Gebraucht TERADYNE J750 E #9256207 zu verkaufen

TERADYNE J750 E Final Test Equipment ist die neueste Serie von Hochgeschwindigkeits-, kostengünstigen Wafer- und Komponenten-Testlösungen von TERADYNE. Es handelt sich um ein integriertes Schaltkreistestsystem (IC), das speziell für hochvolumige Produktionstests und Crashtests von Halbleiterprodukten entwickelt wurde. Dieser Gerätetester enthält eine Reihe fortschrittlicher Technologien, wie z. B. fortschrittliche Gerätediagnose, dynamische Testplanung und gemischte Spannungssteuerung, um Chipherstellern, Maschinenbauern und Testingenieuren eine effiziente Lösung zum Testen einer Vielzahl von IC-Typen und -Konfigurationen zu bieten. TERADYNE J750E ist in der Lage, Leiterplatten, ICs und andere Komponenten bis 800 MHz bei bis zu 10 Terabit pro Sekunde und mit maximal 1 Million Befehlen pro Sekunde zu testen. Es ist ein integriertes Werkzeug, bestehend aus Großrechner, Testkopf, EPM und verschiedenen unterstützenden Werkzeugen. Der Testkopf wurde entwickelt, um flexible und leistungsstarke Testfunktionen bereitzustellen, wodurch dieses Testgerät für Produktionsumgebungen gut geeignet ist. Die integrierte digitale I/O ermöglicht das Testen von gemischten Technologien wie RFID, LTE und anderen Hochgeschwindigkeitsschnittstellen. Es unterstützt auch eine Mischspannungsregelung, die eine Prüfung der Mischspannung in einem einzigen Testlauf ermöglicht, was einen höheren Wirkungsgrad ermöglicht. J 750 E verfügt über eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche, mit der Benutzer Testroutinen und Displays anpassen können. Das Modell verfügt über einen integrierten Linux-basierten Server, der eine sichere Umgebung für Gerätekonfigurationen, Datenerfassung und Fernteststeuerung bietet. Es verwendet auch intelligente, integrierte Algorithmen, um Testergebnisse besser vorherzusagen und zu optimieren, das Risiko von Fehlern zu verringern und Systemausfallzeiten zu reduzieren. J750 E Final Test Unit wurde entwickelt, um die Anforderungen der Hochvolumen-Halbleiter-Produktionslinien zu erfüllen. Es ist eine integrierte, schnelle und kostengünstige Testlösung, die eine umfassende und intuitive Lösung für Produktionstests und Crashtests von Halbleiterprodukten bietet. Es entfällt die Notwendigkeit mehrerer Testsysteme und reduziert den Zeitaufwand für die Testeinrichtung und -ausführung, was eine wesentlich effizientere Testmethode bietet.