Gebraucht ADVANTEST T 6672 #293652881 zu verkaufen

ADVANTEST T 6672 Final Test Equipment ist eine kostengünstige Hochdurchsatz-Testlösung, die speziell zur Überprüfung der Funktionalität komplexer Halbleiterbauelemente entwickelt wurde. Das System kann bis zu 320 Megatests pro Sekunde testen und eignet sich somit sowohl für hochvolumige als auch für komplexe Geräte. Die Testeinheit besteht aus drei Primärmodulen: dem automatisierten Testkopf (ATH), dem programmierbaren Logikcontroller (SPS) und der Testschnittstelle (TI). Das ATH enthält eine Geräteschnittstelle zum Anschluss an den Device-Under-Test (DUT) sowie verschiedene Testkopfsteuerung, MessSMUs, Netzteile und Jig-Treiber. Die SPS ist verantwortlich für die Steuerung des Versuchsaufbaus und -betriebs, wobei die Programmierung sowohl in C als auch in IEC 61131-3 verfügbar ist. Es bietet auch leistungsfähige Schritt-für-Schritt-Debugging-Funktionen während der Entwicklung, so dass der Benutzer schnell Probleme zu beheben, die auftreten. Schließlich bietet die TI eine gemeinsame Schnittstelle für andere Testgeräte wie Mustergeneratoren, SCUs und Oszilloskope. Die Testmaschine bietet mehrere Funktionen, mit denen sie auch anspruchsvollste Anwendungen effektiv bewältigen kann. Dazu gehören Einstellungen während des Fluges, z. B. Änderungen der Prüfregime in der Prüfmitte; Einrichtung und Rekonfiguration von Schnelltests, die durch die grafische Programmentwicklung und die Schnellzugriff-DUT-Anschlüsse ermöglicht werden; Ausgangstransientensteuerung zur Gewährleistung hoher Prüfsicherheit; und Genauigkeitstoleranzprüfung zum Messen kritischer Parameterwerte. Darüber hinaus bietet ADVANTEST mehrere Möglichkeiten zur weiteren Verbesserung des T 6672. Dazu gehören Automobiltests für den Einsatz in Automobilsystemen; eingebettete Diagnosen für Debug und Analyse; und umfassende Softwarepakete für eine Vielzahl von Testanwendungen. Insgesamt ist das ADVANTAGE T 6672 Final Test Tool eine sehr leistungsfähige, vielseitige und kostengünstige Lösung zur Überprüfung der Funktionalität komplexer Halbleiterbauelemente. Seine schnellen Testgeschwindigkeiten, Optionen für mehrere Konfigurierbarkeit und optionale Softwarepakete machen es zu einer idealen Wahl für Tests in Serienumgebungen.