Gebraucht LORLIN Double Impact #184587 zu verkaufen

ID: 184587
Discrete component test system Specifications: 3-pin capability: emitter, base, and collector Leakage tests Voltage source - 1.000 V - 600.0 V Current meas. - 100.0 pA - 200.0 mA Voltage breakdown tests Current source - 1.000 uA - 1.000 A Voltage meas. - 100.0 mV - 600.0 V ON tests Base current - 10.00 uA - 20.00 A Collector current - 10.00 uA - 20.00 A Voltage meas. - 1.000 mV - 15.00 V 2000 V, 500 A Includes (2) test stations for small signal and power semiconductors (3) Test station capability standard, expandable to (5) stations with an optional SEU-220 expansion unit Available options: AC option SCR option VX option HCM-201 HVS-201 SS-100 SS-150 SEU-100 System will test, classify, sort, evaluate, grade, and screen the key parameters of devices such as transistors, diodes, fets, rectifiers, zeners, IGBTs, Opto-Coupled, bridges and other related parts Test library includes tests to perform breakdown voltages, leakage currents, gain tests, saturation, on-state and off-state type tests on the components PC with a Dell flat screen monitor, keyboard and mouse Lorlin Windows software.
LORLIN Double Impact (LORLIN DI) ist eine Endprüfanlage zur Bewertung der Leistung elektronischer Geräte in einem zweistufigen Testverfahren. Das System kann in Montagelinien-Tests, Service-Center-Tests und Engineering-Test-Laborumgebungen verwendet werden. Die Tests der ersten Stufe werden als „Vortests“ bezeichnet und sollen Schwachstellen in einem Gerät schnell identifizieren, so dass potenzielle Probleme vor der zweiten Teststufe identifiziert und behoben werden können. Während des Vortests verwendet LORLIN DI automatisierte Einheitenscanner-Algorithmen, um mögliche Probleme zu ermitteln. Diese Daten werden dann von der Maschine zur weiteren Untersuchung analysiert und priorisiert. Die Tests der zweiten Stufe werden als „Post-Tests“ bezeichnet und verwenden detailliertere Diagnosemethoden, um die Ergebnisse der Vorprüfung zu bestätigen oder zu widerlegen. Während der Nachtestphase schließt LORLIN DI an das zu testende Gerät an und führt verschiedene Operationen wie Speichertests und Leistungszyklen durch. Das Werkzeug ist auch in der Lage, Kaltlötverbindungen zu erkennen und Isolationswiderstand, Schaltparameter, Diodenprüfung und andere wichtige Kriterien zu bewerten. Das Asset führt auch Echtzeit-3D-Inspektionen durch, um sicherzustellen, dass Teile, Materialien und Komponenten im richtigen Kontext bleiben. Wenn Probleme durch diese „Post“ -Tests erkannt werden, kann die Technologie einen Herstellungsprozess automatisch stoppen und Benutzer auf das Problem aufmerksam machen. LORLIN DI ist mit einem modularen, skalierbaren Design konzipiert, um es einfach an die Bedürfnisse verschiedener Anwendungen und Einsatzskalen anzupassen. Es wurde entwickelt, um bis zu 900 Teststifte bereitzustellen, die mit verschiedenen Sondentestern verbunden werden können, sodass Hersteller mehrere Geräte parallel testen und steuern können. Als Double Impact Testmodell integriert LORLIN DI auch mechanische und elektrische Testfunktionen und bietet vielseitige Testlösungen auf einer Plattform. Die Ausrüstung bietet auch erweiterte Fehlerisolierungs- und Reparaturfunktionen. Während des Tests können Benutzer auf Echtzeit-Diagnosebildschirme zugreifen, um Fehler und den Ort ihrer Quelle genau zu erkennen und zu identifizieren, bevor sie behoben werden können. Die grafische Benutzeroberfläche zeigt Berichte mit Testergebnissen und Fehlerstellen an, die für die zukünftige Verwendung gespeichert werden können. Insgesamt bietet LORLIN Double Impact ein umfassendes abschließendes Testsystem zur Auswertung elektronischer Geräte. Der zweistufige Testprozess, erweiterte Fehlerisolierungs- und Reparaturfunktionen sowie Echtzeit-Testergebnisse ermöglichen eine schnelle, genaue und kostengünstige Bewertung und Prüfung von Geräten. Der modulare und skalierbare Aufbau des Geräts eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Großserienfertigung bis hin zu technischen Testlaborumgebungen.
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