Gebraucht TERADYNE Catalyst #9082358 zu verkaufen

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Hersteller
TERADYNE
Modell
Catalyst
ID: 9082358
Test Systems Tester Cabinet Power Conditioner Test Head Prober not included Configuration: # # Confsim file created on: 01/03/02 09:15:40 # # Catalyst tester cat9 # # cat9 is a 1 processor system # Processor 1: 440 MHz sparc (online) # PCI based system # Terabus is present # Board ID 949-824-00 # Serial number 0276d91 # TCI is present # CATALYST_TH 1 BACKPLANE A #Slot Type Serial # Num XptA XptB Name 2 000-000-00 0x0000000 0 # 23 24 EMPTY 3 000-000-00 0x0000000 0 # 21 22 EMPTY 4 949-658-00 0x80206ad 0 # 19 20 LFAC DUAL CC 5 879-792-01 0x01b9d66 0 # 17 18 TIME CC 6 879-857-01 0x021a0b2 0 # 15 16 PMM CC-01 7 000-000-00 0x0000000 0 # 13 14 EMPTY 8 949-658-00 0x8020638 0 # 11 12 LFAC DUAL CC 9 000-000-00 0x0000000 0 # 9 10 EMPTY 10 949-681-50 0x024a7db 0 # 7 8 VHFAWG400 DIFF CC 11 949-672-50 0x0253ed0 0 # 5 6 VHFDIG CC 14 879-678-52 0x024afca 0 # 25 26 LCA CC 15 000-000-00 0x0000000 0 # 27 28 EMPTY 16 000-000-00 0x0000000 0 # 29 30 EMPTY 17 949-658-00 0x8020636 0 # 31 32 LFAC DUAL CC 18 949-643-00 0x026da57 0 # 33 34 TJD CC 19 000-000-00 0x0000000 0 # 35 36 EMPTY 20 000-000-00 0x0000000 0 # 37 38 EMPTY 21 949-658-00 0x01fc29c 0 # 39 40 LFAC DUAL CC 22 000-000-00 0x0000000 0 # 41 42 EMPTY 23 000-000-00 0x0000000 0 # 43 44 EMPTY 1 949-669-00 0x0269f4e 0 # 3 0 HAS (Left HAS LA669-00) 13 949-668-00 0x0269d27 0 # 0 0 CATALYST HAC 12 949-667-00 0x026a11d 0 # 0 0 DIF 24 949-669-01 0x0269ece 0 # 4 0 HAS (Right HAS LA669-01) END RF_PIPES 1 # pipe-name slot schan description END # # Up to 4 Precision AC Card Cages are allowed # PRECISION_AC 1 #Slot Type Serial # Num Name 1 949-660-01 0x80251b4 0 # LFACDIG 2 949-659-00 0x8021e87 0 # LFACSRC 3 949-660-01 0x80251f0 0 # LFACDIG 4 949-659-00 0x8023139 0 # LFACSRC 5 949-664-00 0x80120f3 0 # VHFDIG MF 6 949-827-00 0x11d764a 0 # VHFAWG 7 000-000-00 0x0000000 0 # EMPTY 8 949-671-00 0x802120b 0 # PACS CAGE INT END PRECISION_AC 2 #Slot Type Serial # Num Name 1 949-660-01 0x8021b1e 0 # LFACDIG 2 949-659-00 0x0253ea2 0 # LFACSRC 3 949-660-01 0x8021b24 0 # LFACDIG 4 949-659-00 0x0254c01 0 # LFACSRC 5 000-000-00 0x0000000 0 # EMPTY 6 000-000-00 0x0000000 0 # EMPTY 7 000-000-00 0x0000000 0 # EMPTY 8 949-671-00 0x802122a 0 # PACS CAGE INT END # # Up to 8 Universal Backplane/Synch Power Subsystem # cages are allowed # # For the Synch Power Subsystem: # Slot Type Name Instr1 # Instr2 # Ammeter # # # Instr1 # - insrument connected to the first two matrix lines # Instr2 # - insrument connected to the last two matrix lines # Ammeter # - ammeter connection # to AVOID errors, put NO 0 if no instrument is connected. # # UB_SPS_CAGE 1 # Slot Type Serial # Num Name 1 879-802-02 0x027c384 0 # UB_SPS_802 2 517-301-00 0x0259f44 0 # UB_APU 3 517-301-00 0x0214dfc 0 # UB_APU 4 517-301-00 0x0259996 0 # UB_APU 5 517-301-00 0x025ce89 0 # UB_APU 6 517-301-00 0x025721b 0 # UB_APU 7 517-301-00 0x027024e 0 # UB_APU 8 517-301-00 0x0257203 0 # UB_APU 9 517-301-00 0x0270237 0 # UB_APU 10 517-301-00 0x027024f 0 # UB_APU 11 517-301-00 0x0256a39 0 # UB_APU 12 517-301-00 0x0256d31 0 # UB_APU 13 517-301-00 0x025720c 0 # UB_APU 14 879-925-01 0x026a03c 0 # UB_60_V_SRC MAT 1 15 879-925-01 0x026c414 0 # UB_60_V_SRC MAT 2 16 879-925-01 0x02484e1 0 # UB_60_V_SRC MAT 3 17 879-925-01 0x0249e11 0 # UB_60_V_SRC MAT 5 18 879-925-01 0x01f0cab 0 # UB_60_V_SRC DUT 1 19 879-925-01 0x024868c 0 # UB_60_V_SRC DUT 2 20 879-925-01 0x026a039 0 # UB_60_V_SRC DUT 3 21 879-690-00 0x02518e8 0 # UB_ASY 22 517-300-01 0x024620f 0 # UB_TJ300 END HSD100_CHAN_CAGE 1 #Slot Type Serial # Num Fld1 Fld2 Name 1 949-921-50 0x8017a18 0 # HSD CDM 400 2 949-921-50 0x801487e 0 # HSD CDM 400 3 949-921-50 0x80148cb 0 # HSD CDM 400 4 949-921-50 0x8016cf2 0 # HSD CDM 400 5 949-820-10 0x11d8a68 0 # HSD CSB 6 949-921-50 0x80147aa 0 # HSD CDM 400 7 949-921-50 0x8016322 0 # HSD CDM 400 8 949-921-50 0x8014d85 0 # HSD CDM 400 9 949-921-50 0x8016b8a 0 # HSD CDM 400 END HSD100_CHAN_CAGE 2 #Slot Type Serial # Num Fld1 Fld2 Name 1 949-921-50 0x801421d 0 # HSD CDM 400 2 949-921-50 0x8014e36 0 # HSD CDM 400 3 949-921-50 0x8016c69 0 # HSD CDM 400 4 949-921-50 0x8016cec 0 # HSD CDM 400 5 949-820-00 0x11d7322 0 # HSD CSB END CATALYST_TH 1 BACKPLANE B #Slot Type Serial # Num Name 29 949-626-10 0x801471d 0 # HSD THS 43 949-625-00 0x80201d3 0 # HSD DTH 44 949-625-00 0x80202ed 0 # HSD DTH 45 949-625-00 0x8020264 0 # HSD DTH 46 949-625-00 0x8020229 0 # HSD DTH 47 949-626-10 0x8015548 0 # HSD THS 48 949-625-00 0x8011099 0 # HSD DTH 49 949-625-00 0x801774c 0 # HSD DTH 50 949-625-00 0x802113d 0 # HSD DTH 51 949-625-00 0x80210e5 0 # HSD DTH 61 949-625-00 0x80210bc 0 # HSD DTH 62 949-625-00 0x8020ae6 0 # HSD DTH 63 949-625-00 0x8016f2d 0 # HSD DTH 64 949-625-00 0x80176a5 0 # HSD DTH 65 949-626-00 0x8015cac 0 # HSD THS 66 949-625-00 0x8014a10 0 # HSD DTH 67 949-625-00 0x8016077 0 # HSD DTH 68 949-625-00 0x80160c9 0 # HSD DTH 69 949-625-00 0x802109c 0 # HSD DTH 70 949-625-00 0x80172dd 0 # HSD DTH 71 949-625-00 0x8015140 0 # HSD DTH 72 949-625-00 0x8015f86 0 # HSD DTH 73 949-625-00 0x802021b 0 # HSD DTH 74 949-626-10 0x8012fac 0 # HSD THS 75 949-625-00 0x80210d3 0 # HSD DTH 76 949-625-00 0x8017817 0 # HSD DTH 77 949-625-00 0x80177d6 0 # HSD DTH 78 949-625-00 0x801778e 0 # HSD DTH END # # Trigger Switch Yard # # Note: The logical slot numbers below correspond to the physical slot # numbers only for test systems which contain a TSY card # cage. In test systems which contain an SCS/TSY card cage the # mapping is: # # Logical TSY slot (below) Physical slot # 1 -> 2 # 3 -> 1 # TSY CAGE #Slot Type Serial # Num Name 1 879-655-02 0x0251831 0 # TSY 2 000-000-00 0xfffffff 0 # EMPTY 3 000-000-00 0xfffffff 0 # EMPTY 4 000-000-00 0xfffffff 0 # EMPTY END # # Time Subsystem # TIME_SUBSYSTEM # Board ID Serial # Name 879-793-00 0x0228EEF # TMS Timer 879-794-01 0x02519F7 # TMS Counter 879-795-01 0x0274CB3 # TMS Support 949-782-00 0x02650AE # Time Mux Board END # # DC Subsystem - # # SRC <NUM> [1 - 13] # (sources 1-5 are MATRIX sources 1-5 # sources 6-13 are DUT sources 1-8) # HCU <NUM> *[1 - 4] # REF HCU <NUM> *[1 - 4] # HVSRC <NUM> *[1 - 4] # PWRSRC <NUM> [1 - 4] # DATABITS <NUM> - <NUM> [1 - 192] # # ** These instruments share the same seven-slot cage -- only one # instrument is allowed per slot. # DC_SUBSYSTEM # UBVI 60 1 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 14) # UBVI 60 2 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 15) # UBVI 60 3 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 16) HCU 4 # UBVI 60 5 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 17) # UBVI 60 6 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 18) # UBVI 60 7 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 19) # UBVI 60 8 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 20) SRC 9 DATABITS 1 - 48 # UB_MATRIX # # Testhead 1 # XPTs UB Cage Slot Type # 1-4 1 2 APU # 5-8 1 3 APU # 9-12 1 4 APU # 13-16 1 5 APU # 17-20 1 6 APU # 21-24 1 7 APU # 25-28 1 8 APU # 29-32 1 9 APU # 33-36 1 10 APU # 37-40 1 11 APU # 41-44 1 12 APU # 45-48 1 13 APU END.
TERADYNE Catalyst ist eines der leistungsfähigsten und zuverlässigsten Endprüfsysteme, die heute auf dem Markt erhältlich sind. Es ist darauf ausgelegt, komplexe Testsequenzen präzise, schnell und präzise durchzuführen. Es wurde weithin von der Halbleiterindustrie zur Prüfung und Validierung von integrierten Schaltungen (ICs) und anderen elektronischen Komponenten übernommen. Das Gerät basiert auf der hochentwickelten Emulation Platform-Technologie, die es dem System ermöglicht, mehrere Geräte gleichzeitig bei hohen Geschwindigkeiten mit Genauigkeit zu testen. Es verwendet eine leistungsstarke Multicore-Verarbeitungsleistung und fortschrittliche Softwarelösungen wie Multicore Sequencing, Data Sheet Characterization and Automation (SIM/STT), um den Test- und Prozessablauf vollständig zu automatisieren. Catalyst ist eine einzige Plattformeinheit, die aus mehreren Modulen wie IO-Modulen, Prozessoren, Datenerfassung und Netzteilen besteht. Es verfügt über eine Vielzahl von Test-Schnittstellen wie Boundary Scan, JTAG und I2C, um die Prüfung von fortgeschrittenen Halbleiterbauelementen zu erleichtern. Es enthält erweiterte Funktionen wie Test Windows, Test Parameter Auto-Tuning, Test Sequences Tuning, Test Data und Echtzeit-Überwachung, Test Filtration und programmierbare Netzteile und kann leicht in bestehende Lösungen in einer automatisierten Umgebung integriert werden. TERADYNE Catalyst bietet auch außergewöhnliche Diagnosefunktionen mit Automatic Test Diagnostics, bekannt als ATDI, die hilft, schwer zu finden, defekte Komponenten zu erkennen, und es hat sogar eine In-Circuit-Diagnose (ICD), um Fehlerszenarien in Leiterplatten zu verfolgen und zu analysieren. Die Maschine umfasst auch eine Reihe von Failure Analysis Station (FAS) zur weiteren Analyse verschiedener Komponenten und fortschrittlicher Softwarelösungen wie ScanPilotPro, die eine optimierte Testplanung ermöglichen. Katalysator ist sehr effizient und schnell, es kann bis zu 7500 Geräte pro Sekunde testen, und sein modernes Design hilft, niedrige Betriebskosten und bessere Zuverlässigkeit zu gewährleisten. Es umfasst auch eine umfangreiche Bibliothek mit Testsequenzen und eine breite Palette weiterer Testlösungen wie Digital und Power Dynamics sowie fortschrittliche Softwarelösungen wie Ease Compliance Checker und Signal Integrity Analyzer. TERADYNE Catalyst bietet hervorragende Zuverlässigkeit, niedrige Betriebskosten und außergewöhnliche Leistung und ist damit die perfekte Lösung für jede Halbleiterprüfanforderung. Es ist die ideale Lösung für jede Komponentenprüfung und Validierung, um höchste Qualität und Zuverlässigkeit der Endergebnisse zu gewährleisten.
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