Gebraucht TERADYNE iFlex / MicroFlex #9179188 zu verkaufen
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ID: 9179188
Lot of boards:
(2) HSD200 Cable
(4) DC75 With cable
(2) DC30 With cable
(3) VHFAC With cable
(3) DSP
HVD.
TERADYNE iFlex und MicroFlex sind Systeme, die von TERADYNE für abschließende Testanwendungen entwickelt wurden. Das iFlex-System ist eine Echtzeit-Wafer-Testplattform, die die höchste Testleistung und Skalierbarkeit in der Halbleiterindustrie bietet. Es bietet Hochgeschwindigkeitstests von Geräten bis zu 4096 Pins, ultra-niedrige Testzeit und erstklassige Silizium-Analysefunktionen. Der iFlex verfügt zudem über eine branchenführende Pin-Count-Dichte und ein Design, das eine Vielzahl von Gerätegeometrien und Paketformaten aufnehmen kann. Es unterstützt sowohl Wafer-Level als auch Package-Level-Test und ist leicht von 1024 auf 4096 Pins erweiterbar. Darüber hinaus bietet das MicroFlex-System eine Leiterplatten-Testabdeckung für Leiterplatten mit bis zu 2048 Pins. Es bietet eine innovative Architektur, die bis zu 100 analoge und digitale E/A-angeschlossene Ressourcen ermöglicht, die mehrere Kanäle bedienen, die bis zu 12.288 digitale mehrere E/A-Pins unterstützen. Es unterstützt auch alle digitalen Technologien wie Embedded-Prozessoren, Mikrocontroller und FPGAs. Es verfügt über eine Echtzeit-Architektur, die Testzeit reduziert und sowohl statische als auch dynamische Tests unterstützt, sowie Design für Test (DFT) und fehlerorientierte Tests. Sowohl iFlex als auch MicroFlex nutzen proprietäre DSP-Algorithmen (Digital Signal Processing), die schnelle und effiziente Tests ermöglichen. Die Systeme iFlex und MicroFlex bieten eine offene Architektur, die eine individuelle Anpassung des Systems an die spezifischen Kundenbedürfnisse ermöglicht. Sie umfassen eine Reihe von Tools wie Ertragsanalyse, Rückverfolgbarkeit, Binning, Scripting und Integration mit anderen Testsystemen. Insgesamt bieten die Systeme TERADYNE iFlex und MicroFlex eine leistungsfähige, hochmoderne Testplattform für Halbleiter- und Leiterplattenproduktionslinien. Sie bieten beispiellose Testflexibilität, Skalierbarkeit, Genauigkeit, Geschwindigkeit und Kosteneffizienz und sind somit ideal für eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiterindustrie.
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