Gebraucht TERADYNE J750 E #9256208 zu verkaufen
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ID: 9256208
Weinlese: 2008
Tester
1024 Pins
(8) HSD100
(4) DPS
XW8400 Workstation
2008 vintage.
TERADYNE J750 E Final Test Equipment ist eine der fortschrittlichsten, zuverlässigsten und benutzerfreundlichsten Testplattformen auf dem Markt. TERADYNE J750E ist ein ultrahochdichtes Produktionstestsystem, das für effiziente und kostengünstige Tests der fortschrittlichsten Halbleiterbauelemente von heute entwickelt wurde. Es bietet Ad-hoc-Testlösung und kostengünstige On-Wafer-Sondierung aufgrund seiner integrierten Prober-Fähigkeit und erweiterten Hardwarefunktionen. J 750 E Endprüfeinheit hat eine der branchenweit höchsten Geräteprüfkapazität für Hochserientest. Es kann mindestens 3000 Testkanäle (zusätzliche Kanäle mit Chipsatz-Aktivierung) mit 30 MHz Burst-Datenrate pro Kanal mit 40Gbps Datenströmen und 1 μ s Reaktionszeit liefern. Die Maschine nutzt die verfügbare Leistung effizienter durch den Einsatz einer hochparallelisierten Plattform mit jeweils 32 Datenknoten mit ihrem lokalen RAM-Repository und bietet enorme Parallelität, Skalierbarkeit der Funktionen und leistungsstarke Testoptionen. Darüber hinaus umfasst J750E Test-Tool integrierte parallele Software-Tools für effiziente Gerätedebug und Diagnose. Dazu gehören Visual DFT für hochgradig visuelles benutzerorientiertes Debugging und interaktives On-Wafer-Sondieren in Echtzeit. Ebenfalls enthalten ist die WLC Design Automation Software, die verwendet wird, um hochrangige Testprogramme aus einer grafischen Umgebung zu generieren und die IQ Fusion-Plattform für die automatisierte Erstellung von WLC (Wide Language Compilers) zu verwenden. Die Plattform integriert auch den Quantum Verifier (QV) für extrem schnelle und zuverlässige Testzeitzyklen unter Verwendung der Embedded Vector Utilization (EVU) Technologie. Der QV sorgt für eine schnelle Markteinführung neuer Produkte und bietet gleichzeitig eine komplett automatisierte und freihändige Testlösung. Darüber hinaus wird das Asset von der Vermögensverwaltung unterstützt, die gefertigte Wafer und Retests bei Bedarf zuverlässig verfolgt und überwacht. Dies hilft sicherzustellen, dass keine fehlenden oder falschen Tests stattfinden. Schließlich ist J750 endgültige Testmodell E kostengünstiger zu erweitern, dank seiner offenen Architektur-Design und eine hohe Dichte „schaltbare“ Multi Test-Board bietet Flexibilität für verschiedene Pakettypen und Port-Konfiguration. TERADYNE J 750 E Endprüfgeräte sind eine leistungsfähige und zuverlässige Lösung für die Prüfung der fortschrittlichsten Halbleiterbauelemente, die heute verfügbar sind. Mit integrierten Funktionen wie Visual DFT, WLC Design Automation Software, IQ Fusion, Quantum Verifier sowie Asset Management sorgt dieses schlanke Testsystem für maximale Effizienz und Wirtschaftlichkeit.
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