Gebraucht MOSAID MS 4205EX #9018299 zu verkaufen

MOSAID MS 4205EX ist ein abschließendes Testgerät, das zur Auswertung von Wafer-Sortierungs-Testanwendungen für integrierte Schaltungsgeräte verwendet wird. Es wurde entwickelt, um die Qualität und Zuverlässigkeit von Halbleiterbauelementen zu überprüfen und gleichzeitig Testzeit, Kosten und Ertrag zu optimieren. Dieses System bietet Hochgeschwindigkeitstests mit der Fähigkeit, bis zu 200 Wafer pro Stunde zu testen. MOSAID MS4205EX verfügt auch über fortschrittliche Musterkodierungstechnologie für überlegene Genauigkeit, um defekte Komponenten schnell zu isolieren und schnell nachzuarbeiten. MS 4205 EX verwendet eine Vielzahl von parametrischen Messtechniken, einschließlich Spannung, Temperatur, elektrisches Rauschen und optische elektrochemische Parameterprüfung. Alle diese Tests werden in derselben Station durchgeführt, um eine gleichbleibende Qualität und Zuverlässigkeit des Endprodukts zu gewährleisten. Zusätzlich zu diesen Tests bietet das Gerät eine automatische Wafer-Map-Inspektion mit hoch- und niederauflösender Bildgebung. Dies ermöglicht eine einfache Fehlerdiagnose, was zu einer schnellen Durchlaufzeit für die Produktauswahl und Sortierung führt. MS4205EX ermöglicht größere Moduldichten sowie die Möglichkeit, Chips hoher Dichte ohne manuellen Eingriff zu sortieren und zu härten. Die aktiven Sondierungsfunktionen der Maschine erleichtern die Überprüfung der Chipleistung sowie die Reparatur von Leiterplatten und anderen Gerätefehlern. Zusätzlich zu den aktiven Sondierungsfähigkeiten hat MS 4205EX die Fähigkeit, Geräteparameter für einen einfachen Vergleich zwischen Losen auszuwerten, zu speichern und abzurufen. Dieses Tool kann auch fortgeschrittene Mustertests und Vergleichstechniken durchführen, die die Messung der Leistung von Hochgeschwindigkeits- und leistungsschwachen Geräten ermöglichen. Um maximale Genauigkeit und Ausbeute zu gewährleisten, ist MOSAID MS 4205 EX mit einer Vielzahl von DSP- und Mathematikbibliotheken kompatibel und bietet effiziente Codesynthese- und Debug-Funktionen. Die Hochgeschwindigkeits-Tools zur statistischen Auswertung von MOSAID MS 4205EX ermöglichen eine schnelle Umdrehung der Wafer-Sortierergebnisse und ermöglichen einen hohen Durchsatz. Automatische Testprogrammoptimierung hilft bei der Verkürzung der Testzeit, bei der Abmeldung aller getesteten Geräte. Alle Hauptkomponenten von MOSAID- MS4205EX können auch schnell ausgetauscht werden, was einen schnellen Wechsel zwischen verschiedenen Testanforderungen ermöglicht. Diese Komponente ist auch mit Schaltkreis- und Funktionstests kompatibel und gewährleistet die Prüfung von Schaltkreisen höchster Qualität. Abschließend ist MS 4205 EX ein leistungsfähiges und effizientes abschließendes Testmodell für Wafersortiertestanwendungen. Seine erweiterte Musterkodierung, integrierte Messung und Debug-Funktionen machen es ideal für Gerätetests und -bewertungen. Die überlegene Geschwindigkeit, die automatisierte Optimierung von Testprogrammen und die schnelle Umstellung sorgen für einen außergewöhnlichen Durchsatz und eine beschleunigte Produktlieferzeit.