Gebraucht LTX-CREDENCE Quartet #9213487 zu verkaufen

ID: 9213487
Weinlese: 1990
Tester Prober interface Pogo tower PIB Board Digital and DSP analog per-pin architecture Digital and mixed-signal Fully pin mapped Multisite testing Digital I/O channels: 32 to 512 Formatted data I/O: 200 MHz Clock data I/O: 200 MHz Memory: 8 Meg vector to 64 Meg vector Switch: Period and timing sets Synchronous clock: 128 per Digital pins Low jitter Source / Measure synchronization DSP Analog channels: 4 to 128 Independent scan memory Full spectrum of impedance matched Differential DSP instruments Independent DSP processor per capture instrument Phase coherent: Superclock per DSP instrument Integrated analog and digital UNIX Based workstation Fully integrated network and prober / Handler interfaces (2) Analog segments (4) Independent digital subsystems Test tool Clock speed: 150 MHz Scan: 256 M MP Type: Hinge 256 Channels (2) DPS Vector memory: 16 M PMU 64 Channels: 4 PE Card 8 channels: 32 VI8: 1 DIST B/D: 4 PPM 16 Channels: 16 Cycle length 128 channels: 2 Heat output / Displacement: 20,600 kCal (86,520 J)/100 m³/m Power supply: 187-228 VAC, 3 Phase 1990 vintage.
LTX-CREDENCE Quartett ist eine abschließende Testausrüstung, die für einen umfassenden Test von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Das System vereint vier wesentliche Werkzeuge in einer kompakten Plattform; einen parametrischen Tester, einen Kurventracer, eine Halbleiterwaferinspektionseinheit und eine automatisierte Schnittstelle. Alle vier Werkzeuge sind in einem Gerät integriert, was eine verbesserte Effizienz und Komfort bei der Produktionsprüfung von Halbleiterbauelementen ermöglicht. Quartett-Testmaschine verfügt über einen parametrischen Tester zum Testen von Parametern wie Verstärkung und Steigungsrate von integrierten Schaltungen. Der parametrische Tester ist in der Lage, sowohl statische Komponenten als auch solche mit dynamischen Eigenschaften zu testen. Es kann auch verwendet werden, um Halbleiterdüsen sowie eine Vielzahl von verschiedenen Gehäusekonfigurationen zu testen. Das Werkzeug bietet auch einen programmierbaren Waferkurventracer zum Testen von Halbleiterscheiben oder Dünnschichttransistoren. Dieses Werkzeug ist in der Lage, Strom, Spannung und Kapazität zu messen und kann zur Analyse der elektrischen Eigenschaften kleiner Halbleiterbauelemente verwendet werden. Das Inspektionsobjekt des LTX-CREDENCE Quartetts bietet einen umfassenden Überblick über die getesteten Halbleiterbauelemente. Dieses Modell ist in der Lage, schnell Fotos der Komponenten zu machen und hochauflösende Bilder zu erzeugen, mit denen festgestellt werden kann, ob Fehler vorliegen. Das Gerät enthält auch fortschrittliche Algorithmen, um Anomalien in der physischen Form der Geräte zu erkennen. Die vom System erzeugten Bilder werden automatisch in einer sicheren Cloud gespeichert und können später im Produktionsprozess schnell referenziert werden. Schließlich bietet Quartett eine intuitive, automatisierte Oberfläche, die eine einfache Bedienung ohne manuelle Eingriffe ermöglicht. Diese Schnittstelle ermöglicht es Benutzern, das Gerät schnell und einfach für eine Vielzahl von Tests zu konfigurieren, die Rüstzeit zu reduzieren und die Produktivität zu verbessern. Aus all diesen Gründen ist LTX-CREDENCE Quartett eine attraktive Endprüfmaschine für die Halbleiterproduktion. Seine Fähigkeit, vier wesentliche Werkzeuge zu kombinieren, ermöglicht eine schnelle und bequeme Prüfung von integrierten Schaltungen, Wafern und anderen Komponenten, während seine intuitive Schnittstelle es einfach zu bedienen macht. Alles in allem ist dieses Tool eine gute Wahl für jede Halbleitertestaufgabe.
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