Gebraucht LTX-CREDENCE Fusion MX #9218060 zu verkaufen

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ID: 9218060
Weinlese: 2005
Tester (40) Slots system Can support up to 512 FX digital pins EX-Style DUT site Includes: Linux workstation X Flat panel monitor 16 OVI Pins: 16V, 550mA/1A 1Cbit/pin 16 HCOVI Pins: 4V/8V range, 5uA-1A (6 range) 16 VI16 Pins: 16V, 100mA 4 AWG HSB Pins: 16bits, 250Ms/sec 2 Digitizer HSB Pins: 14bit, 100Ms/s 16 FX1 200MHz Digital pins 32 PecHd digital pins 16 PecHs digital pins DPS: Send and receive Enhanced timing distribution card dual crate Infrastructure for FX digital pins (8) RF 16D Ports Base RF subsystem Dual source LO Generators Slot 0: ssb Slot 1: ssba Slot 2: OVI 1-8 Slot 3: HcOvi Slot 7: Vi16 Slot 8: Vi16 1-16 Slot 9: SWG 1-2 Slot 10: SWG Slot 11: DIGHSB Slot 12: DIGHSB 1-2 Slot 13: HSIO Slot 15: PecFx Slot 16: PecHd Slot 17: FX1 TMBD Slot 18: PecHd Slot 21: DigHR Slot 32: ssb Slot 33: ssba Slot 34: OVI 65-72 Slot 35: HcOvi Slot 41: DigHR Not included: (2) SMA100 RF Generators (2) SMATE200 RF Generators 2005 vintage.
LTX-CREDENCE Fusion MX ist eine leistungsstarke, mehrkanalige Testausrüstung, die für die Endprüfung komplexer Leiterplatten (PCBs) mit hoher Dichte entwickelt wurde. Seine robuste Architektur bietet Skalierbarkeit und Effizienz für mehrere Testumgebungen. Fusion MX ist mit einer umfangreichen Palette von branchenüblichen Testfunktionen ausgestattet, darunter Digital Signal Integrity (DSI), Boundary Scan, Opendesign, Enhanced Core Feature Testing (ECFT), JTAG, Wafer Level Testing und mehr. Die integrierte DSI-Technologie ermöglicht die Prüfung von Hochgeschwindigkeitssignalen und deren Signalintegritätseigenschaften. Sein adaptives Schaltmodul ermöglicht das Schalten von digitalen, analogen und Leistungssignalen und bietet so die Flexibilität, eine Vielzahl von Leiterplattenarchitekturen zu handhaben. Die Signalintegritätsabdeckung wird durch eine erweiterte Core-Feature-Testing (ECFT) -Testsuite weiter verbessert, die eine tiefgreifende Fehlererkennung mit Pin-Level-Abdeckung ermöglicht. Die Onboard JTAG Boundary Scan Engine erhöht deutlich die Geschwindigkeit, mit der Fehler erkannt und auf komplexen Leiterplatten lokalisiert werden können. Es verfügt über erweiterte Datenanalysefunktionen und eine erweiterte Core-Feature-Testing-Suite für Geschwindigkeit und Genauigkeit während der Fehlerdiagnose. Die Opendesign-Technologie bietet mehr Flexibilität, indem sie das Testen benutzerdefinierter Logikkonfigurationen ermöglicht, wodurch die Testzeit reduziert und die Testabdeckung erhöht wird. Das Wafer Level Testing (WLT) -Modul bietet eine breite Abdeckung von Komponenten, einschließlich RAM, ROM, Flash und anderen nichtflüchtigen Speichergeräten. LTX-CREDENCE Fusion MX verfügt auch über ein Multiplexsystem, das Signale zwischen zwei oder mehr Komponenten, die gleichzeitig getestet werden müssen, leiten kann. Dadurch kann das Gerät in virtuellen und parallelen Testsituationen eingesetzt werden. Es bietet sich beide Echtzeitdaten übertragen Ratenüberwachung sowie Anschaltenentdeckung, glatte Übergänge zwischen Bestandteilen sichernd. Fusion MX enthält eine Reihe von zusätzlichen Funktionen wie eine lineare Power (LP) -Schnittstelle, die es der Maschine ermöglicht, den Stromverbrauch eines Layouts zu messen. LTX-CREDENCE Fusion MX verfügt auch über eine LED-Anzeige zur visuellen Rückmeldung während des Testens oder Debuggens und ein erweitertes Operations-Dashboard, mit dem Bediener den Fortschritt eines Testauftrags auf einen Blick überwachen können. Abschließend ist Fusion MX ein leistungsstarkes, mehrkanaliges Testwerkzeug, das für die härtesten Endprüfanforderungen entwickelt wurde. Die breite Palette an Technologien und fortschrittlichen Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für das Testen von Leiterplatten und eignet sich hervorragend für Automobil- und Industrieanwendungen.
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