen. Die Multi-Channel-Architektur von ADVANTEST T 6671E kombiniert acht unabhängige Gruppen mit 4K-Bit (8K in erweitertem) -Speicher pro Gruppe und bietet insgesamt 32K-Bit-Sites. Es verfügt auch über ein Multifunktions-Test-Front-End mit Kanalsteuerung und Sequenzierung, mehrere logische Vergleichsfunktionen, Timing und Impulsparametrie, Chip-Level-Selbsttest und Analysefunktionen. Als fortschrittliches ATE bietet T 6671E auch eine integrierte prozessorbasierte Plattform mit eingebetteter Benutzeroberfläche (UI), die hochkomplexe Software-Algorithmen mit einer Reihe von Hardwarekomponenten mischt. Die Benutzeroberfläche verfügt über eine voll funktionsfähige, einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche (GUI) für die Testplanung, Sequenzierung und Programmierung. Es bietet auch umfassende Datentests und Messfunktionen für Test und Debug von Baugruppen. Für High-Level-Testanwendungen bietet ADVANTEST T 6671E erweiterte Testfunktionen durch seine JTAG-Erweiterungen. Dies ermöglicht den direkten Zugriff auf Bordspeicher, Registerbits und periphere IO sowie die Unterstützung externer TDO- und TMI-Zugriffe. Wie für abschließende Testanwendungen ist T 6671E mit einer breiten Palette von Fehlerabdeckungsfunktionen ausgestattet. Der Selbsttestmodus (STM) unterstützt Speichertests, Bitfehlerratentests und Embedded-Scan-Tests. Error Detection Experiments (EDC) unterstützen simultane Tests für 4 Kanäle von gemischten (MST) und Single-Bit (SBT) sowie Multi Cube Distribution (MCD). Schließlich bietet ADVANTEST T 6671E eine verbesserte Flexibilität und Konnektivität durch Unterstützung von GP-IB, Ethernet und seriellen Schnittstellen, die die Integration mit externen Systemen ermöglicht. Kurz gesagt, T 6671E ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges ATE-System, das für eine Reihe von Anwendungsbereichen entwickelt wurde. Die robuste, prozessorbasierte Architektur, JTAG-Erweiterungen, Fehlerabdeckungsfunktionen und eine breite Palette an Konnektivitätsoptionen bieten Ingenieuren und Technikern eine fortschrittliche, benutzerfreundliche Plattform für abschließende Testanwendungen.