Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4082F #9411925 zu verkaufen

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ID: 9411925
Wafergröße: 6"
Parametric tester, 6" Non-SMIF Type 24- Pin boards N9158-60001 HV-SPGU Pulse generator N9180-N61010 THPS (2) SMU Medium powers: Current measurement resolution: 10 fA Voltage measurement resolution: 2 µV Maximum voltage: 100 V Maximum current: 100 mA SMU High power: Current measurement resolution: 10 fA Voltage measurement resolution: 2 µV Maximum voltage: 200 V Maximum current: 1000 mA 3458A Digital voltage meter: Voltage measurement resolution: 1 µV Level resistant measurement: 1 Ω PC: XW8400 Workstation E3632A Power supply.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4082F Final Test Equipment ist ein Multi-Bay, Hochleistungs-Testsystem, das flexible Fähigkeiten und Mehrwertfunktionen bietet. Diese Testeinheit dient zur Bereitstellung einer umfassenden Testfähigkeit; mit verbesserter Fehlerisolierung, zuverlässiger und genauer Testabdeckung und Gesamtkosteneinsparungen. HP 4082F ist eine Multi-Bay-Maschine, die einfach auf die Bedürfnisse des Kunden konfiguriert ist und eine Reihe von Modulen bietet, um die anspruchsvollsten Testanforderungen zu erfüllen. Das Hauptmodul besteht aus sechs getrennten Testbereichen, darunter ein Oszilloskop, DMM, DCS +, Stromsonden und Logiksonden. Jeder Prüfpunkt kann individuell für die jeweilige Anwendung konfiguriert werden. Das Oszilloskopmodul hat eine maximale Abtastrate von 20V/s und kann aus jeder Messung bis zu 128 Zyklen speichern. Das Dual-Mode DMM misst Spannung, Strom und Widerstand und verfügt über eine grafische Rückwandplatine, um Echtzeit-Eingangs- und Ausgangswerte für jeden Kanal bereitzustellen. Das DCS + -Modul fügt zusätzliche digitale Erfassungs- und Logikanalysefunktionen hinzu. AGILENT 4082F bietet zudem eine verbesserte Testflexibilität mit der Möglichkeit zusätzlicher Stromfühler und Logikfühler. Stromsonden können dynamische Parameter mit bis zu 60V Spitzenspannung erfassen, während die logischen Sonden über einen integrierten nichtflüchtigen Speicher verfügen, der bis zu 4096 Ereignisse bei 1MHz speichern kann. Die Gesamtarchitektur von KEYSIGHT 4082F liefert sowohl effiziente Tests als auch zuverlässige, genaue Ergebnisse. Durch die Bereitstellung von Multi-Bay-Funktionen kann das Tool so konfiguriert werden, dass es eine umfassende Testabdeckung bietet und gleichzeitig eine verbesserte Fehlerisolierung bietet. Diese Ressource kombiniert umfassende Testabdeckung und verbesserte Fehlerisolierung und ermöglicht effiziente und zuverlässige Tests, die präzise Ergebnisse und Kosteneinsparungen liefern, was sie zu einer idealen Lösung für abschließende Testanwendungen macht.
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