Gebraucht NEXTEST / TERADYNE Magnum SV 1024 #9163317 zu verkaufen

NEXTEST/TERADYNE Magnum SV 1024 ist eine Endprüfanlage, die für die fortgeschrittene Sondierung und Prüfung von Halbleiterbauelementen von Waferebene bis Endprodukten entwickelt wurde. Es bietet hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Prüfung der höchsten Dichte Chips. NEXTEST Magnum SV 1024 nutzt die NEXTEST CENTEST Architektur mit seiner branchenführenden Präzision und Fehlerabdeckung. Diese Architektur ermöglicht eine breite Palette von Testfunktionen - von Wafer-Sonden über Pakettests bis hin zu Charakterisierungstests und Funktionstests. TERADYNE Magnum SV 1024 ist ein 3-Stationen-System für Wafer-Tests mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Seine hohe Genauigkeit wird durch seine 10 Mikron piezogetriebene Positioniergenauigkeit ermöglicht. Seine Wiederholbarkeit ist bis zu 1 Mikron ermöglicht durch seine Vision-basierten Die-Find-Algorithmen und optischen Autofokus. Magnum SV 1024 verfügt zudem über eine flexible Teststation mit hohem Durchsatz. Diese Station ist ein Multifunktionstester, der bis zu 24 Steckplätze unterstützen kann und präzise Tests für viele verschiedene Gerätetypen bietet. Diese Station bietet die Möglichkeit, Geräte von der Waferebene bis zu fertigen Produkten zu testen. Der Magnum SV verfügt zudem über eine schnelle I/O-Station, mit der mehrere Geräte parallel getestet werden können - so können Tests schnell und mit hoher Geschwindigkeit durchgeführt werden. Schließlich bietet NEXTEST/TERADYNE Magnum SV 1024 eine Vielzahl zuverlässiger, kostengünstiger und skalierbarer Lösungen für die Prüfung komplexer Geräte. Dazu gehören parallele Testmöglichkeiten und „Biss-Messung“, „Fernerkundung“ und „Mischsignal“ -Optionen. Die Einheit wird auch von TERADYNE umfassenden Dienstleistungen und Support-Team unterstützt. NEXTEST Magnum SV 1024 ist eine fortschrittliche Endprüfmaschine, die hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Prüfung der Chips mit höchster Dichte ermöglicht. Es bietet flexible Stationen, die sowohl für Wafer-Level als auch für fertige Gerätetests mit hohen Durchsatztestfähigkeiten verwendet werden können. Das Tool bietet eine zuverlässige und kostengünstige Lösung für die Prüfung von Halbleiterbauelementen.