Gebraucht NEXTEST / TERADYNE Magnum II EV #9262995 zu verkaufen

NEXTEST/TERADYNE Magnum II EV ist eine endgültige Testlösung, die den Anforderungen der modernen Halbleiterherstellung gerecht wird. Es ist eine All-in-One-Lösung, die eine umfassende Testabdeckung mit fortschrittlichen Funktionen und einem kompakten Formfaktor kombiniert. Seine fortschrittlichen Fähigkeiten machen es ideal für die Prüfung der neuesten und älteren Geräte bei gleichzeitig überlegener Genauigkeit und Präzision. NEXTEST Magnum II EV-Geräte verwenden einen voll ausgestatteten automatisierten Prüfkopf (ATH) für maximale Leistung. Die ATH besteht aus einem Mainframe, einem Multi-Site-Testkopf und einer Controller-Einheit sowie Unterstützungsinstrumenten, die bei der Verarbeitung und Speicherung von Daten helfen. Diese Funktion ermöglicht die gleichzeitige Verbindung mehrerer Einheiten, um höchste Leistung zu ermöglichen. Mit dem integrierten Prüfkopf werden Rüst- und Betriebszeiten deutlich verkürzt, was zu einem verbesserten Testdurchsatz führt. TERADYNE Magnum II EV-System verfügt auch über eine FastIR-Testoption auf Stempelebene, die den Testprozess beschleunigt, indem sie Daten aus der Chipdüse schnell und genau erfasst. Dadurch entfällt der Bedarf an mehreren Boards und es wird eine schnelle und effiziente Testabdeckung gewährleistet. Darüber hinaus unterstützt das Gerät auch erweiterte Optionen wie Fast Flash, Fast Vector und FastFT. Diese Maschine kann mit bis zu acht separaten Testalgorithmen konfiguriert werden, einschließlich IEEE1149.1 und IEEE1149.4 DFT. Dies ermöglicht maximale Flexibilität beim Entwurf und Debuggen von Testprogrammen. Magnum II EV wird über eine intuitive, benutzerfreundliche GUI gesteuert, was Setup und Bedienung einfacher denn je macht. Mit seiner hochgradig anpassbaren Oberfläche können Anwender schnell und einfach zwischen verschiedenen Testprogrammen navigieren, sodass Benutzer schnell und effizient Testprogramme für verschiedene Geräte entwerfen können. NEXTEST/TERADYNE Magnum II EV-Tool bietet auch eine umfassende Testabdeckung mit bis zu acht Datenpunkten pro Pin und maximal sechs Tests pro Stempel. Auf diese Weise wird eine gründliche Testabdeckung sichergestellt, die sicherstellt, dass vorhandene Probleme ordnungsgemäß identifiziert und repariert werden. Die Anlage ist auch in der Lage, bis zu viermal schneller als wettbewerbsfähige Angebote zu testen, was einen erhöhten Produktionsdurchsatz und verbesserte Kosteneinsparungen ermöglicht. Darüber hinaus ist das NEXTEST Magnum II EV-Modell mit robusten Zuverlässigkeitsmaßnahmen ausgestattet, einschließlich redundanter Netzteile und ESD-sicherer Komponenten, die eine langfristige Stabilität gewährleisten. Insgesamt ist TERADYNE Magnum II EV eine komplette, all-in-one, endgültige Testlösung ideal für Halbleiterbauelementehersteller. Mit seiner umfassenden Testunterstützung, den fortschrittlichen Funktionen und der benutzerfreundlichen Schnittstelle bietet es überlegene Genauigkeit und Präzision in einem kompakten Formfaktor.