Gebraucht LTX-CREDENCE Quartet #9213487 zu verkaufen
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ID: 9213487
Weinlese: 1990
Tester
Prober interface
Pogo tower
PIB Board
Digital and DSP analog per-pin architecture
Digital and mixed-signal
Fully pin mapped
Multisite testing
Digital I/O channels: 32 to 512
Formatted data I/O: 200 MHz
Clock data I/O: 200 MHz
Memory: 8 Meg vector to 64 Meg vector
Switch: Period and timing sets
Synchronous clock: 128 per Digital pins
Low jitter
Source / Measure synchronization
DSP Analog channels: 4 to 128
Independent scan memory
Full spectrum of impedance matched
Differential DSP instruments
Independent DSP processor per capture instrument
Phase coherent: Superclock per DSP instrument
Integrated analog and digital
UNIX Based workstation
Fully integrated network and prober / Handler interfaces
(2) Analog segments
(4) Independent digital subsystems
Test tool
Clock speed: 150 MHz
Scan: 256 M
MP Type: Hinge
256 Channels
(2) DPS
Vector memory: 16 M
PMU 64 Channels: 4
PE Card 8 channels: 32
VI8: 1
DIST B/D: 4
PPM 16 Channels: 16
Cycle length 128 channels: 2
Heat output / Displacement: 20,600 kCal (86,520 J)/100 m³/m
Power supply: 187-228 VAC, 3 Phase
1990 vintage.
LTX-CREDENCE Quartett ist eine abschließende Testausrüstung, die für einen umfassenden Test von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Das System vereint vier wesentliche Werkzeuge in einer kompakten Plattform; einen parametrischen Tester, einen Kurventracer, eine Halbleiterwaferinspektionseinheit und eine automatisierte Schnittstelle. Alle vier Werkzeuge sind in einem Gerät integriert, was eine verbesserte Effizienz und Komfort bei der Produktionsprüfung von Halbleiterbauelementen ermöglicht. Quartett-Testmaschine verfügt über einen parametrischen Tester zum Testen von Parametern wie Verstärkung und Steigungsrate von integrierten Schaltungen. Der parametrische Tester ist in der Lage, sowohl statische Komponenten als auch solche mit dynamischen Eigenschaften zu testen. Es kann auch verwendet werden, um Halbleiterdüsen sowie eine Vielzahl von verschiedenen Gehäusekonfigurationen zu testen. Das Werkzeug bietet auch einen programmierbaren Waferkurventracer zum Testen von Halbleiterscheiben oder Dünnschichttransistoren. Dieses Werkzeug ist in der Lage, Strom, Spannung und Kapazität zu messen und kann zur Analyse der elektrischen Eigenschaften kleiner Halbleiterbauelemente verwendet werden. Das Inspektionsobjekt des LTX-CREDENCE Quartetts bietet einen umfassenden Überblick über die getesteten Halbleiterbauelemente. Dieses Modell ist in der Lage, schnell Fotos der Komponenten zu machen und hochauflösende Bilder zu erzeugen, mit denen festgestellt werden kann, ob Fehler vorliegen. Das Gerät enthält auch fortschrittliche Algorithmen, um Anomalien in der physischen Form der Geräte zu erkennen. Die vom System erzeugten Bilder werden automatisch in einer sicheren Cloud gespeichert und können später im Produktionsprozess schnell referenziert werden. Schließlich bietet Quartett eine intuitive, automatisierte Oberfläche, die eine einfache Bedienung ohne manuelle Eingriffe ermöglicht. Diese Schnittstelle ermöglicht es Benutzern, das Gerät schnell und einfach für eine Vielzahl von Tests zu konfigurieren, die Rüstzeit zu reduzieren und die Produktivität zu verbessern. Aus all diesen Gründen ist LTX-CREDENCE Quartett eine attraktive Endprüfmaschine für die Halbleiterproduktion. Seine Fähigkeit, vier wesentliche Werkzeuge zu kombinieren, ermöglicht eine schnelle und bequeme Prüfung von integrierten Schaltungen, Wafern und anderen Komponenten, während seine intuitive Schnittstelle es einfach zu bedienen macht. Alles in allem ist dieses Tool eine gute Wahl für jede Halbleitertestaufgabe.
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