Gebraucht LTX-CREDENCE Sapphire NP #293625628 zu verkaufen

LTX-CREDENCE Sapphire NP ist eine Ausrüstung, die als Abschlusstest für verschiedene integrierte Schaltungen (ICs) konzipiert ist. Es verfügt über eine fortschrittliche Scan-Testmethode, die in automatisierte Testlösungen integriert werden kann, um die höchste Genauigkeit und Integrität der Testergebnisse zu liefern. Sapphire NP-System bietet eine leistungsfähige Kombination von Funktionen, die volumenstarke Tests, optimierte Testzeit, niedrigste Kosten pro Test, überlegene Fehlerabdeckung und sehr zuverlässige Ergebnisse ermöglichen. Das Gerät verwendet eine herkömmliche Scan-basierte Teststruktur mit einem kompletten Satz von Testschritten und Testalgorithmen. Jeder Scan-Testschritt ist auf einen bestimmten Defekt zugeschnitten und optimiert den Test auf Genauigkeit und Produktionsgeschwindigkeit. Es ist in der Lage, hochzuverlässige Testmuster bei mehreren hundert Millionen Operationen pro Sekunde zu erzeugen. In Kombination mit einer benutzerdefinierten Scan-Testprogrammierung kann diese Funktion die Testzeit erheblich reduzieren und die Genauigkeit erhöhen. Neben der Scan-basierten Testfähigkeit verfügt LTX-CREDENCE Sapphire NP auch über mehrere Parameter zur Anpassung von Testverfahren. Diese Parameter umfassen Grenztests, Triggerskalierbarkeit, Signaturtests, Vektorschrumpfsteuerung, Testverzögerungsreduzierung und dynamische Leistungssteuerung. Diese Anpassungsoptionen stellen sicher, dass Benutzer das Tool genau auf ihre Testanforderungen abstimmen können. Das Asset verfügt zudem über eine hochgradig konfigurierbare Scanarchitektur, die robuste Tests mit geringem Volumen ermöglicht. Es bietet eine automatisierte parallele Testeinführung, Sequenzierung und Analyse. Diese Funktion ermöglicht es dem Modell, ein Testarray in mehrere, kleinere Stücke zu unterteilen, sodass jede dieser Scheiben parallel getestet werden kann. Dies hilft, geringere Testzeiten und eine höhere Genauigkeit in einer Vielzahl von Konfigurationen zu erreichen. Insgesamt ist Sapphire NP eine fortschrittliche, Zweizweck-Scan-Testausrüstung, die ultraschnelle Testergebnisse und eine überlegene Fehlerabdeckung liefert. Die leistungsstarken Funktionen und die Hochgeschwindigkeits-Scan-basierte Architektur machen es zu einer idealen Wahl für jede IC-Testanwendung. Dank seiner erweiterten Anpassungsfunktionen bietet dieses System eine unübertroffene Vielseitigkeit, sodass Benutzer das Gerät auf ihre genauen Testanforderungen anpassen können.