Gebraucht LTX-CREDENCE ASL-1000 #9151199 zu verkaufen

LTX-CREDENCE ASL-1000
ID: 9151199
Tester Slots / Broads Slot 1 / OVI_30mA Slot 2 / OVI_30mA Slot 3 / OVI_30mA Slot 4 / PVI Slot 5 / TMU Slot 6 / DDD Slot 7 / DVI_300mA Slot 8 / DVI_2A Slot 9 / DVI_2A Slot 10 / MUX Slot 11 / DVI_300mA Slot 12 / OVI_30mA Slot 13 / MUX Config: SCB DMM: 3458A.
LTX-CREDENCE ASL-1000 ist eine hochmoderne Endprüfanlage, die entwickelt wurde, um genaue, elektrische Testergebnisse in hochvolumigen Wafertestanwendungen in Echtzeit zu liefern. Das System verfügt über einen Hochgeschwindigkeits-ATE-Motor, der mehr als 1.000 Werkzeuge pro Sekunde testen kann, eine innovative Mixed-Signal Automation (MSA) -Einheit und ein integriertes Software-Paket für statistische Analyse. Diese Maschine ist robust, zuverlässig und einfach zu bedienen und zu warten. Die ATE-Engine besteht aus einem Signalpfad von Differential-, DC- und AC-Analogfunktionen, einem digitalen Signalpfad mit Hochgeschwindigkeitszählern/Timern, IEEE-1149.1/1149.4 JTAG-Unterstützung und „Vector-Path“ -Zugriff zur Erzeugung von Sequenzen. Das Tool ist in mehreren Konfigurationen verfügbar, einschließlich Einzel- und Dual-Wafer-Handlers. Beide Systeme sind in der Lage, bis zu 32 Konfigurationen mit mehreren Karten zu erwerben. Die Speichergrößen für die Systeme können von 4K bis 32K pro Wafer konfiguriert werden. Das MSA Asset von LTX-CREDENCE ASL 1000 wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Mischsignal-Testtypen zu behandeln, einschließlich Spannung, Strom, Kapazität und Leckage. Unter Verwendung von Hochgeschwindigkeits-Scan-Ketten kann es bis zu 32 Stempel gleichzeitig testen, was einen erhöhten Durchsatz ermöglicht. Darüber hinaus unterstützt es eine breite Palette von Testprotokollen, einschließlich I2C, SPI und RS-232, so dass es in einer Vielzahl von Testanwendungen verwendet werden kann. Das integrierte statistische Analysepaket bietet Anwendern eine umfassende Ergebnisoptimierung. Echtzeit- und historische Ergebnisse können überwacht werden, so dass eine detaillierte Analyse und Optimierung der Testparameter möglich ist. Die Software verfügt über mehrere leistungsstarke Laufzeitalgorithmen, die es dem Benutzer ermöglichen, die Testparameter auf der Grundlage der aktuellen Gerätebedingungen schnell zu kalibrieren. Darüber hinaus kann das Modell mit Hilfe eines Vorhersagekapazitätsalgorithmus die gesamte Testzeit mit integrierten Ermüdungsmonitoren optimieren und so getestete Geräte mit verbesserten Erträgen ermöglichen. Insgesamt ist ASL-1000 ein fortschrittliches Endprüfgerät, das zuverlässige und genaue Tests in Serienanwendungen bereitstellen kann. Die Hochgeschwindigkeits-ATE- und MSA-Systeme sowie das integrierte statistische Analysepaket helfen Benutzern, das Beste aus ihren Wafer-Testoperationen zu erhalten.
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