Gebraucht TERADYNE 239-026-xx #9189896 zu verkaufen

TERADYNE 239-026-xx
ID: 9189896
HSD 100 Channel boards for TERADYNE J750 Size: 16m.
TERADYNE 239-026-xx Final Test Equipment ist speziell für die Charakterisierung, Abschirmung und Endprüfung von Halbleiterbauelementen in Wafer-Ebene oder verpackter Form konzipiert. Dieses modulare System bietet eine zuverlässige, leistungsstarke Plattform für Charakterisierungs- und Endtestanwendungen und ermöglicht eine flexible Palette von Testfunktionen für eine Vielzahl von Anforderungen an Hochdurchsatzgeräte.239-026-xx bietet echte parallele Tests, Hochgeschwindigkeitsgerätesteuerung, Hochgeschwindigkeitsdatenerfassung, Testboardmessgeräte und multifunktionale Testfunktionen. Zu den Hauptkomponenten gehören eine programmierbare Teststeuerung und Mainframe, ein Hochgeschwindigkeits-TAP-Controller, mehrere Mainframe-Steckplätze für Testkopf- und Kontrollkarten sowie verschiedene Multiple-Site-Test-Schnittstellenkarten. Die Maschine ermöglicht den gleichzeitigen Betrieb mehrerer Testkarten, was nützlich ist, um mehrere Gerätestandorte parallel zu testen, um den Durchsatz zu beschleunigen und die Testzeit zu reduzieren. Darüber hinaus können mehrere Testboards in einer modularen Konfiguration eingesetzt werden, was eine flexible Testkonditionierung zu geringen Kosten ermöglicht. Das Tool unterstützt eine Vielzahl von Kommunikationsprotokollen, einschließlich IEEE 488 (GPIB) und SCPI. Dadurch wird die Kompatibilität mit verschiedenen Instrumentierungscontrollern auf höchstem Niveau wie der TERADYNE E5700-Serie gewährleistet. TERADYNE 239-026-xx wird durch eine Vielzahl benutzerfreundlicher Instrumentierungsfunktionen wie ein automatisiertes Testprogramm, grafische Programmierung, mehrere Testlängen, Grenzwertprüfung, direkten Instrumenten-/Speicherzugriff, serielle Testeinrichtung, Aufnahmerate und Hochgeschwindigkeitsdatenerfassung weiter verbessert. Durch eine effiziente Testboardmessung können Anwender mehrere Geräte mit analogen und digitalen I/O-Typen sowie einer Vielzahl analoger und digitaler parametrischer Tests wie DMM, DC, AC und Signaltests wirtschaftlich gleichzeitig testen. 239-026-xx Asset bietet auch mehrere Modelloptionen für erweiterte Testfunktionen. Beispielsweise kann das Gerät mit mehreren Differentialkanal-Schnittstellenkarten konfiguriert werden, wodurch gleichzeitigere Tests mit mehreren Geräten ermöglicht werden. Darüber hinaus bietet Multi-Function Test Options (MFTO) kostengünstige Testlösungen, die Test und Kosten in einer Vielzahl von Halbleitertestanwendungen reduzieren. Dieses System kann auch mit den optionalen Schnittstellenoptionen wie einem Digital Serial I/O mit hoher Dichte, Digital Logic Test, Analog Test, AC/DC Test, Temperaturtest und vielem mehr gekoppelt werden. TERADYNE 239-026-xx Final Test Unit ist eine zuverlässige Hochleistungsplattform für Charakterisierungs- und Endtestanwendungen und bietet eine breite Palette von Fähigkeiten für eine Vielzahl von Gerätetestanforderungen. Mit erweiterten Instrumentierungsfunktionen, flexiblen Testfunktionen an mehreren Standorten und einer Vielzahl von Schnittstellen- und Maschinenoptionen können 239-026-xx konfiguriert werden, um eine kostengünstige Lösung zur Maximierung des Durchsatzes und zur Reduzierung der Testzeit zu bieten.
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