Gebraucht LTX-CREDENCE SC 212 #9124513 zu verkaufen

LTX-CREDENCE SC 212 Final Test Equipment ist ein ausgeklügeltes elektrisches Testsystem für den Einsatz mit automatischer Testanwendung (ATA) und Wafer-Level-Prozessüberwachung. Es bietet eine komplette und integrierte Lösung für automatisierte Testtechnologie, einschließlich Design für Test (DFT) und Testdatensammlung, -analyse und -speicherung. Das Gerät verfügt über eine modulare Architektur mit integrierter Skalierbarkeit und Flexibilität, die erforderlich ist, um mehrere Geräte, Konfigurationen und Wafergrößen für verschiedene Testanwendungen zu unterstützen. Das Hauptmaschinengehäuse verfügt über Multiplexer, die für die Verbindung mehrerer Geräte am Werkzeug verantwortlich sind. Zum Asset gehört auch eine Plattform für Hostcomputer, die für die Kommunikation zwischen der Testplattform und den PCs verantwortlich ist. Die Modellkomponenten, einschließlich Multiplexer und PC-Plattformen, kommunizieren miteinander, um Testdaten zu sammeln und zu speichern. SC 212 verfügt über eine intuitive Plattform mit umfassenden Tools für das Test Engineering, wie zum Beispiel Parameterextraktion und Teststrategieaufbau. Die Parameterextraktion ist für eine hohe Wiederholbarkeit und Genauigkeit aller Tests unerlässlich. Das Gerät verfügt auch über die Fähigkeit, eine ATE-Systemkalibrierung durchzuführen, die erforderlich ist, um die Genauigkeit der Einheit zu gewährleisten und die Testergebnisse zu validieren. Die Maschine ist mit einer Reihe von Funktionen ausgelegt, die den Testdurchsatz verbessern. Der modulare Aufbau des Tools macht es einfach, das Asset für verschiedene Testanwendungen neu zu konfigurieren, und es kann sowohl in Einzelwafer- als auch in Multiwaferkonfigurationen ausgeführt werden. Darüber hinaus ist das Modell zur automatisierten Waferkalibrierung in der Lage, die eine genaue Definition von Testparametern über alle Wafer hinweg ermöglicht. Das Gerät verfügt über mehrere weitere erweiterte Funktionen, wie Kantenerkennung, integrierter Speicher und Wellenformanalyse. Die Kantenerkennung ist ein wichtiges Merkmal, um das Vorhandensein und Fehlen eines Geräts auf einem Wafer zu erkennen. Die Speicheranalyse ermöglicht die Auswertung gespeicherter Daten zur Auswertung von Testergebnissen und die Wellenformanalyse dient zur Charakterisierung der elektrischen Parameter von Geräten. Diese Funktionen ermöglichen es dem System, detaillierte Informationen und Ergebnisse über die Leistung einer Vielzahl von Geräten bereitzustellen. LTX-CREDENCE SC 212 Final Test Unit ist eine zuverlässige und leistungsstarke Testmaschine, die entwickelt wurde, um genaue Ergebnisse auf Wafer-Ebene Verarbeitung zu liefern. Die modulare Architektur und die erweiterten Funktionen machen es zu einer idealen Lösung für komplexe ATE-Anwendungen. Es ist eine perfekte Lösung für Testlabore, die nach einer umfassenden Lösung suchen, die zuverlässige und genaue Ergebnisse liefert.