Gebraucht MOSAID MS 4205 #9071591 zu verkaufen

MOSAID MS 4205 Final Test Equipment ist eine fortschrittliche Halbleitertestlösung, die für die Prüfung von fortschrittlichen Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Es bietet eine zuverlässige und effiziente Lösung für die Charakterisierung einer Vielzahl von Halbleiterbauelementen, einschließlich Transistoren, Dioden und Widerständen. Das System ist in der Lage, bis zu 8 Millionen Geräte pro Stunde zu testen, um eine schnelle und zuverlässige Prüfung zu gewährleisten. Das Gerät wird von einer Windows-basierten Software-Schnittstelle, MOSAID- ScanView™, die hochautomatisierte Sondierung, Gerätecharakterisierung, Debugging und Analyse bietet, angetrieben. Es wurde auch entwickelt, um verschiedene Testszenarien zu unterstützen, wie 2D-Scan-Mapping, parametrische Optimierung, statistische Abtastung und Wafer-Zuverlässigkeitstests. Darüber hinaus bietet es eine gleichzeitige Visualisierung der Geräteaktuatoren und des Zustands der Geräte. MOSAID MS4205 Final Test Machine verfügt über kompatible Sondenkarten für eine Vielzahl von Anwendungen, so dass der Benutzer das Testwerkzeug an seine Bedürfnisse anpassen kann. Die Anlage verfügt auch über eine Vielzahl von Testressourcen, wie Temperatur- und Vibrationskammern, Laserschneider und eine Vielzahl anderer Testressourcen. Die Software-Suite des Modells, MOSAID ProViewPlus, hilft, das Einrichten der Testparameter zu automatisieren und fehlgeschlagene Tests zu beheben. Die Geräte wurden für maximale Flexibilität und Skalierbarkeit konzipiert und bieten dem Benutzer eine breite Palette von Ressourcen, um seine Testaufgaben abzuschließen. Es enthält einen Host-PC mit einer Vielzahl von I/O-Ports für die Schnittstelle externer Zubehör, wie Drucker, sowie USB, Ethernet und GPIB-Verbindungen. Das System verfügt zudem über eine integrierte LIM und Backplane, die eine schnelle und zuverlässige Testmusterübertragung und -diagnose bietet. MS 4205 Final Test Unit wurde speziell entwickelt, um kostengünstige und präzise Tests für eine Vielzahl fortschrittlicher Halbleiterbauelemente bereitzustellen. Es verfügt über eine umfassende Palette von Funktionen und Tests für einfache Charakterisierung und Chip-Tests, und seine Skalierbarkeit und zuverlässige Leistung machen es zu einer großartigen Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen.