Gebraucht LTX-CREDENCE Kalos XW #9270568 zu verkaufen

LTX-CREDENCE Kalos XW ist eine umfassende „Endtest“ -Ausrüstung, die für die groß angelegte, robuste und schnelle Prüfung komplexer ICs (Integrated Circuits) entwickelt wurde. Es ist mit einer umfassenden Suite von Nägeln, Vollabdeckungs-Boundary-Scan-Testern, Hochgeschwindigkeits-Offline-Test und Box-Level-Testsystemen ausgestattet. Dieses System ist für Testanwendungen mit Hochfrequenz- und Signalintegritätseigenschaften im Zusammenhang mit ICs für eine breite Palette von Marktsegmenten konzipiert. Das Gerät umfasst ein Diagnosesubsystem, einen Testkopf, ATE (Automated Testing Environment) und mehrere Benutzeroberflächen. Das Leiterplatten-Diagnosesubsystem führt die gesamte Kette von Tests auf den ICs durch, vom Einschalten bis hin zu Funktionstests, einschließlich automatischer und manueller Tests. Ergänzt wird das Leiterplattendiagnosesystem durch den Testkopf, der Mehrkanaltests mit einer optimierten Kombination von Hardware, Software und Sonden ermöglicht. Darüber hinaus bietet das ATE eine leistungsstarke, aber intuitive Plattform zur Entwicklung exakter Testumgebungen für verschiedene Testfälle und IC-Typen. Darüber hinaus bietet Kalos XW eine breite Palette von Benutzeroberflächen wie RS-232, USB, Ethernet und GPIB (General Purpose Interface Bus). Diese Schnittstellen ermöglichen den Zugriff auf automatische Prüfablaufsteuerung, Vorrichtungssteuerung und Testergebnisanalyse. Die fortschrittliche Leistungsfähigkeit der Maschine wird durch strukturelle und funktionelle Testfunktionen weiter verbessert, die einseitige Platinen auf Mehrschichtplatten hoher Dichte unterstützen. Platinen mit hoher Pin-Anzahl können mit mehreren Testköpfen mit verbindungsloser Fehlerabdeckung getestet werden, um Fehler schnell zu isolieren und zu charakterisieren. LTX-CREDENCE Kalos XW unterstützt sowohl 32 als auch 64-Bit-Plattformen für die meisten IC-Designs mit mehreren ATE-Kernplattformen und hohen Durchsatztestkapazitäten von bis zu 192 Pins. Gleichzeitig bietet Kalos XW schnelle Testzeiten auch beim Testen komplexer ICs wie Mikroprozessoren, Speicher und FPGAs. Hochgeschwindigkeitstestschnittstellen umfassen fortschrittliche optische Sondierungstechnologien, Niederspannungs-DC-Tests, automatisierte Sondierung und Temperaturkontrolle. Darüber hinaus integriert das Tool erweiterte Datenerfassungstools, Analysefunktionen und eine leistungsstarke Skriptsprache, die ein schnelles Prototyping komplexer Testprogramme ermöglicht. Darüber hinaus unterstützt LTX-CREDENCE Kalos XW die neuesten technologischen Fortschritte und umfasst eine erweiterte Fehlerabdeckung, eine detaillierte statistische Analyse, modernste Visualisierungswerkzeuge und eine 100% transparente Steuerung von Be- und Entladesignalen. Darüber hinaus gehören automatisierte Antwortdiagnosen, automatisierte Fehlerabdeckung und fortschrittliche Quantifizierungstechniken zu den verfügbaren Funktionen. Abschließend ist Kalos XW ein revolutionärer „Final Test“, der auf die anspruchsvollsten Testanforderungen ausgelegt ist. Es bietet leistungsstarke Funktionen, so dass Kunden schnell robuste, zuverlässige und Hochgeschwindigkeitstests für ihre fortschrittlichsten Geräte entwickeln können.