Gebraucht LTX-CREDENCE D10 #9200115 zu verkaufen

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Hersteller
LTX-CREDENCE
Modell
D10
ID: 9200115
Weinlese: 2009
Tester PC: Super micro 2.4G Slot / Type / Part number 0 / DPIN 96 / 671-5450-91B 1 / DPIN 96 / 671-5450-81A 2 / DPIN 96 / 671-5450-91B 3 / DPIN 96 / 671-5450-91B 4 / DPS16 / 672-6136-07A 5 / VIS 16 / 672-6194-11CA 9 / DIBU / 671-7045-10AD Backplane / Passive MB / - Backplane / Mezzanine / - 2009 vintage.
LTX-CREDENCE D10 ist ein robustes, umfassendes Endprüfgerät, das für die Produktion fortschrittlichster elektronischer Komponenten entwickelt wurde. Das System kann eine vollständige Hochgeschwindigkeitsprüfung für Hunderte von Geräten gleichzeitig in einer kompakten, vibrationsbeständigen Plattform durchführen. Dieses Gerät ist in der Lage, eine breite Palette von Eigenschaften wie Spannung, Strom, Leistung, Frequenz, Rauschen und Signalintegrität zu überwachen. Die Multi-Panel Test (MPT) -Technologie bietet umfassende elektrische Leistungstests auf der integrierten Schaltung (IC). Die MPT-Technologie kann konfiguriert werden, um Spannung, Strom, Leistung, Jitter und Frequenzantworten von DC auf 100 MHz mit Genauigkeiten bis zum Nanosekundenniveau zu messen. LTX-CREDENCE D-10 bietet auch komplette Testlösungen für fortschrittliche elektrische und physikalische Eigenschaften, einschließlich Temperatur- und Druckmessungen. Seine fortschrittliche thermische Test- und Überwachungsfähigkeit ermöglicht die Berichterstattung und Analyse von Werkzeug- und Packungstemperaturen, die dazu beitragen, einen ordnungsgemäßen Betrieb und Zuverlässigkeit für eine Reihe von Komponenten sicherzustellen. In ähnlicher Weise helfen die fortschrittlichen HF- und Mikrowellenmessungen der Maschine, die Einhaltung der Industriestandards zu bestätigen. Die Softwareumgebung des Tools ist so konfiguriert, dass eine Vielzahl von Tests und Analysemethoden problemlos durchgeführt werden können. Seine benutzerfreundliche Oberfläche macht es einfach, Tests einzurichten, auszuführen und zu speichern. Es liefert auch Echtzeit-grafische Ergebnisse, die für eine verbesserte Diagnostik semantisch analysiert werden können. Darüber hinaus unterstützt das Asset benutzerdefinierte Test-Suiten mit einer breiten Palette von Standard- und benutzerdefinierten Test- und Messinstrumenten, die Skalierbarkeit ermöglichen. Tests wie Single-Event-Upset-Tests und Kurzschlusstests können einfach programmiert und bereitgestellt werden, während automatisierte Analyseberichte und Dokumentation aus Testergebnissen generiert werden können. Insgesamt bietet D 10 eine umfassende Hochgeschwindigkeitslösung für Tests und Diagnosen der fortschrittlichsten ICs. Die erweiterten Sensor- und Überwachungsfunktionen ermöglichen es dem Modell, präzise, wiederholbare Ergebnisse in minimalem Platzbedarf zu liefern, während seine benutzerfreundliche Oberfläche das Setup und Testmanagement vereinfacht.
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