Gebraucht NEXTEST / TERADYNE Maverick PT-II #9122402 zu verkaufen
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ID: 9122402
Weinlese: 2002
Tester
(64) Digital Channels
Error Catch RAM (ECR), 144M
Superset Architecture
33/66/133 MHz Maximum Test Rate
Algorithmic Pattern Generator
Data Buffer Memory, 144M
Drive Levels-per-pin
(4) Parametric Measurement Units
(4) Device Power Supplies
PC Workstation with NextSoft Release
128M Bytes Main Memory
40G Byte Disk
Standard 17" CRT Display
(1) DUT BD, PT, 1Site with Connector
2002 vintage.
NEXTEST/TERADYNE Maverick PT-II ist eine leistungsstarke Endprüfanlage, die auf die Bedürfnisse von Herstellern integrierter Schaltungen zugeschnitten ist, die eine automatisierte Prüfung und Messung mehrerer Prozesse gleichzeitig benötigen. NEXTEST Maverick PT-II ist ein All-in-One-Testsystem, das für abschließende Tests, Burn-in-Tests, YieldStar, Visualisierung, Pakettests, Fehlerisolierung, Softwarevalidierung, Return-to-Zero-Test (RTZ) und thermische Charakterisierung verwendet werden kann. Der hohe Durchsatz, die Flexibilität, die Skalierbarkeit und die Skalierbarkeit von TERADYNE MAVERICK PT II machen es ideal für die Test- und Messanforderungen jeder Leiterplattenentwicklung, die Entwicklung hochwertiger digitaler und analoger Elektronik und Schaltkreisprüfungen. Maverick PT-II nutzt ein umfangreiches Spektrum an Technologien, darunter die PC-basierte TestStation Software, TestStation Console, Device Master, Multi-Level Timing Board, RTZ Board, Multi-Test Board und Dynamic Measurement Units. Diese Funktionen bieten einen intrafunktionalen Betrieb zum Testen von bis zu 32 Geräten gleichzeitig in einem Netzwerk. MAVERICK PT II enthält eine Einheit auf einem Chip (SoC) -basierten Testgerät und einen seriellen Hochgeschwindigkeitsbus, der eine gleichzeitige Mehrgeräteprüfung mit bis zu 10.000 Reizansprechpaaren pro Sekunde ermöglicht. Seine erweiterten Funktionstestanwendungen sind in der Lage, Speicher, Logik, Speicherkarte und programmierbare Logikgeräte zu unterstützen und können eng mit In-Circuit Test Board, einer Prober Station oder einem Automatic Handler zusammenarbeiten. Die erweiterten Programmier- und Debugging-Funktionen von TERADYNE Maverick PT-II ermöglichen das einfache und schnelle Testen und Isolieren von Konstruktionsfehlern in einer kontrollierten Umgebung. NEXTEST/TERADYNE MAVERICK PT II bietet auch eine komplette Palette von Diagnosewerkzeugen, einschließlich Sondenkarten, Visualisierern und statistischen Werkzeugen. Der Probe Card Manager (PCM) von NEXTEST MAVERICK PT II wurde entwickelt, um den Betrieb und die Leistung von Sondenkarten genau zu überwachen, um eine genaue Diagnose von defekten Geräten bereitzustellen. NEXTEST/TERADYNE Maverick PT-II bietet auch Echtzeit-Datenanalyse und -visualisierung, so dass Ingenieure Konstruktionsparameter schnell überprüfen, Muster und Trends in komplexen Daten identifizieren und die Funktionalität des Testwerkzeugs überwachen können. Diese Datenanalyse und -visualisierung hilft Ingenieuren, Fehler schnell zu isolieren und Designs zu validieren. Testdaten werden auf der Festplatte (HDD) von NEXTEST Maverick PT-II zur anschließenden Validierung, Implementierung und Datenspeicherung gespeichert. TERADYNE MAVERICK PT II bietet außerdem eine optionale Loganalyse-Anwendung zur Analyse von Testdaten und Erstellung umfassender Berichte. Maverick PT-II bietet eine umfassende Palette von Software- und Hardware-Tools für alle Phasen der Produktion und Qualitätssicherung. Seine robusten Datenerfassungs- und Analysefunktionen, gepaart mit intelligenter Automatisierung, machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für fortschrittliche Produkttests und Qualitätssicherung.
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