Gebraucht LTX-CREDENCE Fusion MX #9218060 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
![LTX-CREDENCE Fusion MX Foto Verwendet LTX-CREDENCE Fusion MX Zum Verkauf](https://cdn.caeonline.com/images/ltx-credence_fusion-mx_947514.jpg)
![Loading](/img/loader.gif)
Verkauft
ID: 9218060
Weinlese: 2005
Tester
(40) Slots system
Can support up to 512 FX digital pins
EX-Style DUT site
Includes:
Linux workstation X
Flat panel monitor
16 OVI Pins: 16V, 550mA/1A 1Cbit/pin
16 HCOVI Pins: 4V/8V range, 5uA-1A (6 range)
16 VI16 Pins: 16V, 100mA
4 AWG HSB Pins: 16bits, 250Ms/sec
2 Digitizer HSB Pins: 14bit, 100Ms/s
16 FX1 200MHz Digital pins
32 PecHd digital pins
16 PecHs digital pins
DPS: Send and receive
Enhanced timing distribution card dual crate
Infrastructure for FX digital pins
(8) RF 16D Ports
Base RF subsystem
Dual source
LO Generators
Slot 0: ssb
Slot 1: ssba
Slot 2: OVI 1-8
Slot 3: HcOvi
Slot 7: Vi16
Slot 8: Vi16 1-16
Slot 9: SWG 1-2
Slot 10: SWG
Slot 11: DIGHSB
Slot 12: DIGHSB 1-2
Slot 13: HSIO
Slot 15: PecFx
Slot 16: PecHd
Slot 17: FX1 TMBD
Slot 18: PecHd
Slot 21: DigHR
Slot 32: ssb
Slot 33: ssba
Slot 34: OVI 65-72
Slot 35: HcOvi
Slot 41: DigHR
Not included:
(2) SMA100 RF Generators
(2) SMATE200 RF Generators
2005 vintage.
LTX-CREDENCE Fusion MX ist eine leistungsstarke, mehrkanalige Testausrüstung, die für die Endprüfung komplexer Leiterplatten (PCBs) mit hoher Dichte entwickelt wurde. Seine robuste Architektur bietet Skalierbarkeit und Effizienz für mehrere Testumgebungen. Fusion MX ist mit einer umfangreichen Palette von branchenüblichen Testfunktionen ausgestattet, darunter Digital Signal Integrity (DSI), Boundary Scan, Opendesign, Enhanced Core Feature Testing (ECFT), JTAG, Wafer Level Testing und mehr. Die integrierte DSI-Technologie ermöglicht die Prüfung von Hochgeschwindigkeitssignalen und deren Signalintegritätseigenschaften. Sein adaptives Schaltmodul ermöglicht das Schalten von digitalen, analogen und Leistungssignalen und bietet so die Flexibilität, eine Vielzahl von Leiterplattenarchitekturen zu handhaben. Die Signalintegritätsabdeckung wird durch eine erweiterte Core-Feature-Testing (ECFT) -Testsuite weiter verbessert, die eine tiefgreifende Fehlererkennung mit Pin-Level-Abdeckung ermöglicht. Die Onboard JTAG Boundary Scan Engine erhöht deutlich die Geschwindigkeit, mit der Fehler erkannt und auf komplexen Leiterplatten lokalisiert werden können. Es verfügt über erweiterte Datenanalysefunktionen und eine erweiterte Core-Feature-Testing-Suite für Geschwindigkeit und Genauigkeit während der Fehlerdiagnose. Die Opendesign-Technologie bietet mehr Flexibilität, indem sie das Testen benutzerdefinierter Logikkonfigurationen ermöglicht, wodurch die Testzeit reduziert und die Testabdeckung erhöht wird. Das Wafer Level Testing (WLT) -Modul bietet eine breite Abdeckung von Komponenten, einschließlich RAM, ROM, Flash und anderen nichtflüchtigen Speichergeräten. LTX-CREDENCE Fusion MX verfügt auch über ein Multiplexsystem, das Signale zwischen zwei oder mehr Komponenten, die gleichzeitig getestet werden müssen, leiten kann. Dadurch kann das Gerät in virtuellen und parallelen Testsituationen eingesetzt werden. Es bietet sich beide Echtzeitdaten übertragen Ratenüberwachung sowie Anschaltenentdeckung, glatte Übergänge zwischen Bestandteilen sichernd. Fusion MX enthält eine Reihe von zusätzlichen Funktionen wie eine lineare Power (LP) -Schnittstelle, die es der Maschine ermöglicht, den Stromverbrauch eines Layouts zu messen. LTX-CREDENCE Fusion MX verfügt auch über eine LED-Anzeige zur visuellen Rückmeldung während des Testens oder Debuggens und ein erweitertes Operations-Dashboard, mit dem Bediener den Fortschritt eines Testauftrags auf einen Blick überwachen können. Abschließend ist Fusion MX ein leistungsstarkes, mehrkanaliges Testwerkzeug, das für die härtesten Endprüfanforderungen entwickelt wurde. Die breite Palette an Technologien und fortschrittlichen Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für das Testen von Leiterplatten und eignet sich hervorragend für Automobil- und Industrieanwendungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor