Gebraucht TERADYNE Catalyst #145333 zu verkaufen
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ID: 145333
Tester
Configuration:
2 processor system
Processor 1: 1280 MHz sparcv9 (online)
Processor 2: 1280 MHz sparcv9 (online)
PCI based system
Terabus is present
TCI is present
CATALYST_TH 1
BACKPLANE A
#Slot Type Num XptA XptB Name
2 879-858-35 0 # 23 24 PLFD CC
3 879-858-25 0 # 21 22 PLFS CC
4 000-000-00 0 # 19 20 EMPTY
5 879-792-01 0 # 17 18 TIME CC
6 879-857-01 0 # 15 16 PMM CC-01
7 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY
8 949-658-00 0 # 11 12 LFAC DUAL CC
9 949-658-00 0 # 9 10 LFAC DUAL CC
10 949-681-50 0 # 7 8 VHFAWG400 DIFF CC
11 949-672-50 0 # 5 6 VHFDIG CC
14 803-594-00 0 # 25 26 UHFSRC CC
15 803-596-05 0 # 27 28 UWPORT
16 803-595-00 0 # 29 30 UWMM
17 949-643-00 0 # 31 32 TJD CC
18 803-596-05 0 # 33 34 UWPORT
19 803-594-00 0 # 35 36 UHFSRC CC
20 803-594-00 0 # 37 38 UHFSRC CC
21 000-000-00 0 # 39 40 EMPTY
22 879-858-25 0 # 41 42 PLFS CC
23 879-858-35 0 # 43 44 PLFD CC
1 949-669-00 0 # 3 0 HAS (Left HAS LA669-00)
13 949-668-00 0 # 0 0 CATALYST HAC
12 949-667-00 0 # 0 0 DIF
24 949-669-01 0 # 4 0 HAS (Right HAS LA669-01)
END
RF_PIPES 1
pipe-name slot schan description
Z8A 15 1 # UWPORT (OSP)
Z7A 15 2 # UWPORT (OSP)
Z6A 15 3 # UWPORT (OSP)
Z5A 15 4 # UWPORT (OSP)
Z4A 18 1 # UWPORT (OSP)
Z3A 18 2 # UWPORT (OSP)
Z2A 18 3 # UWPORT (OSP)
Z1A 18 4 # UWPORT (OSP)
END
RF_CONNECTIONS 1
RF pipe connections between channel cards
slot schan slot schan
14 1 to 15 5
16 3 to 15 7
19 1 to 18 5
20 1 to 18 6
16 1 to 18 7
END
Up to 4 Precision AC Card Cages are allowed
PRECISION_AC 1
Slot Type Num Name
1 949-718-00 0 # PLFDIG TCI
2 879-764-01 0 # PLFSRC
3 879-779-00 0 # 1M SMEM
4 949-660-01 0 # LFACDIG
5 949-660-00 0 # LFACDIG
6 949-659-00 0 # LFACSRC
7 949-659-00 0 # LFACSRC
8 949-671-01 0 # PACS CAGE INT
END
PRECISION_AC 2
Slot Type Num Name
1 949-718-00 0 # PLFDIG TCI
2 879-764-01 0 # PLFSRC
3 879-779-00 0 # 1M SMEM
4 949-827-00 0 # VHFAWG
5 949-664-00 0 # VHFDIG MF
6 949-320-00 0 # UWMS
7 949-608-00 0 # VHFAWG
8 949-671-01 0 # PACS CAGE INT
END
Up to 8 Universal Backplane/Synch Power Subsystem cages are allowed
For the Synch Power Subsystem:
Slot Type Name Instr1 # Instr2 # Ammeter #
Instr1 # - insrument connected to the first two matrix lines
Instr2 # - insrument connected to the last two matrix lines
Ammeter # - ammeter connection
to AVOID errors, put NO 0 if no instrument is connected.
UB_SPS_CAGE 1
Slot Type Num Name
1 879-802-02 0 # UB_SPS_802
2 517-301-00 0 # UB_APU
3 517-301-00 0 # UB_APU
4 517-301-00 0 # UB_APU
5 517-301-00 0 # UB_APU
6 517-301-00 0 # UB_APU
7 517-301-00 0 # UB_APU
8 517-301-00 0 # UB_APU
9 517-301-00 0 # UB_APU
10 517-301-00 0 # UB_APU
11 517-301-00 0 # UB_APU
12 517-301-00 0 # UB_APU
13 517-301-00 0 # UB_APU
14 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 1
15 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 1
16 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 2
17 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 3
18 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 5
19 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 5
21 879-690-00 0 # UB_ASY
22 517-300-01 0 # UB_TJ300
END
HSD100_CHAN_CAGE 1
Slot Type Num Fld1 Fld2 Name
1 949-921-01 0 # HSD CDM 400
2 949-921-01 0 # HSD CDM 400
3 949-921-01 0 # HSD CDM 400
4 949-921-01 0 # HSD CDM 400
5 949-820-10 0 # HSD CSB
6 949-921-01 0 # HSD CDM 400
7 949-921-01 0 # HSD CDM 400
8 949-921-01 0 # HSD CDM 400
9 949-921-01 0 # HSD CDM 400
END
HSD100_CHAN_CAGE 2
Slot Type Num Fld1 Fld2 Name
5 949-820-00 0 # HSD CSB
END
CATALYST_TH 1
BACKPLANE B
Slot Type Num Name
29 949-626-10 0 # HSD THS
43 949-625-00 0 # HSD DTH
44 949-625-00 0 # HSD DTH
45 949-625-00 0 # HSD DTH
46 949-625-00 0 # HSD DTH
47 949-626-20 0 # HSD THS/HCLK
48 949-625-00 0 # HSD DTH
49 949-625-00 0 # HSD DTH
50 949-625-00 0 # HSD DTH
51 949-625-00 0 # HSD DTH
61 949-625-00 0 # HSD DTH
62 949-625-00 0 # HSD DTH
63 949-625-00 0 # HSD DTH
64 949-625-00 0 # HSD DTH
65 949-626-00 0 # HSD THS
66 949-625-00 0 # HSD DTH
67 949-625-00 0 # HSD DTH
68 949-625-00 0 # HSD DTH
69 949-625-00 0 # HSD DTH
74 949-626-10 0 # HSD THS
END
Trigger Switch Yard
Note: The logical slot numbers below correspond to the physical slot numbers only for test systems which contain a TSY card cage. In test systems which contain an SCS/TSY card cage the mapping is:
Logical TSY slot (below) Physical slot
1 -> 2
3 -> 1
TSY CAGE
Slot Type Num Name
1 879-655-02 0 # TSY
2 000-000-00 0 # EMPTY
3 000-000-00 0 # EMPTY
4 000-000-00 0 # EMPTY
END
Time Subsystem
TIME_SUBSYSTEM
# Board ID Name
879-793-00 # TMS Timer
879-794-01 # TMS Counter
879-795-01 # TMS Support
END
# The UWMS option resides in the PACS cage and is composed of two
# plug-in modules that may reside in one of three locations A, B or C.
# A zero in the type field indicates no plug-in module.
# PACS_UW <n> - indicates PACS cage number of these UWMS options
# Slot - indicates slot number and module position for this UWMS option
# Type - board identification number
# AWG Num - AWG instrument number connected to this UWMS option
# UHFSRC Num - UHF instrument number that has this UWMS option
# MODSRC Num - First or second MODSRC connected to above UHFSRC
#
PACS_UW 2
# AWG UHFSRC MODSRC
#Slot Type Rev Date Num Num Num Name
6 949-320-00 A 9943-0 2 1 1 # UWMS
6A 949-330-00 A 9944-0 # UWMS UP CONV
6B 000-000-00 0 0000-0
6C 949-333-00 C 9948-0 # UWMS MUX
END
#
#
# The UWPORT option modules are composed of plug-in modules.
# The names list in the first column indicate the presence of
# the option modules for the uwport.
#
UWPORT_OPTIONS_HEAD 1
#
# Name Slot Type Rev Num Date
PORT 15 803-596-05 A 1 # 0122-0
NOISE 15 733-104-00 A 1 # 9923-0
PORT 18 803-596-05 A 2 # 0122-0
NOISE 18 733-104-00 A 2 # 9923-0
END
#
# DC Subsystem -
#
# SRC <NUM> [1 - 13]
# (sources 1-5 are MATRIX sources 1-5
# sources 6-13 are DUT sources 1-8)
# HCU <NUM> *[1 - 4]
# REF HCU <NUM> *[1 - 4]
# HVSRC <NUM> *[1 - 4]
# PWRSRC <NUM> [1 - 4]
# DATABITS <NUM> - <NUM> [1 - 192]
#
# ** These instruments share the same seven-slot cage -- only one
# instrument is allowed per slot.
#
DC_SUBSYSTEM
# UBVI 60 1 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 14)
# UBVI 60 2 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 16)
# UBVI 60 3 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 17)
HCU 4
# UBVI 60 5 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 18)
# UBVI 60 6 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 15)
HCU 7
HCU 8
HCU 9
# UBVI 60 10 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 19)
DATABITS 1 - 48
# UB_MATRIX
#
# Testhead 1
# XPTs UB Cage Slot Type
# 1-4 1 2 APU
# 5-8 1 3 APU
# 9-12 1 4 APU
# 13-16 1 5 APU
# 17-20 1 6 APU
# 21-24 1 7 APU
# 25-28 1 8 APU
# 29-32 1 9 APU
# 33-36 1 10 APU
# 37-40 1 11 APU
# 41-44 1 12 APU
# 45-48 1 13 APU
END.
TERADYNE Catalyst ist eine leistungsstarke, fortschrittliche Endtestausrüstung, die entwickelt wurde, um die Kosten und Komplexität von Halbleitertestlösungen zu minimieren. Es wurde entwickelt, um die Testzeit zu optimieren, den Platzbedarf zu reduzieren und die Lebensdauer des Geräts zu verbessern. Katalysator-Testsystem verwendet die neuesten Technologien, um den Testprozess zu automatisieren und Kosten mit In-Unit-Intelligenz und Automatisierung zu senken, die nicht auf komplexe Testprogramme angewiesen sind. Es verwendet Hochgeschwindigkeitstestreplikationen, parallele Programmierung, integrierte Diagnostik und Intelligenz mit branchenführenden Testgeschwindigkeiten von bis zu 800 MHz. TERADYNE Catalyst Testmaschine bietet eine breite Palette von Lösungen einschließlich Scanfunktionen, High-Operator-Zugriff und erweiterte Fehlerortung, um Geräte von mehreren Herstellern zu testen. Es verfügt über One-Touch Test Setup und Flexforce Unterstützung für schnellere Testprogrammierung. Es enthält auch einen Qualitäts-Yield-Controller zur Überwachung von Ergebnissen in Echtzeit für gründlichere Echtzeit-QA Erschöpfende sensorische I/O-Unterstützung, die Catalyst die Möglichkeit gibt, ausgefallene Geräte zu erkennen und zu verhindern, dass sie an die Kunden versendet werden. Das Tool bietet auch erweiterte Debugging-Funktionen für schnellere und effizientere Experimente. Dazu gehören hohe Rückverfolgbarkeit und vollautomatische Testanalysen. Dazu gehören Hardwarelösungen auf Asset-Ebene und softwarebasierte automatisierte Testgenerierungs- und -ausführungsfunktionen. Das Modell unterstützt auch statische, dynamische und logische Fehlerabdeckung, Speichertest und Echtzeitüberwachung. TERADYNE Catalyst Endprüfgeräte wurden entwickelt, um den hohen Anforderungen und Automatisierungslösungen heutiger Halbleiterunternehmen gerecht zu werden. Es bietet ein leistungsfähiges Testsystem, das den Testprozess optimiert. Es bietet erweiterte Automatisierungs-, Diagnose- und Intelligenzfunktionen, um Fehler schnell zu erkennen, Testzeiten zu reduzieren, Kosten zu senken und die Produktqualität zu verbessern.
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