Gebraucht LTX-CREDENCE Sapphire #9205876 zu verkaufen

LTX-CREDENCE Sapphire ist eine automatisierte Endprüfanlage, die den Anforderungen an die Beschleunigung der Halbleiterproduktion gerecht wird. Das System nutzt fortschrittliche, adaptive Testmethoden und -technologien, um die höchste Erkennungsempfindlichkeit für Funktionsfehler und Wellenformfehler bei extrem hoher Geschwindigkeit bereitzustellen. Saphir-Einheit ist mit einer skalierbaren Plattform entworfen, um die Anforderungen jedes Produktionsflusses zu erfüllen. Die hohe Durchsatzleistung ermöglicht es, Produktfehler schnell zu identifizieren und die Qualität eines Geräts sicherzustellen, bevor es in die endgültige Testphase übergeht. Der Hochgeschwindigkeitsprüfkern der Maschine umfasst einen hochmodernen Vektorprozessor, einen digitalen Hochgeschwindigkeitsprozessor (DSP) und einen Speicherbeschleuniger. Der Vector Prozessor ist in der Lage, bis zu 256 Millionen Umgebungspunkte pro Sekunde (Eepps) zu testen, was mehr als 1 Milliarde digitale Tore pro Sekunde entspricht. Der Hochgeschwindigkeits-DSP ermöglicht eine präzise Echtzeit-Charakterisierung von Signalwellenformen bis zu 400 Gigapixel pro Sekunde. An der Basis des Werkzeugs übernehmen fortschrittliche Präzisionssoftware und Hardware den Testfluss, die digitale Signalverarbeitung und die Wellenformkalibrierung. Die Softwareplattform ermöglicht es Benutzern, eigene Testvektoren zu erstellen und auszuführen und umfasst Funktionen zur Energieüberwachung, Datenprotokollierung und Fehleranalyse. Die Hardwareplattform umfasst mehrere Untersysteme zur Bereitstellung von On-Board-Testunterstützung. Darüber hinaus nutzt LTX-CREDENCE Sapphire Asset fortschrittliche integrierte Datenanalyse-Algorithmen zur umfassenden Fehlererkennung und ermöglicht gleichzeitig Anpassungen an kundenspezifische Anforderungen. Ein integrierter Testcontainer ermöglicht eine verkürzte Testzeit, während eine erweiterte Palette von Kanaloptionen Anwendern mehr Flexibilität und höhere Auflösung in ihren Tests gibt. Insgesamt bietet Sapphire-Modell Halbleiterherstellern eine effiziente und zuverlässige Lösung für schnelle, genaue Test- und Ertragsanalysen. Es bietet hohe Geschwindigkeit, Präzision und Genauigkeit für Funktions- und Wellenformfehler und trägt dazu bei, dass Geräte ihre spezifizierten Leistungsanforderungen erfüllen können. Letztendlich dient dies der Optimierung des Produktionsprozesses und der Reduzierung der Testkosten bei gleichzeitiger Lieferung eines qualitativ hochwertigeren und zuverlässigen Produkts.