Gebraucht LTX-CREDENCE Sapphire 40 #9189360 zu verkaufen

LTX-CREDENCE Sapphire 40 Final Test ist eine funktionsreiche, kostengünstige Plattform für erweiterte Wafer-Testfunktionen. Es wurde entwickelt, um die kritischen Anforderungen der extremen Umgebung von Wafer-Testanwendungen mit erweiterten Funktionen zu erfüllen. Das System verfügt über eine fortschrittliche Benutzeroberfläche, die anspruchsvolle Automatisierung und Benutzerfreundlichkeit unterstützt. Mit seinen integrierten Werkzeugen ermöglicht das Gerät mehr Genauigkeit und Effizienz in Testprozessen. Sapphire 40 bietet die neueste Konnektivität und fortschrittliches Design. Es ist ideal für Anwendungen, in denen eine Reihe von komplexen Messungen durchgeführt werden müssen, einschließlich Timing, Signalintegrität und HF-Messungen. Die Maschine umfasst einen hochmodernen Messserver mit leistungsfähigem Datenbankzugriff, eine Vielzahl digitaler Signalanalysefunktionen sowie ausgeklügelte Timing- und Signalintegritätsfunktionen. Das Tool wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Geräten wie Komponenten wie Photodioden und Verzögerungsketten, integrierte Schaltungen (ICs) und eine Vielzahl anderer elektrischer und elektronischer Geräte zuverlässig zu überwachen und zu steuern. Das Asset bietet auch erweiterte Programmierfunktionen wie Skriptgenerierung und Parameterkonfiguration, und seine umfangreiche Bibliothek von Messungen Access-Ports/Schwierigkeiten machen es einfach, mit einer Vielzahl von Geräten zu arbeiten. Das Modell bietet zuverlässige hochpräzise Messungen und Messungen, die Leistung und Genauigkeit bieten, die Industriestandards erfüllen oder übertreffen. Die Ausrüstung ist hoch fortgeschritten mit einfach zu bedienender Automatisierung mit fortschrittlichen Benutzeroberflächen. Auf diese Weise können Benutzer wiederholbare Testmethoden und -programme schnell und einfach erstellen. Die Plattform bietet auch eine Reihe von Schnittstellen und Peripheriegeräten, die konfiguriert werden können, um benutzerdefinierte Tests durchzuführen und Parameter für verschiedene Arten von Komponenten auszuwerten. Dank seiner Flexibilität können Benutzer LTX-CREDENCE Sapphire 40 für verschiedene Test- und Messanwendungen konfigurieren. Das System unterstützt das innovative SmartFlex Toolkit für erweiterte Debugging und Analyse sowie die Fähigkeit, Live-Trace-Daten von einem zu testenden Gerät zu erfassen. Saphir 40 ist eine äußerst vielseitige Einheit für den Endeinsatz, die in der Lage ist, eine Reihe anspruchsvoller Test- und Messanwendungen zu bewältigen. Die fortschrittliche Benutzeroberfläche, die ausgeklügelte Automatisierung und die Möglichkeit, sich mit anderen Tools und Peripheriegeräten zu integrieren, machen es zu einer idealen Plattform für eine Vielzahl von Testanforderungen.