Gebraucht TERADYNE A565 #9006373 zu verkaufen
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ID: 9006373
VLSY-System, CT69
Configuration:
ct69t is a 1 processor system
Processor 1: 440 MHz sparc (online)
PCI based system
Terabus is present
Board ID 949-824-00
TCI is present
PATH_II_TH 1
CONFIGID 949-688-01
#Slot Type Num XptA XptB Name
1 879-943-01 0 # 0 0 H50 TDR
2 879-936-00 0 # 0 0 H50 THS
3 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
4 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
5 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
6 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
7 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
8 879-935-51 0 # 0 0 H50 DTH
17 000-000-00 0 # 5 6 EMPTY
18 879-858-25 0 # 7 8 PLFS CC
19 879-858-35 0 # 9 10 PLFD CC
20 879-853-01 0 # 11 12 HF DIG CC
21 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY
22 879-906-04 0 # 15 16 VHFAWG CC
23 879-792-00 0 # 17 18 TIME CC
24 879-906-04 0 # 19 20 VHFAWG CC
25 879-754-00 0 # 21 22 CDIG CC
11 879-656-00 0 # 0 0 RDC48
15 949-679-00 0 # 3 3 HUC 200
12 879-653-00 0 # 0 0 HAC
13 879-654-00 0 # 0 0 TACH
14 879-667-01 0 # 0 0 PATH II CAL
16 879-834-01 0 # 0 0 Analog Data Buffer AL
END
PATH_II_TH 2
CONFIGID 949-688-01
#Slot Type Num XptA XptB Name
1 879-943-01 0 # 0 0 H50 TDR
2 879-936-00 0 # 0 0 H50 THS
3 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
4 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
5 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
6 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
7 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
8 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
17 000-000-00 0 # 5 6 EMPTY
18 879-858-25 0 # 7 8 PLFS CC
19 879-858-35 0 # 9 10 PLFD CC
20 879-853-01 0 # 11 12 HF DIG CC
21 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY
22 879-906-04 0 # 15 16 VHFAWG CC
23 879-792-00 0 # 17 18 TIME CC
24 879-906-04 0 # 19 20 VHFAWG CC
25 879-754-00 0 # 21 22 CDIG CC
11 879-656-00 0 # 0 0 RDC48
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12 879-653-00 0 # 0 0 HAC
13 879-654-00 0 # 0 0 TACH
14 879-667-01 0 # 0 0 PATH II CAL
16 879-834-01 0 # 0 0 Analog Data Buffer AL
END
#
# Up to 4 Precision AC Card Cages are allowed
#
PRECISION_AC 1
#Slot Type Num Name
1 879-765-04 0 # PLFDIG
2 879-764-01 0 # PLFSRC
3 879-779-00 0 # 1M SMEM
4 879-772-01 0 # HFDIG
5 879-742-20 0 # CMEM
6 949-608-00 0 # VHFAWG
7 949-608-00 0 # VHFAWG
8 879-781-00 0 # PACS CAGE INT
END
#
# Up to 8 Universal Backplane/Synch Power Subsystem
# cages are allowed
#
# For the Synch Power Subsystem:
# Slot Type Name Instr1 # Instr2 # Ammeter #
#
# Instr1 # - insrument connected to the first two matrix lines
# Instr2 # - insrument connected to the last two matrix lines
# Ammeter # - ammeter connection
# to AVOID errors, put NO 0 if no instrument is connected.
#
#
UB_SPS_CAGE 1
# Slot Type Num Name
1 879-802-02 0 # UB_SPS_802
2 517-301-00 0 # UB_APU
3 517-301-00 0 # UB_APU
4 517-301-00 0 # UB_APU
5 517-301-00 0 # UB_APU
6 517-301-00 0 # UB_APU
7 517-301-00 0 # UB_APU
8 517-301-00 0 # UB_APU
9 517-301-00 0 # UB_APU
10 517-301-00 0 # UB_APU
11 517-301-00 0 # UB_APU
12 517-301-00 0 # UB_APU
13 517-301-00 0 # UB_APU
14 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 1
15 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 2
16 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 1
17 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 2
20 879-690-00 0 # UB_ASY
22 517-300-00 0 # UB_TJ300
END
HSD50_CHAN_CAGE 1
#Slot Type Num Name
1 879-933-65 0 # HSD25 DMF
2 879-933-65 0 # HSD25 DMF
3 879-933-65 0 # HSD25 DMF
4 879-933-65 0 # HSD25 DMF
5 879-934-01 0 # H50 MFS
6 879-933-65 0 # HSD25 DMF
7 879-933-65 0 # HSD25 DMF
END
HSD50_SEQ_CAGE 1
#Slot Type Num Name
2 879-945-01 0 # H50 AFO
4 879-942-05 0 # H50 SFO
5 879-934-01 0 # H50 MFS
6 879-937-02 0 # H50 SCM
7 879-938-01 0 # H50 DMC
END
HSD50_DIG_SIG_CAGE 1
#Slot Type Num Name
1 879-953-00 0 # VBF
2 879-939-01 0 # DSI
3 879-745-00 0 # S_MEM
4 879-957-00 0 # DCB
5 879-742-40 0 # C_MEM
9 879-731-00 0 # CAGE INTR
END
#
# Trigger Switch Yard
#
# Note: The logical slot numbers below correspond to the physical slot
# numbers only for test systems which contain a TSY card
# cage. In test systems which contain an SCS/TSY card cage the
# mapping is:
#
# Logical TSY slot (below) Physical slot
# 1 -> 2
# 3 -> 1
#
TSY CAGE
#Slot Type Num Name
1 879-655-02 0 # TSY
2 000-000-00 0 # EMPTY
3 000-000-00 0 # EMPTY
4 000-000-00 0 # EMPTY
END
#
# Time Subsystem
#
TIME_SUBSYSTEM
# Board ID Name
879-793-00 # TMS Timer
879-794-01 # TMS Counter
879-795-01 # TMS Support
END
#
# DC Subsystem -
#
# SRC <NUM> [1 - 13]
# (sources 1-5 are MATRIX sources 1-5
# sources 6-13 are DUT sources 1-8)
# HCU <NUM> *[1 - 4]
# REF HCU <NUM> *[1 - 4]
# HVSRC <NUM> *[1 - 4]
# PWRSRC <NUM> [1 - 4]
# DATABITS <NUM> - <NUM> [1 - 192]
#
# ** These instruments share the same seven-slot cage -- only one
# instrument is allowed per slot.
#
DC_SUBSYSTEM
# UBVI 60 1 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 14)
# UBVI 60 2 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 15)
HCU 4
# UBVI 60 6 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 16)
# UBVI 60 7 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 17)
HCU 8
DATABITS 1 - 48
# UB_MATRIX
#
# Testhead 1
# XPTs UB Cage Slot Type
# 1-4 1 2 APU
# 5-8 1 3 APU
# 9-12 1 4 APU
# 13-16 1 5 APU
# 17-20 1 6 APU
# 21-24 1 7 APU
# 25-28 1 8 APU
# 29-32 1 9 APU
# 33-36 1 10 APU
# 37-40 1 11 APU
# 41-44 1 12 APU
# 45-48 1 13 APU
#
# Testhead 2
# XPTs UB Cage Slot Type
# 1-4 1 2 APU
# 5-8 1 3 APU
# 9-12 1 4 APU
# 13-16 1 5 APU
# 17-20 1 6 APU
# 21-24 1 7 APU
# 25-28 1 8 APU
# 29-32 1 9 APU
# 33-36 1 10 APU
# 37-40 1 11 APU
# 41-44 1 12 APU
# 45-48 1 13 APU
END.
TERADYNE A565 ist eine Spitzenausrüstung für Hochleistungsanwendungen in der Halbleiterindustrie. Es ist ein umfassendes und effizientes System zum Testen von kleinem und großem Gerätevolumen. Es ist ein vollautomatischer Tester, der erweiterte parallele Sondierungsfunktionen bietet, um die Zykluszeit zu reduzieren und die Feinabtastung zu verbessern. Seine mechanische Konfiguration wurde speziell entwickelt, um eine optimale Testabdeckung für die Halbleiterindustrie zu ermöglichen. Das Gerät ist zudem betriebseffizient, koordiniert, um große Testarchitekturen zu verwalten und Testkosten zu reduzieren. A565 ist eine hochgradig anpassbare und skalierbare Plattform, die den Anforderungen vieler Tests in Produktion und Entwicklung gerecht wird. Seine Überlegenheit ergibt sich aus dem modularen Aufbau. Die fortschrittliche modulare Architektur ermöglicht es, mehrere Testkomponenten zu einem einzigen Rahmen zu kombinieren. Es kann auch an zugehörigen Geräten wie automatisierten Testgeräten (ATE), Netzteilen und anderen Instrumenten angeschlossen werden. Die Hauptkomponenten, aus denen TERADYNE A565 besteht, sind die spezialisierte Testmaschinenplattform, Testkopf, Plattformverbinder, Testpads, Prober und Bilderfassung. Alle diese Komponenten kommen zusammen, um das komplette Werkzeug zu bilden. Die Test-Asset-Plattform enthält die Teststeuerungssoftware und die Gruppensynchronisationssoftware. Der Testkopf enthält das Softwareprogramm zur Zuordnung und Steuerung der Messfunktionen des Testers. Die Plattformanschlüsse ermöglichen eine leistungsstarke Kommunikation zwischen dem flüchtigen Speicher und dem vorgesehenen Testbereich. Die Testpads sind die Oberflächen, die die Prober montieren und eine optimale Sondierung in der Umgebung des Testmodells bieten. Die Prober sind spezialisierte Einheiten, die die elektrischen Eigenschaften des zu prüfenden Geräts (DUT) messen. Schließlich erfasst und speichert die Bildaufnahme Bilder des zu testenden Geräts. A565 ist eine hochzuverlässige Ausrüstung, die in der Lage ist, mit sehr hohen Geschwindigkeiten und hoher Kapazität zu arbeiten. Es ist auch in der Lage, schnell auf Hochgeschwindigkeitsoperationen und sich dynamisch ändernde Bedingungen zu reagieren. Das Testsystem ist für hohe Präzision und Genauigkeit mit einer präzisen Erkennungseinheit ausgelegt, die eine Auflösung von bis zu 0,6um erkennen kann. Es verfügt auch über fortschrittliche berührungsunempfindliche Sondentechnologie, um sicherzustellen, dass es überlegene Prüfgenauigkeit für Tests mit hoher Zuverlässigkeit bietet. Um seine Fähigkeit zu ergänzen, bietet TERADYNE A565 Platz für optionale Maschinenfunktionen wie automatische Sondenabwaschung, automatische Fehlerverläufe und fortschrittliche Vision-Systeme für Vision-geführte Gerätesondierung. Es bietet auch ATPG-Funktionen (Automatic Test Program Generation) und mehrere Diagnoseoptionen. Mit all diesen Eigenschaften erweist sich A565 als führend in effizienten und kostengünstigen Halbleitertestlösungen.
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