Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / VERIGY / ADVANTEST 93000 C200e #156481 zu verkaufen
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ID: 156481
Weinlese: 2003
Tester
ACCRETECH / TSK UF 190A prober
Standard TSK Hot chuck, 35-150 degrees
Automatic probe-pad alignment
Probe mark inspection
Multi-site 3-64 channels probing
GP-IB interface
Fail-mark inspection
Off-site marking
Automatic probe height setup
Sample sort capability
Soak time
Multi-pass probing
Dual alignment model by prober kind
Binary Data Transmit
Bump height
Rectangular probe card holder
Includes:
Clock board
AC/DC board
(2) DC/DC board
Control board
PoGo segment 512 pin soc
Linux workstation
Switch Box 93000 Controller
System type: SOC
Test head: small
DUT I/F:
SOC P600 16 Pin
C200E 368 Pin
Vector memory:
ch10101-10116 112M P600
ch10201-12416 28M C200E
TIA E9690
WDA E9684
WDB E9686
WGC E9689
WGB E9688
MCA E9714 (AV8 board)
WGA E9685
DPS GPDPS 16 ch
2003 vintage.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/VERIGY/ADVANTEST 93000 C200e Final Test Equipment ist ein automatisiertes Hochgeschwindigkeits-Testsystem zur Prüfung von integrierten Schaltungen (ICs) und Mischsignalkomponenten. Es ist mit fortschrittlichen C200e digitalen Protokollen, einer automatisierten Modul- und Instrumentensteuerung, In-Circuit-Scan-Chain-Debugging und Programmierfunktionen sowie mehreren Bedienerschnittstellen ausgestattet, um die Produktivität während der IC-Entwicklungs-, Produktions- und Validierungsstufen zu erhöhen. HP 93000 C200e Final Test Unit arbeitet mit einer breiten Palette von Komponenten, von kostengünstigen Logikchips über komplexe industrielle Steuerungen bis hin zu MEMs und Prozessoren. Durch seine automatisierte Maschinen- und Instrumentensteuerung ist VERIGY 93000 C200e Final Test Tool in der Lage, auf die Register und Eingaben jedes Chips zuzugreifen und Testbefehle auf jeden Chip zu schreiben. Es ist auch in der Lage, mehrere Plattformarchitekturen wie x86, ARM, MIPS, PowerPC, DSP und FPGA mit einem einzigen Testprogramm zu unterstützen. AGILENT 93000 C200e Final Test Asset ist auch in der Lage, schnell das digitale und analoge Verhalten und die Parameter jedes Chips zu untersuchen und so ein vollständiges Bild der Funktionalität des Chips zu liefern. Darüber hinaus bietet HEWLETT-PACKARD 93000 C200e Final Test Model eine Vielzahl von Testtechniken, wie Niedrigleistungstests, mehrstufige Tests, SCAN-Geräte und Emulation. Das Gerät verwendet auch digitale Imaging Correlation (DIC) -Software, um ICs zu analysieren und zu charakterisieren, während sein Hochgeschwindigkeitsprogrammgenerator Testprogramme aus verschiedenen Leistungsstufen erstellen kann. Darüber hinaus ermöglichen anwendergesteuerte Testsequenzierungsoptionen es Anwendern, Tests auf der Grundlage ihrer spezifischen Anforderungen zu optimieren. Neben dem Testen von ICs ist das ADVANTAGE 93000 C200e Final Test System auch in der Lage, detaillierte Testhistorien, Berichte und Fehlerdaten zu generieren, sodass Ingenieure problematische ICs und andere Fehler genau identifizieren können. Diese Daten können auch verwendet werden, um das Testverfahren für erhöhte Zuverlässigkeit schnell zu modifizieren und zu verbessern. Insgesamt ist 93000 C200e Final Test Unit eine fortschrittliche und umfassende Testlösung für integrierte Schaltungen und andere Komponenten. Die automatisierte Maschinen- und Instrumentensteuerung, fortschrittliche Testtechniken und umfassende Analysefunktionen helfen Ingenieuren, Konstruktionsfehler und -fehler schnell zu erkennen und zu optimieren und gleichzeitig zuverlässige und umfassende Testergebnisse bereitzustellen.
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