Gebraucht TERADYNE J750 E #9031870 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
![TERADYNE J750 E Foto Verwendet TERADYNE J750 E Zum Verkauf](https://cdn.caeonline.com/images/teradyne_j750e_383714.jpg)
![Loading](/img/loader.gif)
Verkauft
ID: 9031870
Weinlese: 2002
Tester
Converted from IP 750
192 CH
(2) HSD, 50 MHz, 8MLVM
(2) ICUD
(1) DPS
(1) ITOS-750 illuminator
(1) P8 probe station with hinge manipulator
#slot[.subslot] Type idprom (type rev company)
-1 sli 239-624-00 9846-A 5445
0 channel 239-026-03 0603-E 5445
0 icud 517-429-00 0439-A 5445
1 channel 239-026-03 0603-E 5445
1 icud 517-408-01 0407-0 5445
2 channel 239-026-03 0603-E 5445
2 icud 517-429-00 0439-A 5445
18 cub 239-020-07 0541-D 5445
22 dps 239-016-06 0702-F 5445
23 dps 239-016-03 0425-D 5445
2002 vintage.
TERADYNE J750 E ist ein Hochleistungs-Endprüfgerät der nächsten Generation, das im Produktionstest für die Herstellung von Hochgeschwindigkeits-Leiterplatten (PCB) verwendet wird. Die Plattform besteht aus hochautomatisierten Komponenten wie einem High-Speed-Wafer-Sortiersystem, einer elektrischen Testeinheit Universal Socket/Multi-DUT, Förderern und Roboterarm-Integration, die alle zusammenarbeiten, um einen höheren Durchsatz, Genauigkeit, höhere Stückzahlen und verbesserte Qualität zu ermöglichen. Die High-Speed-Wafer-Sortiermaschine ist für eine Vielzahl von Testtypen konzipiert, einschließlich Burn-in, Komponentenmassensondierung und Leiterplattenfunktionstests. Es verarbeitet schnell eine breite Palette von Messungen für jeden Test, wie Spannung, Strom, Leistung und Widerstand, sowie zahlreiche Parameter. Es verfügt auch über ein erweitertes Softwarepaket, das Testsequenzierung mit Indizierung, erweiterte Fehlerdiagnose, manuelle und automatisierte Geräteprogrammierung und vieles mehr umfasst. Das Universal Socket/Multi-DUT Electrical Test Tool bietet Durchsätze von bis zu 60.000 DUTs/Std., 24/7. Es maximiert die Testabdeckung mit Hunderten von Tester-Sockeln und wechselt schnell zwischen Typen mit minimalen Ausfallzeiten. Diese Asset-Architektur ist so konzipiert, dass Tests schnell laufen und sowohl neu veröffentlichte als auch ausgereifte Produkte verarbeitet werden. Im Vergleich zu automatisierten Vision-Testsystemen ist es in der Lage, eine viel größere Vielfalt von Teilen zu handhaben, einschließlich schwer zu testender Komponenten wie LEDs und BGA-Pakete. Das Modell verfügt über viele Integrationsmöglichkeiten, wie ein lineares Transfermodul, Indexierförderer und ein automatisiertes Karussell. Dadurch kann TERADYNE J750E nahtlos mit Funktionen wie einem automatischen Bibliothekslader verknüpfen. Darüber hinaus ermöglicht die Integration von Robotern komplexe Tests wie Bauteilplatzierung und E-Test-Sondierung. Für Flexibilität und Skalierbarkeit verfügt J 750 E über mehrere Verarbeitungs-PCs mit einer umfassenden Software-Suite. Dadurch können mehrere Bediener verschiedene Aspekte der Produktionslinie gleichzeitig steuern und überwachen. Das Gerät bietet auch umfassende Konnektivität, einschließlich Unterstützung für OPC-Server, SNMP und IEEE 488.2. In Summe ist TERADYNE J 750 E ein abschließendes Testsystem, das entwickelt wurde, um Hochgeschwindigkeitstests für überlegenen Durchsatz und Genauigkeit anzubieten. Die breite Palette an Komponenten und Integrationsmöglichkeiten ermöglichen es, mit einer Vielzahl von Tests und Komponenten zu arbeiten. Darüber hinaus lässt sich die modulare Architektur leicht skalieren, um sich verändernde Produktionsanforderungen zu erfüllen. J750 E ist die perfekte Lösung für Produktionstests oder Validierungsanforderungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor