Gebraucht TERADYNE iFlex #9215606 zu verkaufen

TERADYNE iFlex
Hersteller
TERADYNE
Modell
iFlex
ID: 9215606
Tester RF Option Test head: Slot / Board name / Part no #2 / MWBoard-4 / 805-890-50 #3 / MWBoardAUX / 805-891-50 #4 / VHFAC / 805-245-50 #5 / DC-30 / 805-002-60 #6 / HSD-200 / 805-251-50 #7 / Support board / 805-003-50 #7.1 / DSP #0 / 810-503-00 #7.2 / DSP #1 / 810-503-00 #8 / HSD-200 / 805-251-50 #11 / VHFAC / 805-245-50 #20 / Support board / 805-003-11 #20.1 / DSP #1 / 810-503-00 #21 / HSD-200 / 805-251-50 Card cage: Slot / Board name / Part no #0 / MW Support board / 805-202-01 #0.1 / EFS6000 / 445 027 00 #0.2 / EFS6000 / 445-027-00 #0.3 / EFS6000 / 445 027 00 #0.4 / EFS6000 / 445-027-00 #1 / MWMSIFConv / 805-627-70 #2 / MWMS-Finalconv / 805-628-70.
TERADYNE iFlex ist eine umfassende Testlösung für eine breite Palette von Halbleiterverpackungen und Geräteherstellern. Das Gerät ist modular und konfigurierbar, mit der Fähigkeit, bis zu sechs parallele Prüffelder und bis zu 32 Gesamtstifte aufzunehmen. Es nutzt seine fortschrittliche TestCell-Technologie für hohen Durchsatz und Wiederholbarkeit, kombiniert mit seinen traditionellen In-Circuit-Testing (ICT) -Funktionen, um parametrische Tests, Gerätetests mit hohem Pin-Count und flexible Board-Teststrategien zu unterstützen. TERADYNE I-FLEX ist für schnelle Testzeiten und hohe Produktions- und Ausbeute ausgelegt. Das System kann automatische Geräteprogrammierung, Mehrknotentests und dynamische Wafer- oder Chip-Testzuordnungen durchführen. Seine kurzen Zykluszeiten können parallele Tests ermöglichen, während ausgeklügelte Diagnosefunktionen die Analyse von Komponentenfehlern unterstützen. Darüber hinaus ermöglichen temperaturgesteuerte Proberstufen die Kontrolle der Testpunkttemperaturen, um zuverlässigere Ergebnisse und Wiederholbarkeit zu gewährleisten. Um die Qualität der Tests zu beschleunigen und zu verbessern, ermöglicht die analoge Testfunktion von iFlex die periphere Transistorcharakterisierung. Darüber hinaus kann seine schnelle Oszilloskop-Messfähigkeit einen Bereich parametrischer Tests wie Frequenz, Spannung, Strom, Leistung und mehr durchführen. Es unterstützt auch Stapelmessungen auf 3D-Geräten zur Qualitätskontrolle und Zuverlässigkeitssicherung. Das Gerät verfügt über eine intuitive benutzerfreundliche grafische Oberfläche, die die Bedienung vereinfacht und den Debugging-Prozess verbessert. Es enthält eine Datenbank mit Testparametern, Schaltungsmodellen und Testanweisungen sowie eine Bibliothek mit Testskripten für eine schnellere Testeinrichtung. I-FLEX ist mit fortschrittlichen Testwerkzeugen ausgestattet, die ein integriertes programmierbares Netzteil für erweiterte Testflexibilität, einen integrierten Ofen für Burn-In-Tests und eine vom Bediener wählbare Gerätebibliothek für schlüsselfertige Sondeneinstellungen enthalten. Die Maschine verfügt auch über ein Up/Down-Bewegungssteuerungswerkzeug für die Handhabung empfindlicher Geräte und eine sofort einsatzbereite Glasfaser-Schnittstelle zur Integration der neuesten Technologien. Das Modell ist mit einer Reihe von High-End-Software-Tools für die komplette parametrische und funktionale Testabdeckung ausgestattet, einschließlich eines integrierten modellbasierten Testentwicklungs-Tools für die kundenspezifische Testentwicklung. Es unterstützt auch die virtuellen Ressourcen, die erforderlich sind, um erweiterte optische und HF-Tests zu unterstützen. Das Gerät enthält außerdem eine Intense Diagnostics- Suite™, mit der Geräteausfallpunkte schnell ermittelt werden können, und eine QA-Software (Quality Assurance) für die Datenerfassung und -präsentation auf Stempelebene.
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